【技术实现步骤摘要】
高可靠性光波长测量系统
[0001]本技术涉及一种高可靠性光波长测量系统,属于光波长检测
技术介绍
[0002]现有的光波长干涉标准具由于受限于横向尺寸、线阵光电探测器的像元数量、信号噪音和计算精度等因素影响,采用一个干涉标准具较难在宽光谱范围(几百纳米)实现pm级和更高的测量精度。为了解决宽测量范围和高测量精度之间的矛盾,研发检测光谱范围宽且测量精度高的光波长测量系统对光领域的发展是至关重要的。
技术实现思路
[0003]本技术的目的是提供一种高可靠性光波长测量系统,此高可靠性光波长测量系统在不增加光路尺寸的同时,检测的光谱范围宽且测量精度高,达到了pm级测量精度,也降低了成本,同时避免了检测精度的漂移,提高了检测精度的一致性和可靠性。
[0004]为达到上述目的,本技术采用的技术方案是:一种高可靠性光波长测量系统,包括:位于壳体内的光输入端口、遮光罩、光束准直器、第一平板玻璃、第二平板玻璃、至少2个柱透镜和至少2个线性光电探测器,所述第一平板玻璃与第二平板玻璃之间设置有一中央具有镂空区且 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种高可靠性光波长测量系统,其特征在于:包括:位于壳体(11)内的光输入端口(1)、遮光罩(2)、光束准直器(3)、第一平板玻璃(4)、第二平板玻璃(5)、至少2个柱透镜(6)和至少2个线性光电探测器(7),所述第一平板玻璃(4)与第二平板玻璃(5)之间设置有一中央具有镂空区且带有楔角的隔离框(8),从而形成一密封腔,所述第一平板玻璃(4)的前表面与第二平板玻璃(5)的后表面相向设置;所述第一平板玻璃(4)的前表面一侧设置有至少一个厚度且位于密封腔内的小平板玻璃(9),前表面另一侧具有一第一反射层(101),所述小平板玻璃(9)的厚度小于隔离框(8)的厚度,所述第二平板玻璃(5)的后表面具有第二反射层(102),所述小平板玻璃(9)与第二平板玻璃(5)相向的表面具有第三反射层(1...
【专利技术属性】
技术研发人员:胡海洋,金镖,黄建军,廉哲,
申请(专利权)人:苏州联讯仪器有限公司,
类型:新型
国别省市:
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