一种共面性检测设备进出料区防翻盘结构制造技术

本实用新型专利技术属于集成电路封装领域，具体公开一种共面性检测设备进出料区防翻盘结构包括：共面性检测设备和操作平台；操作平台设有进料区和出料区；进料区设有进料轨道、分离气缸和垫块；进料轨道两侧各设有两个分离气缸，分离气缸通过垫块固定在操作平台表面；出料区设有两条出料轨道；两条出料轨道出口末端均通过固定块固定设置有第一挡板；第一挡板垂直于出料轨道的轨道设置；第一挡板面向出料轨道的一面安装有限位块。进料区增加垫块使进料区料盘底部与进料轨道间高度增加，改善上料空间，避免上料导致翻盘异常的发生；改善后改机时技术员调试和确认分盘器间隙时间减少，提升改机效率；出料区增加挡板、固定块和限位块，防止料盘错位现象。盘错位现象。盘错位现象。

【技术实现步骤摘要】
一种共面性检测设备进出料区防翻盘结构


[0001]本技术属于集成电路封装领域，涉及一种共面性检测设备进出料区防翻盘结构。

技术介绍

[0002]目前封装行业中，共面性设备用于QFN\BGA\LGA产品的外观检测，外形尺寸测量，通过光源2D&3D VISION参数设置检测来判断产品是良品还是不良品，更能精准的保证产品质量，同时也释放了人力。
[0003]共面性检测设备在结构上设计上有部分局限性，进料区料盘底部与进料轨道高度太低，人员手动上料空间狭小，容易夹手，料盘位置放置不当，有造成设备翻盘的风险。分离器高度过低，可视范围较小，造成改机时技术员调试、确认分盘器间隙时间较长，严重影响设备、人员效率。
[0004]进料区料盘底部与进料轨道高度太低仅9mm，人员手动上料空间狭小，容易造成安全事故，料盘位置放置不当，有造成设备翻盘的风险。分离器高度过低，可视范围较小，造成改机时技术员调试&确认分盘器间隙时间较长，严重影响设备&人员效率。
[0005]出料区轨道(良品出料轨道和不良品出本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种共面性检测设备进出料区防翻盘结构，其特征在于，包括：共面性检测设备(1)和操作平台(2)；所述操作平台(2)设有进料区和出料区；所述进料区设有进料轨道(3)、分离气缸(6)和垫块(7)；所述进料轨道(3)两侧各设有两个分离气缸(6)，所述分离气缸(6)通过垫块(7)固定在操作平台(2)表面；所述出料区设有两条出料轨道；所述两条出料轨道出口末端均通过固定块(9)固定设置有第一挡板(8
‑
1)；所述第一挡板(8
‑
1)垂直于出料轨道的轨道设置；第一挡板(8
‑
1)面向出料轨道的一面安装有限位块(10)。2.根据权利要求1所述的一种共面性检测设备进出料区防翻盘结构，其特征在于，所述两条出料轨道分别为良品区出料轨道(4)和不良品区出料轨道(5)。3.根据权利要求1所述的一种共面性检测设备进出料区防翻盘结构，其特征在于，所述分离气缸(6)的长宽为2cm*2cm。4.根据权利要求1所述的一种共面性检测设备进出料区防翻盘结构，其特征在于，所述垫块(7)的长宽大于分离气缸(6)的底座，垫块(7)的长宽为5cm*2cm；垫块(7)的高度为16mm。5.根据权利要求1所述的一种共面性检测设备进出料区防翻盘结构，其特征在于，...

【专利技术属性】
技术研发人员：张瑞明，吴树彬，董楠，康耀林，马勉之，
申请(专利权)人：华天科技南京有限公司，
类型：新型
国别省市：