一种亚表面缺陷检测用光源组件及其应用的检测装置制造方法及图纸

技术编号:32545150 阅读:21 留言:0更新日期:2022-03-05 11:43
本实用新型专利技术属于检测领域,具体涉及一种亚表面缺陷检测用光源组件及其应用的检测装置,能有效提高透明待测介质压表面的微小缺陷检测,且结构简单、成本低廉。光源组件设有主光源狭缝和两个辅光源狭缝,两个辅光源狭缝分别位于主光源狭缝的两侧,主光源狭缝和辅光源狭缝入口处均设有发散照明光;待测介质边缘中线与主光源狭缝处于同一平面;光源组件射出的光线耦合入待测介质中形成波导光,波导光在待测介质中以波导模式传播。一种亚表面缺陷的检测装置,包括光源组件,还包括辊子输送机和面阵相机;光源组件设于辊子输送机的侧面,待测介质在辊子输送机上输送时经过主光源狭缝;面阵相机设于辊子输送机的上方或下方。机设于辊子输送机的上方或下方。机设于辊子输送机的上方或下方。

【技术实现步骤摘要】
一种亚表面缺陷检测用光源组件及其应用的检测装置


[0001]本技术属于检测领域,具体涉及一种亚表面缺陷检测用光源组件及其应用的检测装置。

技术介绍

[0002]透明介质的光学性质导致其亚表面的微小缺陷难以通过面光源照明产生足够清晰的图像,现有的透明介质亚表面缺陷检测设备采用线光源进行照明,与之相应地采用线阵相机对透明介质亚表面缺陷进行成像。
[0003]现有透明介质亚表面缺陷检测装置,线光源和线阵相机的使用,导致整体系统的缺陷检测速度慢,对相机采图和透明介质运动的同步控制要求高,容易受机械振动的干扰,从而带来系统复杂、成本高、检测效率低下等问题。

技术实现思路

[0004]本技术提供的一种亚表面缺陷检测用光源组件及其应用的检测装置,能有效提高透明待测介质压表面的微小缺陷检测,且结构简单、成本低廉。
[0005]本技术提供的一种亚表面缺陷检测用光源组件,光源组件设有主光源狭缝和两个辅光源狭缝,所述两个辅光源狭缝分别位于所述主光源狭缝的两侧,且所述主光源狭缝和所述辅光源狭缝入口处均设有发散照明光源;待测介质边缘中线与所述本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种亚表面缺陷检测用光源组件,其特征在于,光源组件设有主光源狭缝和两个辅光源狭缝,所述两个辅光源狭缝分别位于所述主光源狭缝的两侧,且所述主光源狭缝和所述辅光源狭缝入口处均设有发散照明光源;待测介质边缘中线与所述主光源狭缝处于同一平面;所述光源组件射出的光线耦合入所述待测介质中形成波导光,所述波导光在所述待测介质中以波导模式传播。2.根据权利要求1所述的一种亚表面缺陷检测用光源组件,其特征在于,所述光源组件包括上夹板和下夹板,所述上夹板和所述下夹板夹合形成主光源狭缝。3.根据权利要求2所述的一种亚表面缺陷检测用光源组件,其特征在于,所述上夹板和所述下夹板的平面互相平行或者成一定的预设夹角。4.根据权利要求2所述的一种亚表面缺陷检测用光源组件,其特征在于,所述上夹板和所述下夹板的中部分别设有辅光源狭缝。5.根据权利要求1所述的一种亚表面缺陷检测用光源组件,其特征在于,所述辅光源狭缝的入口与所设置的发散照明光源对齐。6.根据权利要求1所述的一种亚表面缺陷检测用光源组件,其特...

【专利技术属性】
技术研发人员:冯胜王选择翟中生谢博娅郑天雄
申请(专利权)人:赤壁精迈光电科技有限公司
类型:新型
国别省市:

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