本公开涉及一种射频测试装置，包括测试本体以及测试线；所述测试本体的一端具有用于与待测射频开关接触以对所述待测射频开关进行测试的测试探针，所述测试本体的另一端具有第一连接部；所述测试线的靠近所述测试本体的一端具有第二连接部，所述第二连接部可与所述第一连接部插接，以使所述测试探针与所述测试线电连接；所述测试本体和所述测试线之间还设置有锁紧结构，所述锁紧结构用于在所述第一连接部和所述第二连接部插接时，防止所述测试线和所述测试本体松脱。通过上述技术方案，本公开提供的射频测试装置，当测试本体沿其轴向移动进行测试时，能够有效避免测试线与测试本体脱离的现象发生，从而使测试工作能够正常顺利地进行。进行。进行。
【技术实现步骤摘要】
射频测试装置
[0001]本公开涉及产品测试
，尤其涉及一种射频测试装置。
技术介绍
[0002]目前在移动通讯等设备的测试中例如手机，通常是将射频测试装置与手机主板上的射频开关连接，用于评估从天线传输的数据的完整性，从而使设计师或试验工程师确定手机中的天线工作是否正确无误。
[0003]射频测试装置包括测试本体和测试线，该测试本体的一端具有测试探针，该测试本体的另一端和测试线通过公头和母头可插拔地连接在一起；测试时，测试本体在外力的作用下会沿朝向靠近待测射频开关的方向即沿测试本体的轴向移动，以使测试探针与待测射频开关的弹片接触，进而使测试探针与测试线电连接。
[0004]然而，在测试过程中，由于测试本体会沿其轴向移动，导致公头和母头之间容易脱离，从而导致测试工作不能正常进行。
技术实现思路
[0005]为了解决上述技术问题或者至少部分地解决上述技术问题，本公开提供了一种射频测试装置。
[0006]本公开提供了一种射频测试装置，包括测试本体以及测试线；所述测试本体的一端具有用于与待测射频开关接触以对所述待测射频开关进行测试的测试探针，所述测试本体的另一端具有第一连接部；所述测试线的靠近所述测试本体的一端具有第二连接部，所述第二连接部可与所述第一连接部插接，以使所述测试探针与所述测试线电连接；
[0007]所述测试本体和所述测试线之间还设置有锁紧结构，所述锁紧结构用于在所述第一连接部和所述第二连接部插接时，防止所述测试线和所述测试本体松脱。
[0008]进一步地，所述锁紧结构包括第一锁紧部以及与所述第一锁紧部匹配的第二锁紧部；所述第一锁紧部设置在所述测试线的靠近所述测试本体的一端上，所述第二锁紧部设置在所述测试本体的另一端上，所述第一锁紧部用于在所述第一连接部和所述第二连接部插接时，与所述第二锁紧部锁紧。
[0009]进一步地，所述第一锁紧部包括插杆以及设置在所述插杆上的卡帽，所述插杆固定在所述测试线的靠近所述测试本体的一端上；所述第二锁紧部包括与所述插杆匹配的插槽以及与所述卡帽匹配的卡孔，所述插槽设置在所述测试本体的另一端上，所述卡孔开设在所述插槽的槽壁上；所述插杆伸入至所述插槽内时，所述卡帽与所述卡孔卡接，以将所述测试线和所述测试本体锁紧。
[0010]进一步地，所述插杆至少为两个，至少两个所述插杆沿所述测试线的周向间隔设置在所述测试线的靠近所述测试本体的一端上；所述插槽至少为两个，至少两个所述插槽沿所述测试本体的周向间隔设置在所述测试本体的另一端上，一个所述插杆对应一个所述插槽。
[0011]进一步地，所述测试本体的另一端上设置有固定块，所述插槽开设在所述固定块上，所述卡孔为开设在所述固定块的远离所述测试本体一面上的通孔。
[0012]进一步地，所述测试本体的侧壁上还设置有推杆，所述推杆对应所述卡孔的位置处设置有与所述卡孔匹配的推块；所述推杆可沿朝向靠近所述测试本体的方向移动，以使所述推块伸入至所述卡孔中，以将所述卡孔内的所述卡帽推出。
[0013]进一步地，所述测试本体的具有所述测试探针的一端还设置有缓冲结构，所述缓冲结构用于固定所述待测射频开关。
[0014]进一步地，所述缓冲结构包括相对设置的第一连接板和第二连接板以及设置在所述第一连接板和所述第二连接板之间的伸缩杆；所述第一连接板围设在所述测试本体的外壁上，所述第二连接板上具有与所述待测射频开关匹配的避让孔，所述待测射频开关能够贯穿所述避让孔并与所述第二连接板可拆卸连接；所述伸缩杆的一端固定在所述第一连接板上，所述伸缩杆的另一端固定在所述第二连接板上，所述伸缩杆能够沿轴向移动，以使所述测试探针与所述待测射频开关可插拔地连接。
[0015]进一步地，所述缓冲结构还包括弹性件，所述弹性件的一端固定在所述第一连接板上，所述弹性件的另一端固定在所述第二连接板上；
[0016]所述弹性件围设在所述伸缩杆的外壁上。
[0017]进一步地，所述测试本体的外壁上设置有用于带动所述测试本体轴向移动的把手；所述把手为围设在所述测试本体外壁上的环形凸缘。
[0018]本公开实施例提供的技术方案与现有技术相比具有如下优点：
