本公开提供一种测试方法和装置。其中，测试方法包括：控制测试天线按照预设轨迹运动；当测试天线到达采样起点，触发遍历采样，获得采样值和对应的采样信息，遍历采样期间测试天线保持运动；根据采样值和采样信息，得到被测件的天线性能。测试装置包括：测试天线，传感器，扫描架，测试仪，上位机和下位机，其中，扫描架用于控制测试天线按照预设轨迹运动；传感器用于当检测到测试天线到达预设采样起点，向下位机发送达位信号；下位机用于响应于接收到达位信号，触发遍历采样；测试仪用于执行采样得到采样值；上位机用于向扫描架发送运动指令；上位机还用于获取采样值和采样信息，据此得到被测件的天线性能。被测件的天线性能。被测件的天线性能。
【技术实现步骤摘要】
一种测试方法和装置
[0001]本专利技术涉及测试
，尤其涉及一种测试方法和装置。
技术介绍
[0002]在无线通信中，天线是通信设备的重要组成部分，其性能直接影响整个通信系统的性能，因此，对天线的性能测试至关重要。在一些天线的测试场景中，具有多个测试参数，例如多频点，多通道，双极化等，这需要测试天线到达采样面的每个采样点时，在该采样点对这些测试参数进行遍历采样，再移动至下一个采样点。这导致采样时间较长，测试效率低。
技术实现思路
[0003]本公开描述了一种测试方法和测试装置，用于获得被测件的天线性能。
[0004]根据本公开的实施例的第一方面，提供一种测试方法，包括：
[0005]控制测试天线按照预设轨迹运动；
[0006]当测试天线到达采样起点，触发遍历采样：遍历采样列表中预设的多个采样任务，根据每个采样任务的采样参数执行采样，获得采样值和对应的采样信息，采样信息是采样时间或采样位置，遍历采样期间测试天线保持运动；
[0007]根据采样值和采样信息，得到被测件的天线性能。
[0008]根据测试方法的一个实施例，采样参数至少包括以下的其中一项：起始频率；终止频率；测试频点；中频带宽；测试天线的极化；发射通道；接收通道；采样目标参数。
[0009]根据测试方法的一个实施例，采样起点包括多个，当测试天线到达每一个采样起点，触发遍历采样。
[0010]根据测试方法的一个实施例，根据采样值和采样信息，获得被测件的天线性能包括：
[0011]当采样信息是采样时间，根据采样时间和预设采样起点的位置，计算得到采样值对应的采样位置，根据采样值和采样位置，计算得到被测件的天线性能；或者，
[0012]当采样信息是采样位置，根据采样值和采样位置，计算得到被测件的天线性能。
[0013]根据测试方法的一个实施例，根据采样值和采样位置，计算得到被测件的天线性能包括：对采样值和采样位置进行拟合或插值计算，得到被测件的天线性能。
[0014]根据本公开的实施例的第二方面，提供一种测试装置，包括测试天线，传感器，扫描架，测试仪，上位机和下位机，其中，
[0015]测试天线安装于扫描架上，扫描架用于响应于接收到运动指令，控制测试天线按照预设轨迹运动；
[0016]传感器用于当检测到测试天线到达多个预设采样起点的每一个时，向下位机发送达位信号；
[0017]下位机用于响应于接收到达位信号，触发遍历采样：遍历采样列表中预设的多个
采样任务，根据每个采样任务的采样参数向测试仪发送采样指令并记录对应的采样时间，遍历采样期间测试天线保持运动；
[0018]测试仪用于响应于接收到采样指令，执行采样，得到采样值；
[0019]上位机用于向扫描架发送运动指令；
[0020]上位机还用于向测试仪获取采样值，向下位机获取采样时间，根据采样值和采样时间，得到被测件的天线性能。
[0021]根据测试装置的一个实施例，传感器为以下任意一种：磁栅尺、光栅尺、容栅尺、激光尺、电机编码器、角度编码器、计数传感器。
[0022]根据测试装置的一个实施例，还包括第一开关矩阵，第一开关矩阵分别连接被测件、测试仪和下位机，下位机还用于通过控制第一开关矩阵，实现被测件的发射通道或接收通道的选通。
[0023]根据测试装置的一个实施例，还包括第二开关矩阵，第二开关矩阵分别连接测试天线、测试仪和下位机，下位机还用于通过控制第二开关矩阵，实现测试天线的发射通道或接收通道的选通。
[0024]根据测试装置的一个实施例，还包括转台，用于承载被测件。
[0025]根据测试装置的一个实施例，根据采样值和采样时间，得到被测件的天线性能包括：
[0026]根据采样时间和预设采样起点的位置，计算得到采样值对应的采样位置，根据采样值和采样位置，计算得到被测件的天线性能。
[0027]根据测试装置的一个实施例，根据采样值和采样位置，计算得到被测件的天线性能包括：对采样值和采样位置进行拟合或插值计算，得到被测件的天线性能。
[0028]根据本公开的实施例的第三方面，提供一种测试装置，包括测试天线，传感器，扫描架，测试仪，上位机和下位机，其中：
[0029]测试天线安装于扫描架上，扫描架用于响应于接收到运动指令，控制测试天线按照预设轨迹运动；
[0030]传感器用于当检测到测试天线到达多个预设采样起点的每一个时，向下位机发送达位信号；
[0031]传感器还用于响应于接收到位置报告指令，向下位机发送测试天线当前的位置信息；
[0032]下位机用于响应于接收到达位信号，触发遍历采样：遍历采样列表中预设的多个采样任务，根据每个采样任务的采样参数向测试仪发送采样指令并同时向传感器发送位置报告指令，遍历采样期间测试天线保持运动；
