读写校准方法和电路技术

本申请提出一种读写校准方法和电路，该方法包括：根据读写一致性数据对工作于不同的第一相位下的存储控制器的读写准确性分别进行验证，第一相位为提供给所述存储控制器的第一时钟信号的相位；当验证通过时，将第一相位与第二相位的相位差作为候选相位差，其中，第二相位为提供给所述存储模块的第二时钟信号的相位；按照预设规则从候选相位差中选取一目标相位差，对存储控制器的第一时钟信号进行调节，使存储控制器工作在目标相位差对应的第一相位下。本申请通过自动调节第一相位与第二相位的相位差以验证不同第一相位下存储控制器的读写准确性，以找出最优相位差，以对存储控制器的读写准确性进行自动校准，保证读写数据的正确性。的正确性。的正确性。

【技术实现步骤摘要】
读写校准方法和电路


[0001]本申请涉及存储器
，尤其涉及一种读写校准方法和电路。

技术介绍

[0002]存储器由于体积以及功耗的优势，广泛运用于手机、电子词典等消费类电子产品，存储器的读写准确性决定了电子产品的性能。因此，在存储器芯片的设计和生产过程中需要操作存储器颗粒，以保证存储器读写的正确性。对于传统的存储控制器，在不同时钟频率下，需要手动对存储控制器的时钟通道或数据通道进行延时调节，进而调节存储器控制器的时钟信号与存储器的时钟信号之间的相位差，以保证读写数据的正确性，费时费力，并且不够灵活和可靠。

技术实现思路

[0003]为了解决现有技术中的对存储器进行延时调节时需要手动调节，费时费力且准确度不高的技术问题。本申请提供了一种读写校准方法和电路，其主要目的在于自动找出存储控制器与存储模块的最优相位差，以对存储控制器的读写准确性进行校准。
[0004]为实现上述目的，本申请提供了一种读写校准方法，该方法包括：
[0005]根据读写一致性数据对工作于不同的第一相位下的存储控制器的读写准确性分别进行验证本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种读写校准方法，应用于校准模块，所述校准模块与存储控制器连接，其特征在于，所述方法包括：根据读写一致性数据对工作于不同的第一相位下的存储控制器的读写准确性分别进行验证，所述读写一致性数据包括：工作于所述第一相位下从存储模块的同一个存储地址读出的数据与写入的数据是否相同，其中，所述第一相位为提供给所述存储控制器的第一时钟信号的相位；当工作于所述第一相位下的存储控制器的读写准确性验证通过时，将所述第一相位与所述存储模块所工作的第二相位的相位差作为候选相位差，其中，所述第二相位为提供给所述存储模块的第二时钟信号的相位；按照预设规则从所述候选相位差中选取一目标相位差；对所述存储控制器的第一时钟信号的第一相位进行调节，使所述存储控制器工作在所述目标相位差对应的第一相位下。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据读写一致性数据对验证工作于不同的第一相位下的存储控制器的读写准确性分别进行验证，包括：针对当前第一相位，控制存储控制器在当前第一相位下向工作于所述第二相位下的存储模块的任一可用地址写入数据；控制存储控制器在所述当前第一相位下从工作于所述第二相位下的存储模块的所述可用地址读取数据；比较所述存储控制器在所述当前第一相位下写入的数据与读出的数据是否相同；对工作于所述当前第一相位下的存储控制器的读写准确性验证的验证次数进行累加；若所述存储控制器在所述当前第一相位下写入的数据与读出的数据相同且累加的验证次数未达到预设验证次数，则循环执行所述控制存储控制器在当前第一相位下向工作于所述第二相位下的存储模块的任一可用地址写入数据的步骤至所述对工作于所述当前第一相位下的存储控制器的读写准确性验证的验证次数进行累加的步骤；若所述存储控制器在所述当前第一相位下写入的数据与读出的数据相同且累加的验证次数达到所述预设验证次数，则结束对工作于所述当前第一相位下的存储控制器的读写准确性验证；若所述存储控制器在所述当前第一相位下写入的数据与读取的数据不同，则结束对工作于所述当前第一相位下的存储控制器的读写准确性验证。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述第一相位为所述第二相位与当前相位差之和，所述当前相位差为上一个相位差与预设的扫描窗口之和，所述当前相位差的初始值为预设的初始相位差，所述当前相位差小于或等于截止相位差；所述结束对工作于所述当前第一相位下的存储控制器的读写准确性能力验证之后，还包括：若所述当前第一相位与所述第二相位之间的当前相位差不为截止相位差，则对所述当前相位差按照扫描窗口进行扫描得到下一个相位差；根据所述下一个相位差和所述第二相位之和得到下一个第一相位，根据所述下一个第一相位对当前第一相位进行更新；根据更新后的当前第一相位对所述第一时钟信号的相位进行调节，使所述存储控制器
工作于更新后的当前第一相位；若所述当前第一相位与所述第二相位之间的当前相位差为截止相位差，则结束验证工作于不同的第一相位下的存储控制器的读写准确性。4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述当工作于所述第一相位下的存储控制器的读写准确性验证通过时，将所述第一相位与所述存储模块所工作的第二相位的相位差作为候选相位差，包括：当所述累加的验证次数达到预设验证次数且每次验证所述存储控制器写入的数据与读出的数据均相同时，工作于所述第一相位下的存储控制器的读写准确性验证通过；将所述存储控制器所工作的当前第一相位与所述存储模块所工作的第二相位的相位差作为候选相位差。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述按照预设规则从所述候选相位差中选取一目标相位差，包括：从所述候选相位差中选取一个或多个连续相位差序列，其中，所述连续相位差序列中每相邻的两个所述候选相位差之差为预设的扫描窗口；选取所述候选相位差数量最多的连续相位差序列，将选取的所述连续相位差序列中相位差为中间值的候选相位差为目标相位差。6.一种读写校准电路，其特征在于，所述电路包括连接的时钟模...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘兴宗，彭祥吉，
申请(专利权)人：深圳市紫光同创电子有限公司，
类型：发明
国别省市：