显示模组缺陷检测方法、系统及计算机可读存储介质技术方案

本发明专利技术揭示了一种显示模组缺陷检测方法、系统及计算机可读存储介质，所述方法包括：接收检测图像，调用预设模板图像执行特征匹配，生成表层缺陷图像和内层缺陷图像；分割并检测所述内层缺陷图像，生成至少一个内层缺陷区，并计算所述内层缺陷区的边缘清晰度值；若所述边缘清晰度值大于预设清晰度阈值，则标记所述内层缺陷区，并生成第一内层缺陷图像；若所述边缘清晰度值小于预设清晰度阈值，则对应生成第二内层缺陷图像。本发明专利技术提供的显示模组缺陷检测方法，通过先后执行特征匹配和边缘清晰度计算和标记，实现对显示模组表层和内层，以及多个内层之间的缺陷的分别检测和输出，如此降低漏检概率，便于后续检修。便于后续检修。便于后续检修。

【技术实现步骤摘要】
显示模组缺陷检测方法、系统及计算机可读存储介质


[0001]本专利技术涉及计算机视觉及目标检测
，尤其涉及一种显示模组缺陷检测方法、系统及计算机可读存储介质。

技术介绍

[0002]现有显示模组多采用三层贴合结构，主要包括CG(Cover Glass，玻璃盖板层)、TP(Touch Panel，触控层)以及LCM(Liquid Crystal Display Module，液晶显示层)，生产过程中，诸如灰尘、划痕、擦伤等的缺陷，往往会存在于三层贴合结构中的两两结合处，以及CG的表层处。现有技术中多采用表面光源打光，通过检测凹陷和突起不同的漫反射情况，从而区分不同缺陷并进行对应处理，但此种实施方式往往通过亮度作为评价参数，基于缺陷类型和CG、TP优秀的透过性，内在结构两两结合处的非突起异物难以反射形成区分亮度，如此会导致存在不良状况的显示模组发生漏检，同时也无法对缺陷在三层构造的显示模组中的具体位置进行区分，给后续维修处理造成了障碍。

技术实现思路

[0003]本专利技术的目的之一在于提供一种显示模组缺陷检测方法，以解决现有本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种显示模组缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括：接收检测图像，调用预设模板图像执行特征匹配，生成表层缺陷图像和内层缺陷图像；分割并检测所述内层缺陷图像，生成至少一个内层缺陷区，并计算所述内层缺陷区的边缘清晰度值；若所述边缘清晰度值大于预设清晰度阈值，则标记所述内层缺陷区，并生成第一内层缺陷图像；若所述边缘清晰度值小于预设清晰度阈值，则对应生成第二内层缺陷图像。2.根据权利要求1所述的显示模组缺陷检测方法，其特征在于，所述方法具体包括：遍历所述内层缺陷图像的像素灰度值，按照预设灰度阈值对所述像素灰度值进行分类，生成至少两类像素灰度集合；计算所述像素灰度集合的灰度子均值，以及所述像素灰度值的灰度总体均值，并以所述灰度子均值为变量计算灰度方差；分析得到并遍历所述内层缺陷图像的灰度级，求取使所述灰度方差最大的标准灰度级；根据所述标准灰度级对所述内层缺陷图像执行二值化分割，生成中间内层图像。3.根据权利要求2所述的显示模组缺陷检测方法，其特征在于，所述方法具体包括：遍历所述中间内层图像中所有像素，计算得到所述所有像素的融合近似值；根据所述融合近似值，分析提取所有边缘像素；根据所述所有边缘像素，对所述中间内层图像进行分割，生成至少一个内层缺陷区。4.根据权利要求3所述的显示模组缺陷检测方法，其特征在于，所述方法具体包括：根据预设的离散差分算子，对所述中间内层图像中第一像素，在至少两个方向上做平面卷积，得到至少两个差分近似值；根据所述至少两个差分近似值，计算融合近似值；若所述融合近似值大于预设的标准梯度值，则判定所述第一像素为边缘像素。5.根据权利要求3所述的显示模组缺陷检测方法，其特征在于，所述方法具体包括：遍历所述所有边缘像素，根据所述边缘像素，以及与所述边缘像素相邻的相邻像素的灰度值，计算得到所述内层缺陷区的所有边缘灰度评价值；叠加...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵同印，王涛，
申请(专利权)人：苏州华兴源创科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：