[0033]下位机还用于接收位置信息，记录为采样位置；
[0034]测试仪用于响应于接收到采样指令，执行采样，得到采样值；
[0035]上位机用于向扫描架发送运动指令；
[0036]上位机还用于向测试仪获取采样值，向下位机获取采样位置，根据采样值和位置信息，得到被测件的天线性能。
[0037]根据测试装置的一个实施例，传感器为以下任意一种：磁栅尺、光栅尺、容栅尺、激光尺、电机编码器、角度编码器、计数传感器。
[0038]根据测试装置的一个实施例，还包括第一开关矩阵，第一开关矩阵分别连接被测件、测试仪和下位机，下位机还用于通过控制第一开关矩阵，实现被测件的发射通道或接收通道的选通。
[0039]根据测试装置的一个实施例，还包括第二开关矩阵，第二开关矩阵分别连接测试天线、测试仪和下位机，下位机还用于通过控制第二开关矩阵，实现测试天线的发射通道或接收通道的选通。
[0040]根据测试装置的一个实施例，还包括转台，用于承载被测件。
[0041]根据测试装置的一个实施例，根据采样值和采样位置，得到被测件的天线性能包括：对采样值和采样位置进行拟合或插值计算，得到被测件的天线性能。
[0042]本公开的测试方法和测试装置能够实现在测试天线在采样轨迹上持续运动的同时，持续执行采样，提高了测试效率，减少了测试时间，并且保证了测试精度。
附图说明
[0043]图1是本公开根据一个实施例示出的测试方法的流程图。
[0044]图2是本公开根据一个实施例示出的测试方法中采样列表的示意图。
[0045]图3是本公开根据一个实施例示出的测试方法的流程图。
[0046]图4是本公开根据一个实施例示出的测试方法中测试天线运动轨迹的示意图。
[0047]图5是本公开根据一个实施例示出的测试方法中采样位置的示意图。
[0048]图6是本公开根据一个实施例示出的测试方法的流程图。
[0049]图7是本公开根据一个实施例示出的测试方法中测试天线运动轨迹的示意图。
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种测试方法，其特征在于，包括，控制测试天线按照预设轨迹运动；当所述测试天线到达采样起点，触发遍历采样：遍历采样列表中预设的多个采样任务，根据每个所述采样任务的采样参数执行采样，获得采样值和对应的采样信息，所述采样信息是采样时间或采样位置，遍历采样期间所述测试天线保持运动；根据所述采样值和所述采样信息，得到被测件的天线性能。2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述采样参数至少包括以下的其中一项：起始频率；终止频率；测试频点；中频带宽；测试天线的极化；发射通道；接收通道；采样目标参数。3.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述采样起点包括多个，当所述测试天线到达每一个所述采样起点，触发遍历采样。4.根据权利要求1
‑
3中任一项的测试方法，其特征在于，所述根据所述采样值和所述采样信息，获得所述被测件的天线性能包括：当所述采样信息是采样时间，根据所述采样时间和所述预设采样起点的位置，计算得到所述采样值对应的采样位置，根据所述采样值和所述采样位置，计算得到所述被测件的天线性能；或者，当所述采样信息是采样位置，根据所述采样值和所述采样位置，计算得到所述被测件的天线性能。5.根据权利要求4所述的测试方法，其特征在于，所述根据所述采样值和所述采样位置，计算得到所述被测件的天线性能包括：对所述采样值和所述采样位置进行拟合或插值计算，得到所述被测件的天线性能。6.一种测试装置，其特征在于，包括测试天线，传感器，扫描架，测试仪，上位机和下位机，其中，所述测试天线安装于所述扫描架上，所述扫描架用于响应于接收到运动指令，控制所述测试天线按照预设轨迹运动；所述传感器用于当检测到所述测试天线到达多个预设采样起点的每一个时，向所述下位机发送达位信号；所述下位机用于响应于接收到所述达位信号，触发遍历采样：遍历采样列表中预设的多个采样任务，根据每个所述采样任务的采样参数向所述测试仪发送采样指令并记录对应的采样时间，遍历采样期间所述测试天线保持运动；所述测试仪用于响应于接收到所述采样指令，执行采样，得到采样值；所述上位机用于向所述扫描架发送所述运动指令；所述上位机还用于向所述测试仪获取所述采样值，向所述下位机获取所述采样时间，根据所述采样值和所述采样时间，得到被测件的天线性能。7.根据权利要求6所述的测试装置，其特征在于，所述传感器为以下任意一种：磁栅尺、光栅尺、容栅尺、激光尺、电机编码器、角度编码器、计数传感器。8.根据权利要求6所述的测试装置，其特征在于，还包括第一开关矩阵，所述第一开关矩阵分别连接所述被测件、所述测试仪和所述下位机，所述下位机还用于通过控制所述第一开关矩阵，实现所述被测件的发射通道或接收通道的选通。
9.根据权利要求6所述的测试装置，其特征在于，还包括第二开关矩阵，所述第二开关矩阵分别连...
【专利技术属性】
技术研发人员：沈鹏辉，于伟，漆一宏，
申请(专利权)人：深圳市通用测试系统有限公司，
类型：发明
国别省市：
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