一种TF卡存储器组合测试架制造技术

本实用新型专利技术公开了一种TF卡存储器组合测试架，包括架体，所述架体的上表面设置有显示屏与触控板，所述架体的上表面开设有第一卡槽，所述第一卡槽的内部设置有磁吸条，所述第一卡槽的表面开设有测试槽，所述测试槽的数量为多个，多个所述测试槽的内部均设置有检测引脚，所述架体的上部还设置有盖板；本实用通过设置的测试槽以及相匹配的辅助结构，提供了按压的槽口式固定结构，采用凹槽限位，顶部按压的结构进行固定，通过金属条与磁吸条之间的磁性吸附进行稳定，并且外部结构均采用绝缘塑料，有效避免金属材料以及磁性材料造成的影响，整体结构安装更加方便，避免了插接式或者卡扣时结构对TF卡造成的损坏。卡扣时结构对TF卡造成的损坏。卡扣时结构对TF卡造成的损坏。

【技术实现步骤摘要】
一种TF卡存储器组合测试架


[0001]本技术涉及TF测试架领域，具体为一种TF卡存储器组合测试架。

技术介绍

[0002]TF卡又称Micro SD卡，是由SanDisk公司专利技术的一种极细小的闪存卡。它主要应用于手机，且是功能机必搭存储卡，又因其拥有体积极小的优点，随着不断提升的容量，它慢慢开始在GPS设备、便携式音乐播放器和一些闪存盘中使用。
[0003]TF卡在进行测试时，通常采用TF卡测试架进行测试，现有的TF测试架结构为插槽结构或者卡扣结构，此种方式需要对TF卡进行多次插拔，容易对TF卡的金手指造成磨损，存在一定的使用问题。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种TF卡存储器组合测试架，以解决现有结构长期插拔所造成的TF卡金手指磨损的问题。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种TF卡存储器组合测试架，包括架体，所述架体的上表面设置有显示屏与触控板，所述架体的上表面开设有第一卡槽，所述第一卡槽的内部设置有磁吸条，所述第一卡槽的表面开设有测试槽，所述测试槽的数量为多个，多个所本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种TF卡存储器组合测试架，包括架体(10)，所述架体(10)的上表面设置有显示屏(11)与触控板(12)，其特征在于：所述架体(10)的上表面开设有第一卡槽(13)，所述第一卡槽(13)的内部设置有磁吸条(14)，所述第一卡槽(13)的表面开设有测试槽(15)，所述测试槽(15)的数量为多个，多个所述测试槽(15)的内部均设置有检测引脚(16)，所述架体(10)的上部还设置有盖板(20)。2.根据权利要求1所述的一种TF卡存储器组合测试架，其特征在于：所述盖板(20)的下表面开设有第二卡槽(21)，所述第二卡槽(21)的内部粘合有金属条(23)，所述盖板(20)的下表面还固定安装有压片(22)，所述压片(22)的数量为多个。3.根据权利要求2所述的一种TF卡存储器组合测试架，...

【专利技术属性】
技术研发人员：李锦光，
申请(专利权)人：广东全芯半导体有限公司，
类型：新型
国别省市：