一种用于γ射线能谱计数测量的装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种用于γ射线能谱计数测量的装置及方法，属于γ射线能谱测量技术领域。本发明专利技术装置，包括：放大电路，所述放大电路接收γ射线能量信号，并将所述γ射线能量信号转换为模拟信号；多个测量支路，测量支路接收模拟信号，向逻辑控制控制电路发出转换开始信号，寻找模拟信号峰位并保持峰位的电平，将电平转换位数字信号并输出；逻辑控制电路，所述逻辑控制电路接收转换开始信号，发出转换开始信号延时预设时间，关闭测量支路，开启下一个测量支路；存储电路，接收数字信号，并根据接收的多个测量支路输出的数字信号确定γ射线能谱的计数值。本发明专利技术使γ射线能谱计数率得到大幅提高，计数率的限制主要受闪烁体衰减时间的制约。

【技术实现步骤摘要】
一种用于γ射线能谱计数测量的装置及方法
本专利技术涉及γ射线能谱测量
，并且更具体地，涉及一种用于γ射线能谱计数测量的装置及方法。
技术介绍
掺铈溴化镧(LaBr3:Ce)闪烁晶体是目前国际研究和应用最热的新型无机闪烁晶体材料，具有光输出高(大于60000Ph/MeV)、衰减时间短(小于30ns)、能量分辨率高(小于4％)等优异特性。理想最高计数率接近3X107cps；一般溴化镧X(γ)谱仪由放大电路1，线性门2，甄别器3，逻辑控制电路4，峰位保持电路5，模数变换电路6，和存储电路7组成。上述谱仪的变换时间(Tt)，由溴化镧上升时间(t1)，采样保持时间(t2)，模数变换电路变换时间(t3),存储电路存储时间(t4)组成，总变换时间又被称为死时间。Tt＝t1+t2+t3+t4为提高高计数率性能，现有技术使用如下方法：1.选择高性能ADC，减少t3，进而减少Tt。缺点，提高有限。2，采用纯数字电路，做高采样率的连续ADC。缺点，能量分辨率降低，功耗大3.从AD变换开始的数字电路，采用流本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于γ射线能谱计数测量的装置，所述装置包括：/n放大电路，所述放大电路接收γ射线能量信号，并将所述γ射线能量信号转换为模拟信号；/n多个测量支路，测量支路接收模拟信号，向逻辑控制控制电路发出转换开始信号，寻找模拟信号峰位并保持峰位的电平，将电平转换位数字信号并输出；/n逻辑控制电路，所述逻辑控制电路接收转换开始信号，发出转换开始信号延时预设时间，关闭测量支路，开启下一个测量支路；/n存储电路，接收数字信号，并根据接收的多个测量支路输出的数字信号确定γ射线能谱的计数值。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于γ射线能谱计数测量的装置，所述装置包括：
放大电路，所述放大电路接收γ射线能量信号，并将所述γ射线能量信号转换为模拟信号；
多个测量支路，测量支路接收模拟信号，向逻辑控制控制电路发出转换开始信号，寻找模拟信号峰位并保持峰位的电平，将电平转换位数字信号并输出；
逻辑控制电路，所述逻辑控制电路接收转换开始信号，发出转换开始信号延时预设时间，关闭测量支路，开启下一个测量支路；
存储电路，接收数字信号，并根据接收的多个测量支路输出的数字信号确定γ射线能谱的计数值。


2.根据权利要求1所述的装置，所述测量支路，包括：
线性门及甄别器，所述线性门及甄别器接收模拟信号；
峰位保持电路，所述峰位保持电路寻找模拟信号峰位并保持峰位的电平；
模数变换电路，将电平转换位数字信号。


3.根据权利要求2所述的装置，所述甄别器接收的模拟信号上升沿超过阈值时逻辑控制电路动作。


4.根据权利要求1所述的装置，所述预设时间为放大电路的上升时间与衰减时间的和。


5.根据权利要求1所述的装置，所述多个测量支路测量完成后，逻辑电路开启第一个接收模拟信号的测量支路，继续接收模拟信号，直至模拟信号发送完成。


6.根据权利要求1所述的装置，所述计数值为多个测量支路输出的数字信号和。

【专利技术属性】
技术研发人员：李高峰，
申请(专利权)人：北京格物时代科技发展有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11