一种半导体晶片探针测试设备制造技术

本实用新型专利技术涉及探针测试仪技术领域，具体为一种半导体晶片探针测试设备，包括测试仪和调节装置，所述测试仪的表面固定安装检测台，所述测试仪的表面均匀固定安装有三个显示屏，所述测试仪的表面均匀电性连接有若干个按钮，所述测试仪的表面设有调节装置，所述调节装置包括两个限位框，两个所述限位框均与测试仪的表面固定连接。本实用新型专利技术，通过设置调节装置，对测试仪的高度进行调节，方便了较高工作人员对于测试仪的使用，降低了工作人员的工作劳度，提高了工作人员的工作效率。提高了工作人员的工作效率。提高了工作人员的工作效率。

【技术实现步骤摘要】
一种半导体晶片探针测试设备


[0001]本技术涉及探针测试仪
，尤其涉及一种半导体晶片探针测试设备。

技术介绍

[0002]探针测试仪是电子加工厂中针对半导体晶片进行测试的设备，可对半导体晶片的电阻率等性能进行检测，从而可检测出生产的产品是否合格，是电子加工厂中重要的测试设备。
[0003]现探针测试设备大多由检测台及测试仪两大部分组成，其测试仪的结构比较单一，而工作人员的身高各有不同，较高的工作人员需要俯身较大角度对半导体晶片进行检测，从而增加了工作人员的工作劳度。

