一种半导体晶片探针测试设备制造技术

本实用新型专利技术涉及探针测试仪技术领域，具体为一种半导体晶片探针测试设备，包括测试仪和调节装置，所述测试仪的表面固定安装检测台，所述测试仪的表面均匀固定安装有三个显示屏，所述测试仪的表面均匀电性连接有若干个按钮，所述测试仪的表面设有调节装置，所述调节装置包括两个限位框，两个所述限位框均与测试仪的表面固定连接。本实用新型专利技术，通过设置调节装置，对测试仪的高度进行调节，方便了较高工作人员对于测试仪的使用，降低了工作人员的工作劳度，提高了工作人员的工作效率。提高了工作人员的工作效率。提高了工作人员的工作效率。

【技术实现步骤摘要】
一种半导体晶片探针测试设备


[0001]本技术涉及探针测试仪
，尤其涉及一种半导体晶片探针测试设备。

技术介绍

[0002]探针测试仪是电子加工厂中针对半导体晶片进行测试的设备，可对半导体晶片的电阻率等性能进行检测，从而可检测出生产的产品是否合格，是电子加工厂中重要的测试设备。
[0003]现探针测试设备大多由检测台及测试仪两大部分组成，其测试仪的结构比较单一，而工作人员的身高各有不同，较高的工作人员需要俯身较大角度对半导体晶片进行检测，从而增加了工作人员的工作劳度。

技术实现思路

[0004]本技术的目的是为了解决较高人员使用检测仪时俯身较大角度工作会增加工作人员工作劳度的问题，而提出的一种半导体晶片探针测试设备。
[0005]为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：一种半导体晶片探针测试设备，包括测试仪和调节装置，所述测试仪的表面固定安装检测台，所述测试仪的表面均匀固定安装有三个显示屏，所述测试仪的表面均匀电性连接有若干个按钮，所述测试仪的表面设有调节装置，所述调节装置包括两个限位框，两个所述限位框均与本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种半导体晶片探针测试设备，包括测试仪(1)和调节装置(5)，其特征在于：所述测试仪(1)的表面固定安装检测台(2)，所述测试仪(1)的表面均匀固定安装有三个显示屏(3)，所述测试仪(1)的表面均匀电性连接有若干个按钮(4)，所述测试仪(1)的表面设有调节装置(5)，所述调节装置(5)包括两个限位框(507)，两个所述限位框(507)均与测试仪(1)的表面固定连接，所述限位框(507)的表面滑动连接有滑架(62)，所述滑架(62)的表面固定连接有支撑架(501)，所述限位框(507)的表面开设有若干个定位孔(508)，滑框(506)的内部滑动连接有限位杆(504)，所述限位杆(504)位于滑框(506)内壁的一端固定连接有定位销(509)，所述定位销(509)的尺寸与定位孔(508)的尺寸相适配。2.根据权利要求1所述的一种半导体晶片探针测试设备，其特征在于：所述限位杆(504)远离定位销(509)的一侧转动连接有拉环(505)，若干个所述定位孔(508)线性排列在限位框(507)的表面。3.根据权利要求2所述的一种半导体晶片探针测试设备，其特征在于：所述限位杆(504...

【专利技术属性】
技术研发人员：程波，程鹏，
申请(专利权)人：无锡晶名光电科技有限公司，
类型：新型
国别省市：