平直度测量方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

本申请提供了一种平直度测量方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括获取运动中的待测对象的多个位置点的高度值；对所述高度值进行计算，以得到所述多个位置点的第一平直度；对所述多个位置点的第一平直度进行处理，以得到所述待测对象的目标平直度。通过采用多组基于三角测量法的激光三点测量模块，动态测量待测对象表面多个位置点的高度值，结合待测对象运动速度计算出运动长度，综合多个运动长度求出能够反映待测对象表面平直度缺陷的第一平直度和目标平直度指标；同时可根据多个位置点的第一平直度拟合多项式，综合判断待测对象的平直度缺陷类型；提高了平直度测量结果的精度、准确性，具有连续、在线、实时、自动测量的能力。能力。能力。

【技术实现步骤摘要】
平直度测量方法、装置、电子设备及存储介质


[0001]本申请涉及平直度检测
，具体而言，涉及一种平直度测量方法、装置、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]在工业生产中，轧制金属板带材的质量常常由其板形、尺寸、表面质量、力学性能等多方面的参数来衡量，其中，平直度是板形控制的一个重要指标。由于平直度作为轧制金属板带材品质中最不容易控制的指标，将会直接影响轧制金属板带材的成材率和后续加工，因此，通常利用板带材的平直度值作为板带材轧制反馈控制系统的输入信号以改进轧制质量。
[0003]目前，平直度的检测技术向着在线实时的方向发展，平直度检测常用张力法、电磁法、光学法、声波法等多种方法，其中光学法的应用是最广泛的，但是由于板带材在轧制过程中会发生扭转、摆动，常规的光学测量法在这种复杂的条件下极易受到干扰，往往最终测量结果并不能真正反映真实的平直度缺陷。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本申请实施例的目的在于提供一种平直度测量方法、装置、电子设备及存储介质。通过减小测量误差，进而提高了测量结果的精度，解决了不能真正本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种平直度测量方法，其特征在于，包括：获取运动中的待测对象的多个位置点的高度值；对所述高度值进行计算，以得到所述多个位置点的第一平直度；对所述多个位置点的第一平直度进行处理，以得到所述待测对象的目标平直度。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取运动中的待测对象的多个位置点的高度值，包括：采用多组激光三点测量模块照射运动中的待测对象的多个位置点，以得到所述多个位置点对应的多个光斑点；基于光斑成像理论，根据所述多个光斑点确定出所述多个位置点的高度值。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述高度值进行计算，以得到所述多个位置点的第一平直度，包括：对所述高度值与所述待测对象的运动速度进行计算，以得到所述待测对象在所述多个位置点的运动长度；对所述运动长度进行计算，以得到所述多个位置点的第一平直度。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述对所述高度值与所述待测对象的运动速度进行计算，以得到所述待测对象在所述多个位置点的运动长度，包括：根据第j个位置的高度值与所述待测对象的运动速度进行计算，以得到所述待测对象在第j时刻与第j+1时刻间的第j项子运动长度，其中，j为大于或等于一，小于或等于i
‑
1的正整数，其中i为得到的高度值的总项数，第j个位置的高度值为第j时刻测量得到的高度值；根据第一时刻至第i时刻间的所述子运动长度计算得到所述待测对象在所述多个位置点的运动长度。5.根据权利要求3或4所述的方法，其特征在于，所述对所述高度值与所述待测对象的运动速度进行计算，以得到所述待测对象在所述多个位置点的运动长度，包括：对多个位置点对应的所述高度值进行滤波处理，以得到滤波高度值；对所述滤波高度值和所述待测对象的运动速度进行计算，以得到所述待测对象在所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：卢治功，范满仓，贺鹏，王瑛，贾治国，陈军奎，陈文建，李武森，王鸿昌，王博达，闫重强，金平，段凯，马丰原，方扬扬，李济龙，毛旭，
申请(专利权)人：中电科信息产业有限公司，
类型：发明
国别省市：