一种闪存芯片可靠性检测的检测方法及检测装置制造方法及图纸

本申请涉及一种闪存芯片可靠性检测的检测方法及检测装置，属于固态存储检测技术领域，其包括以下步骤：将闪存芯片安装到测试架中；使用MPTool烧录RDT代码到闪存芯片中；将成功烧录RDT代码的闪存芯片连同测试架一起插到高温箱中的供电接口上；给SATA供电接口通电，使得SATA芯片的BOOT从闪存芯片中加载RDT代码到SATA芯片的RAM中；SATA芯片加载完成后开始进入RDT脱机扫描流程；SATA芯片对闪存芯片进行扫描，找出闪存芯片中的坏块并生成坏块信息；SATA芯片通过分析坏块信息来计算出闪存芯片的颗粒品质并对闪存芯片颗粒品质等级进行划分；SATA芯片通过驱动提示单元提示对应的闪存芯片颗粒品质等级。本申请具有提高产品的生产效率的效果。产效率的效果。产效率的效果。

【技术实现步骤摘要】
一种闪存芯片可靠性检测的检测方法及检测装置


[0001]本申请涉及固态存储检测
，尤其是涉及一种闪存芯片可靠性检测的检测方法及检测装置。

技术介绍

[0002]闪存（Flash）又称快闪存储器，是一种电子式可消除程序化只读存储器的形式，允许在操作中被多次擦或写的存储器，并具有非易失性。在固态存储领域，以闪存作为存储介质的固定硬盘（SSD）在计算机存储设备中广泛使用，固态硬盘上闪存颗粒的好坏决定着固态硬盘的稳定性。
[0003]一个闪存芯片由两个或者多个die（又称chips）组成，一个die又可以分为多个Plane，而每一个Plane又包含多个Block，每个Block又分为多个Page，Die封装形成颗粒。因此一个Flash芯片内部通常包括若干个块（Block），由于受生产技术和工艺等因素的影响和限制，闪存芯片在出厂时可能有些“块”是不能正常使用的，这些不能使用的块称之为“坏块”；因此在以闪存芯片为存储介质的闪存存储器在出厂前，需要对闪存芯片中的各个“块”进行扫描检测，并记录闪存芯片中坏块的数量，扫描检测完成后将固件程序固化到固本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种闪存芯片可靠性检测的检测方法，其特征在于：包括以下步骤：将闪存芯片安装到测试架(1)中；使用MPTool烧录RDT代码到闪存芯片中；将成功烧录RDT代码的闪存芯片连同测试架(1)一起插到高温箱中的供电接口上；给SATA供电接口(15)通电，使得SATA芯片(13)的BOOT从闪存芯片中加载RDT代码到SATA芯片(13)的RAM中；SATA芯片(13)加载完成后开始进入RDT脱机扫描流程；SATA芯片(13)对闪存芯片进行扫描，找出闪存芯片中的坏块并生成坏块信息；SATA芯片(13)通过分析坏块信息来计算出闪存芯片的颗粒品质并对闪存芯片颗粒品质等级进行划分；SATA芯片(13)通过驱动提示单元(14)提示对应的闪存芯片颗粒品质等级。2.根据权利要求1所述的一种闪存芯片可靠性检测的检测方法，其特征在于：在烧录RDT代码到闪存芯片中之前，检测方法还包括在PC端上预先配置颗粒品质等级参数，颗粒品质等级参数用于划分闪存芯片颗粒品质等级；使用MPTool烧录RDT代码到闪存芯片中时，PC端将配置好的颗粒品质等级参数写入到闪存芯片中；给SATA供电接口(15)通电后，SATA芯片(13)同时加载闪存芯片中的颗粒品质等级参数。3.根据权利要求2所述的一种闪存芯片可靠性检测的检测方法，其特征在于：所述提示单元(14)为数码管显示器(141)，所述数码管显示器(141)为个位数显示，闪存芯片颗粒品质等级划分为1-9级。4.根据权利要求2所述的一种闪存芯片可靠性检测的检测方...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴耀虎，黄衍军，吴大畏，李晓强，韩国军，
申请(专利权)人：深圳市得一微电子有限责任公司，
类型：发明
国别省市：