技术实现思路

[0004]本技术的目的是为了解决较高人员使用检测仪时俯身较大角度工作会增加工作人员工作劳度的问题，而提出的一种半导体晶片探针测试设备。
[0005]为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：一种半导体晶片探针测试设备，包括测试仪和调节装置，所述测试仪的表面固定安装检测台，所述测试仪的表面均匀固定安装有三个显示屏，所述测试仪的表面均匀电性连接有若干个按钮，所述测试仪的表面设有调节装置，所述调节装置包括两个限位框，两个所述限位框均与测试仪的表面固定连接，所述限位框的表面滑动连接有滑架，所述滑架的表面固定连接有支撑架，所述限位框的表面开设有若干个定位孔，滑框的内部滑动连接有限位杆，所述限位杆位于滑框内壁的一端固定连接有定位销，所述定位销的尺寸与定位孔的尺寸相适配。将定位销插入不同定位孔的内壁，即可实现对支撑架位置进行移动后的固定。
[0006]优选的，所述限位杆远离定位销的一侧转动连接有拉环，若干个所述定位孔线性排列在限位框的表面。拉环的设置方便了工作人员对于限位杆的控制。
[0007]优选的，所述限位杆位于限位销和滑框之间的表面套有弹簧，所述弹簧的两端分别与定位销和滑框固定连接。弹簧的设置具有驱动定位销卡进定位孔内壁的效果。
[0008]优选的，所述支撑架的端侧固定连接有圆形片，所述圆形片的表面胶接有橡胶块，所述橡胶块呈半球状结构。橡胶块的设置不仅增大了支撑架与桌面之间的摩擦力，而且避免了调节测试仪时，支撑架会对工作台造成挤压导致工作台台面损伤的情况。
[0009]优选的，所述测试仪的表面设有辅助装置，所述辅助装置包括两个导轨架，两个所述导轨架均与测试仪的表面固定连接，两个所述导轨架的表面滑动连接有滑架，所述滑架的内部滑动连接有压杆。将滑架滑动至需要按动按钮的位置，按压压杆即可实现对按钮的操控。
[0010]优选的，所述压杆的端侧固定连接有压块，压杆远离压块的一端固定连接有圆形块。压块的设置方便了对压杆的施压，圆形块的设置避免了压杆从滑架内部脱出的情况。
[0011]优选的，所述压杆的表面套有塔簧，所述弹簧的两端分别与压块和滑架固定连接。
塔簧的设置具有驱动压块向远离滑架方向进行移动的效果。
[0012]与现有技术相比，本技术的优点和积极效果在于：
[0013]1、本技术中，通过设置调节装置，当需要对测试仪的高度进行调节时，倾斜测试仪，橡胶块不仅起到了对工作台台面的防护效果，而且提高了测试仪倾斜的稳定性，此时工作人员可拉动拉环，拉环会带动限位杆在滑框的内部滑动，当定位销从定位孔的内壁抽出时，可在限位框的内部滑动滑框，将滑框滑动至合适位置后，松开拉环，定位销会受到滑框内壁弹簧弹力的作用卡进限位框上对应定位孔的内壁，从而完成了对于支撑架位置调节后的固定，同样可滑动检测台另一侧的支撑架位置进行调节，进一步完成了对于测试仪高度的调节，方便了不同身高工作人员对于测试仪的使用，通过设置调节装置，对测试仪的高度进行调节，方便了较高工作人员对于测试仪的使用，降低了工作人员的工作劳度，提高了工作人员的工作效率。
[0014]2、本技术中，通过设置辅助装置，当工作人员需要对测试仪上的按钮进行操作时，可滑动导轨架上的滑架，将滑架滑动至需要按压按钮的位置，按压压块，压块会带动压杆在滑架的内部滑动，压杆上的圆形块会对按钮进行施压，从而可达到对于测试仪上按钮的操控，避免了按钮结构较小且排列较为紧密，会导致工作人员在操作按钮时误触到旁边按钮的问题，松开压块，压块会受到滑架上塔簧弹力的作用带动压杆复位，此时圆形块和按钮之间留有缝隙，方便了对于滑架的滑动，通过设置辅助装置，方便了工作人员对于紧密排列在测试仪上按钮的正常操作。
附图说明
[0015]图1为本技术提出一种半导体晶片探针测试设备的立体结构示意图；
[0016]图2为本技术提出一种半导体晶片探针测试设备中调节装置的结构示意图；
[0017]图3为本技术提出一种半导体晶片探针测试设备中图2的A处结构示意图；
[0018]图4为本技术提出一种半导体晶片探针测试设备中辅助装置的结构示意图；
[0019]图5为本技术提出一种半导体晶片探针测试设备中图4的B处结构示意图。
[0020]图例说明：
[0021]1、测试仪；2、检测台；3、显示屏；4、按钮；5、调节装置；501、支撑架；502、圆形片；503、橡胶块；504、限位杆；505、拉环；506、滑框；507、限位框；508、定位孔；509、定位销；510、弹簧；6、辅助装置；61、导轨架； 62、滑架；63、压块；64、塔簧；65、压杆；66、圆形块。
具体实施方式
[0022]为了能够更清楚地理解本技术的上述目的、特征和优点，下面结合附图和实施例对本技术做进一步说明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
[0023]在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本技术，但是，本技术还可以采用不同于在此描述的其他方式来实施，因此，本技术并不限于下面公开说明书的具体实施例的限制。
[0024]请参阅图1
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5，本技术提供一种技术方案：一种半导体晶片探针测试设备，包括测试仪1和调节装置5，测试仪1的表面固定安装检测台2，测试仪1的表面均匀固定安装有
三个显示屏3，测试仪1的表面均匀电性连接有若干个按钮4，测试仪1的表面设有调节装置5，测试仪1的表面设有辅助装置6。
[0025]下面具体说一下其调节装置5和辅助装置6的具体设置和作用。
[0026]本实施方案中：调节装置5包括两个限位框507，两个限位框507均与测试仪 1的表面固定连接，限位框507的表面滑动连接有滑架62，滑架62的表面固定连接有支撑架501，限位框507的表面开设有若干个定位孔508，滑框506的内部滑动连接有限位杆504，限位杆504位于滑框506内壁的一端固定连接有定位销509，定位销509的尺寸与定位孔508的尺寸相适配。将定位销509插入不同定位孔508 的内壁，即可实现对支撑架501位置进行移动后的固定。
[0027]具体的，限位杆504远离定位销509的一侧转动连接有拉环505，若干个定位孔508线性排列在限位框507的表面。拉环505的设置方便了工作本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种半导体晶片探针测试设备，包括测试仪(1)和调节装置(5)，其特征在于：所述测试仪(1)的表面固定安装检测台(2)，所述测试仪(1)的表面均匀固定安装有三个显示屏(3)，所述测试仪(1)的表面均匀电性连接有若干个按钮(4)，所述测试仪(1)的表面设有调节装置(5)，所述调节装置(5)包括两个限位框(507)，两个所述限位框(507)均与测试仪(1)的表面固定连接，所述限位框(507)的表面滑动连接有滑架(62)，所述滑架(62)的表面固定连接有支撑架(501)，所述限位框(507)的表面开设有若干个定位孔(508)，滑框(506)的内部滑动连接有限位杆(504)，所述限位杆(504)位于滑框(506)内壁的一端固定连接有定位销(509)，所述定位销(509)的尺寸与定位孔(508)的尺寸相适配。2.根据权利要求1所述的一种半导体晶片探针测试设备，其特征在于：所述限位杆(504)远离定位销(509)的一侧转动连接有拉环(505)，若干个所述定位孔(508)线性排列在限位框(507)的表面。3.根据权利要求2所述的一种半导体晶片探针测试设备，其特征在于：所述限位杆(504...

【专利技术属性】
技术研发人员：程波，程鹏，
申请(专利权)人：无锡晶名光电科技有限公司，
类型：新型
国别省市：