反射式太赫兹时域光谱复合材料自参考光学参量测量方法技术

本发明专利技术公开了基于反射式太赫兹时域光谱的复合材料自参考光学参数测量方法以材料前表面反射信号作为参考信号，后表面反射信号作为样品信号，分别对参考信号和样品信号进行傅里叶变换，进行滤波降噪后，获取传递函数。利用理论传递函数推导出折射率、消光系数和吸收系数的精确解，进而通过近似传递函数复折射率虚部得到折射率、消光系数和吸收系数的近似解。计算得到折射率、消光系数和吸收系数的初值，设置近似解与精确解的最小误差，将初值带入迭代算法中直到近似解与精确解达到最小误差即可输出最佳折射率、消光系数和吸收系数，可以减小由于多次实验而造成的噪声叠加。减小由于多次实验而造成的噪声叠加。减小由于多次实验而造成的噪声叠加。

【技术实现步骤摘要】
反射式太赫兹时域光谱复合材料自参考光学参量测量方法


[0001]本专利技术涉及太赫兹时域光谱检测
，是一种基于自参考算法的反射式太赫兹时域光谱光学参量测量方法。

技术介绍

[0002]随着材料科学的发展，复合材料在航空航天、医疗器械、车辆船舶和纺织工业等领域得到了广泛的应用。复合材料的应用为各个领域带来了巨大的性能和结构改善，同时详尽描述复合材料特性对提高其质量和提升其应用范围有至关重要的作用。因此亟需寻找一种高效且无损的方法确保材料应用的可靠性。
[0003]太赫兹技术是一种远红外波段的光谱测量新兴测量手段，太赫兹(terahertz,THz)波，是指频率在0.1
‑
10THz(1THz＝10
12
Hz)，对应真空中波长为30
‑
3000微米范围内的电磁波，对非金属、非极性材料有良好的穿透能力，具有指纹谱特性，检测信号频带宽且信噪比高，具有非接触检测能力的太赫兹频段的检测技术。它在电磁波谱中位于微波与红外之间。
[0004]太赫兹无损检测技术是基于太赫兹波谱技术而建立本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.反射式太赫兹时域光谱复合材料自参考光学参量测量方法，其特征在于：(1)可消除传统解析公式法中不能完全保证参考面与样品共面而造成的固有相移误差；(2)以材料自身反射信号作为参考信号和样品信号，获取折射率、消光系数和吸收系数方法更便利；(3)可减小由于多次实验而造成的噪声叠加。2.根据权利要求1所述的反射式太赫兹时域光谱复合材料自参考光学参量测量方法，其特征在于：采用反射式太赫兹时域光谱在太赫兹脉冲垂直入射的条件下获取待测样品时域信号，以材料前表面的反射信号作为参考信号E
ref
(ω)，材料下表面的反射信号作为样品信号E
sam
(ω)。对参考信号及样品信号进行滤波降噪，分别进行了傅里叶变换以获得其频域谱3.根据权利要求1所述的反射式太赫兹时域光谱复合材料自参考光学参量测量方法，其特征在于：太赫兹波在样品中的传递函数由太赫兹波入射到样品前表面的反射系数r
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【专利技术属性】
技术研发人员：刘增华，满润昕，王可心，吴育衡，
申请(专利权)人：北京工业大学，
类型：发明
国别省市：