[0019]本公开提供的射频测试装置，通过设置测试本体以及测试线，其中，测试本体的一端具有用于与待测射频开关接触以对待测射频开关进行测试的测试探针，测试本体的另一端具有第一连接部，测试线的靠近测试本体的一端具有第二连接部，第二连接部可与第一连接部插接，以使测试探针与测试线电连接；在测试本体和测试线之间还设置有锁紧结构，锁紧结构用于在第一连接部和第二连接部插接时，防止测试线和测试本体松脱。具体使用时，将第一连接部和第二连接部插设连接，即可将测试本体与测试线连接在一起，由于在测试本体和测试线之间还设置有锁紧结构，因此，测试线可以锁紧固定在测试本体上，也就是说，两者相对固定不会分离，基于此，当测试本体沿其轴向移动进行测试时，能够有效避免测试线与测试本体脱离的现象发生，从而使测试工作能够正常顺利地进行。
附图说明
[0020]此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本公开的实施例，并与说明书一起用于解释本公开的原理。
[0021]为了更清楚地说明本公开实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0022]图1为本公开实施例所述射频测试装置的结构示意图；
[0023]图2为本公开实施例所述射频测试装置的锁紧结构的局部示意图；
[0024]图3为图2中A部的放大图；
[0025]图4为本公开实施例所述射频测试装置的缓冲结构的局部示意图。
[0026]其中，1、测试本体；11、测试探针；12、第一连接部；2、测试线；21、第二连接部；3、锁紧结构；31、第一锁紧部；311、插杆；312、卡帽；32、第二锁紧部；321、插槽；322、卡孔；4、固定块；5、推杆；51、推块；6、缓冲结构；61、第一连接板；62、第二连接板；63、伸缩杆；64、弹性件；7、把手；8、待测射频开关；9、PCB板。
具体实施方式
[0027]为了能够更清楚地理解本公开的上述目的、特征和优点，下面将对本公开的方案进行进一步描述。需要说明的是，在不冲突的情况下，本公开的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
[0028]在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本公开，但本公开还可以采用其他不同于在此描述的方式来实施；显然，说明书中的实施例只是本公开的一部分实施例，而不是全部的实施例。
[0029]参考图1至图4中所示，本实施例提供一种射频测试装置，包括测试本体1以及测试线2；测试本体1的一端具有用于与待测射频开关8接触以对待测射频开关8进行测试的测试探针11，测试本体1的另一端具有第一连接部12；测试线2的靠近测试本本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种射频测试装置，其特征在于，包括测试本体(1)以及测试线(2)；所述测试本体(1)的一端具有用于与待测射频开关(8)接触以对所述待测射频开关(8)进行测试的测试探针(11)，所述测试本体(1)的另一端具有第一连接部(12)；所述测试线(2)的靠近所述测试本体(1)的一端具有第二连接部(21)，所述第二连接部(21)可与所述第一连接部(12)插接，以使所述测试探针(11)与所述测试线(2)电连接；所述测试本体(1)和所述测试线(2)之间还设置有锁紧结构(3)，所述锁紧结构(3)用于在所述第一连接部(12)和所述第二连接部(21)插接时，防止所述测试线(2)和所述测试本体(1)松脱。2.根据权利要求1所述的射频测试装置，其特征在于，所述锁紧结构(3)包括第一锁紧部(31)以及与所述第一锁紧部(31)匹配的第二锁紧部(32)；所述第一锁紧部(31)设置在所述测试线(2)的靠近所述测试本体(1)的一端上，所述第二锁紧部(32)设置在所述测试本体(1)的另一端上，所述第一锁紧部(31)用于在所述第一连接部(12)和所述第二连接部(21)插接时，与所述第二锁紧部(32)锁紧。3.根据权利要求2所述的射频测试装置，其特征在于，所述第一锁紧部(31)包括插杆(311)以及设置在所述插杆(311)上的卡帽(312)，所述插杆(311)固定在所述测试线(2)的靠近所述测试本体(1)的一端上；所述第二锁紧部(32)包括与所述插杆(311)匹配的插槽(321)以及与所述卡帽(312)匹配的卡孔(322)，所述插槽(321)设置在所述测试本体(1)的另一端上，所述卡孔(322)开设在所述插槽(321)的槽壁上；所述插杆(311)伸入至所述插槽(321)内时，所述卡帽(312)与所述卡孔(322)卡接，以将所述测试线(2)和所述测试本体(1)锁紧。4.根据权利要求3所述的射频测试装置，其特征在于，所述插杆(311)至少为两个，至少两个所述插杆(311)沿所述测试线(2)的周向间隔设置在所述测试线(2)的靠近所述测试本体(1)的一端上；所述插槽(321)至少为两个，至少两个所述插槽(321)沿所述测试本体(1)的周向间隔设置在所述测试本体(1)的另一端上，一个所述插杆(...
【专利技术属性】
技术研发人员：柳祎，
申请(专利权)人：闻泰通讯股份有限公司，
类型：新型
国别省市：
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