一种基于质量损失函数的残差控制图经济设计方法技术

本发明专利技术涉及一种基于质量损失函数的残差控制图经济设计方法，本发明专利技术有效解决现有的质量控制图在对自相关过程进行监控时无法满足在确保产品质量的基础上同时对产品的成本效应进行监控的问题；解决的技术方案包括：通过质量损失函数建立的经济模型来降低产品成本、提高产品质量，对经济模型用遗传算法求解，确定控制图设计参数的最优组合，并对结果进行灵敏度分析，讨论各参数对控制图经济效果的影响，以指导控制图参数的选择，使得生产过程中单位时间内成本最小，从而在提高产品质量的同时降低生产成本。时降低生产成本。

【技术实现步骤摘要】
一种基于质量损失函数的残差控制图经济设计方法


[0001]本专利技术属于残差控制图设计
，具体涉及一种基于质量损失函数的残差控制图经济设计方法。

技术介绍

[0002]在生产制造过程中连续的化工、制药、电子、冶金所需要的待测数据，满足不了传统休哈特控制图建立的假设前提，即满足不了数据独立同分布，这是由于工业化的发展太快，使用机器对产品抽样的抽样时间间隔越来越短，两个时刻的待测数据之间出现相互依赖的关系，若用传统的控制图对生产过程进行监控，忽略被测数据之间的自相关关系，就会造成控制图对数据的统计出错，产品质量达不到预期的效果，现有的自相关过程控制图可以解决自相关过程对质量进行监控的问题；
[0003]使用传统的质量控制图对自相关生产过程进行控制时，会对过程造成误判，大大降低控制图对生产过程的监控效果，而在设计控制图时，往往会忽略生产过程中产生的经济效应；
[0004]自相关过程控制图的经济设计通常情况下是基于Lorenzen和Vance经济模型建立，而较少将田口质量损失函数引入经济模型，没有考虑产品在受控和失控状态下偏离目标本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于质量损失函数的残差控制图经济设计方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：建立模型参数；设定产品的质量具有自相关性且质量数据服从平稳p阶自回归模型：X
t
＝φ0+φ1X
t
‑1+φ2X
t
‑2+...+φ
p
X
t
‑
p
+ε
t
上式中X
t
表示观测值在t时刻的序列值，它的均值为μ，φ0、φ1...φ
p
为自相关系数，在平稳过程中，μ和φ0、φ1...φ
p
都独立于时间t，ε
t
为均值为0的白噪声序列，ε
t
：N(0，σ2)。其一阶回归模型：式中ε
t
是白噪声序列，满足一阶回归模型的方差为：S2：构建统计量；设定样本容量为n，则其t时刻的观测值为X
t
，过程残差e
t
表达式为：其中是X
t
的预测值；S3：构建残差控制图；由于残差序列{e
t
}满足独立同分布，可以用休哈特控制图对残差序列进行监控，残差控制图的中心线为：CL＝0；上控制线为：UCL＝kσ
X
；下控制线为：LCL＝
‑
kσ
X
，其中k为控制限系数，S4：构建经济模型；S4
‑
1：模型假设；对经济模型进行假设：(1)当生产过程处于受控状态时，均值为μ，方差为σ2，当生产过程受到特殊原因影响失控时，均值变为μ＝μ+δσ，其中δ表示偏移系数；(2)用泊松分布表示异常的发生，则参数λ的指数分布表示异常发生的时间，那么期望值为的指数分布就表示过程受控的时间；(3)产品的质量特性值服从正态分布；(4)对经济模型的一个周期进行假设，从生产过程受控到发现特殊原因使生产过程失控再到查出特殊原因并修复使生产过程受控结束为一个周期；(5)抽样时，过程不发生异常；(6)控制图发生异常时，过程继续。S4
‑
2：模型描述；残差控制图经济模型描述：(1)单位时间成本为一个周期内的总成本与一个周期的总时间之比；
(2)一个周期的总时间可分为：过程受控时间和失控时间，其中失控时间又可分为发生特殊原因到控制图报警的时...

【专利技术属性】
技术研发人员：薛丽，刘琳，徐济超，王永刚，王宁，曹逗逗，郑含笑，吴昊辰，
申请(专利权)人：郑州航空工业管理学院，
类型：发明
国别省市：