一种用于γ射线能谱计数测量的装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种用于γ射线能谱计数测量的装置，属于γ射线能谱测量技术领域。本实用新型专利技术装置，包括：放大电路，所述放大电路接收γ射线能量信号，并将所述γ射线能量信号转换为模拟信号；多个测量支路，测量支路接收模拟信号，向逻辑控制控制电路发出转换开始信号，寻找模拟信号峰位并保持峰位的电平，将电平转换位数字信号并输出；逻辑控制电路，所述逻辑控制电路接收转换开始信号，发出转换开始信号延时预设时间，关闭测量支路，开启下一个测量支路；存储电路，接收数字信号，并根据接收的多个测量支路输出的数字信号确定γ射线能谱的计数值。本实用新型专利技术使γ射线能谱计数率得到大幅提高，计数率的限制主要受闪烁体衰减时间的制约。间的制约。间的制约。

【技术实现步骤摘要】
一种用于
γ
射线能谱计数测量的装置


[0001]本技术涉及γ射线能谱测量
，并且更具体地，涉及一种用于γ射线能谱计数测量的装置。

技术介绍

[0002]掺铈溴化镧(LaBr3:Ce)闪烁晶体是目前国际研究和应用最热的新型无机闪烁晶体材料，具有光输出高(大于60000Ph/MeV)、衰减时间短(小于 30ns)、能量分辨率高(小于4％)等优异特性。理想最高计数率接近3X107 cps；
[0003]一般溴化镧X(γ)谱仪由放大电路1，线性门2，甄别器3，逻辑控制电路4，峰位保持电路5，模数变换电路6，和存储电路7组成。
[0004]上述谱仪的变换时间(Tt)，由溴化镧上升时间(t1)，采样保持时间 (t2)，模数变换电路变换时间(t3),存储电路存储时间(t4)组成，总变换时间又被称为死时间。
[0005]Tt＝t1+t2+t3+t4
[0006]为提高高计数率性能，现有技术使用如下方法：
[0007]1.选择高性能ADC，减少t3，进而减少Tt。缺点，提高有限。
[0008本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于γ射线能谱计数测量的装置，其特征在于，所述装置包括：放大电路，所述放大电路接收γ射线能量信号，并将所述γ射线能量信号转换为模拟信号；多个测量支路，测量支路接收模拟信号，向逻辑控制控制电路发出转换开始信号，寻找模拟信号峰位并保持峰位的电平，将电平转换位数字信号并输出；所述测量支路，包括：线性门及甄别器，所述线性门及甄别器接收模拟信号；峰位保持电路，所述峰位保持电路寻找模拟信号峰位并保持峰位的电平；模数变换电路，将电平转换位数字信号；逻辑控制电路，所述逻辑控制电路接收转换开始信号，发出转换开始信号延时预设时间，关闭测量支路，开启下一个测量支...

【专利技术属性】
技术研发人员：李高峰，
申请(专利权)人：北京格物时代科技发展有限公司，
类型：新型
国别省市：