【技术实现步骤摘要】
平面度检测装置
[0001]本专利技术涉及检测领域,具体涉及一种平面度检测装置。
技术介绍
[0002]薄壳类产品在使用前需要先经过平面度检测。目前的平面度检测方法为通过探针向下运动抵持待检测工件直至所述探针不能再向下运动,此时检测所述待检测工件的平面度。所述探针在向下运动抵持待检测工件时施加在所述待检测工件上的作用力较大,容易造成所述待检测工件产生形变。
技术实现思路
[0003]鉴于此,有必要提供一种平面度检测装置,减小了待检测工件产生形变的可能性。
[0004]本申请的第一方面提供一种平面度检测装置,用于检测待检测工件的平面度,所述装置包括:
[0005]工件平台,所述工件平台用于放置所述待检测工件;
[0006]支撑臂;
[0007]电源;
[0008]导电弹簧,所述导电弹簧与所述待检测工件接触,并与所述电源的第一极连接;
[0009]探针,所述探针与所述电源的第二极连接,所述探针与所述支撑臂移动连接来朝所述待检测工件运动直至接触所述待检测工件的检测点形
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种平面度检测装置,用于检测待检测工件的平面度,其特征在于,所述装置包括:工件平台,所述工件平台用于放置所述待检测工件;支撑臂;电源;导电弹簧,所述导电弹簧与所述待检测工件接触,并与所述电源的第一极连接;探针,所述探针与所述电源的第二极连接,所述探针与所述支撑臂移动连接来朝所述待检测工件运动直至接触所述待检测工件的检测点形成通电回路。2.如权利要求1所述的平面度检测装置,其特征在于,所述装置还包括:控制器,所述控制器用于控制所述探针逐一接触所述待检测工件的多个检测点形成多次通电回路,根据各通电回路确定所述待检测工件的多个检测点的高度,并根据所述多个检测点的高度确定所述待检测工件的平面度。3.如权利要求2所述的平面度检测装置,其特征在于:所述平面度检测装置中存储有所述待检测工件的各检测点位置信息,所述控制器用于根据所述待检测工件的各检测点位置信息控制所述探针逐一接触所述待检测工件的多个检测点形成多次通电回路,根据各通电回路确定所述待检测工件的多个检测点的高度,并根据所述多个检测点的高度确定所述待检测工件的平面度。4.如权利要求2所述的平面度检测装置,其特征在于:所述控制器用于控制所述工件平台运动及所述探针运动来控制所述探针逐一接触所述待检测工件的多个检测点。5.如权利要求2所述的平面度检测装置,其特征在于:所述控制器用于在所述探针远离所述待检测工件的检测点时,产生第一信号,并在所述探针接触所述待检测工件的检测点形成通电回路时,产生第二信号,所述控制器用于根据各第二信号确定所述待检测工件的多个检测点的高度。6.如权利要求2所述的平面度检测装置,其特征在于:所述控制器用于控制所述探针朝所述待检测工件运动第一预设距离,控制所述探针每次朝所述待检测工件运动第二预设距离直至接触所述待检测工件的检测点...
【专利技术属性】
技术研发人员:张能维,周兵,曾涛,
申请(专利权)人:鸿富锦精密电子成都有限公司,
类型:发明
国别省市:
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