一种耳机底噪量化测量方法、电子设备、存储介质及程序产品技术

本发明专利技术提供一种耳机底噪量化测量方法，包括以下步骤：获取静音室本底噪声，测试静音室环境的频率响应数据；获取耳机噪声，测试在静音室播放无声音源时的频率响应数据；底噪量化，将静音室环境的频率响应数据与在静音室播放无声音源时的频率响应数据进行比对，得到耳机底噪的相对大小。本发明专利技术涉及一种电子设备、存储介质和程序产品。本发明专利技术用于TWS耳机领域的性能测量，通过量化指标测量TWS耳机的整机底噪，通过数据来客观判断TWS的底噪相对环境的大小，能够准确分辨良品和次品，便于研发人员改善产品性能。员改善产品性能。员改善产品性能。

【技术实现步骤摘要】
一种耳机底噪量化测量方法、电子设备、存储介质及程序产品


[0001]本专利技术涉及耳机性能测量
，尤其涉及一种耳机底噪量化测量方法、电子设备、存储介质及程序产品。

技术介绍

[0002]一对TWS耳机(也叫真无线蓝牙耳机)，包括主耳机和从耳机，主耳机和从耳机内分别设置有蓝牙芯片，在听音频的过程中，主耳机通过蓝牙芯片与用户终端(智能手机、平板电脑等)进行蓝牙通信，从终端处获取音频，然后通过蓝牙将音频传输给从耳机，对主耳机和从耳机进行蓝牙同步，实现主耳机和从耳机同时播放音频。
[0003]目前TWS耳机的底噪判断主要有两种方法。方法一：在PCBA时通过AP仪器判断喇叭电信号或示波器电压纹波大小判断电路板的底噪。方法二：整机时，在静音室通过人耳主观判断底噪大小。TWS耳机集成度高，除电路板影响外，底噪还受结构、软件、装配等因素影响。当耳机已完成装配时，方法一无法测量。而方法二通过人主观判断，不能准确细化出影响的原因，不便于改善产品。

技术实现思路

[0004]为了克服现有技术的不足，本专利技术的目的在于提供一种耳机底噪量本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种耳机底噪量化测量方法，其特征在于，包括以下步骤：获取静音室本底噪声，测试静音室环境的频率响应数据；获取耳机噪声，测试在静音室播放无声音源时的频率响应数据；底噪量化，将所述静音室环境的频率响应数据与所述在静音室播放无声音源时的频率响应数据进行比对，得到耳机底噪的相对大小。2.如权利要求1所述的一种耳机底噪量化测量方法，其特征在于：所述获取静音室本底噪声步骤中，通过人工耳测试静音室环境的频率响应数据。3.如权利要求2所述的一种耳机底噪量化测量方法，其特征在于：所述静音室环境的频率响应数据为20hz
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20khz的频率响应数据。4.如权利要求2所述的一种耳机底噪量化测量方法，其特征在于：所述获取耳机噪声步骤包括：将耳机的喇叭出音位置对准人工耳；耳机与终端通信连接，终端播放无声音源，测试频率响应数据。5.如权利要求4所述的一种耳机底噪量化测量方法，其特征在于：所述在静音室播放无声音源时的频率响应数据为20hz
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20khz的频...

【专利技术属性】
技术研发人员：宋余生，巢坚，李东科，张金龙，李志洪，
申请(专利权)人：深圳市奋达科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：