锥体外周密封面检测工具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种锥体外周密封面检测工具，属于零件轮廓的计量领域，解决了现有技术中难以将测量工具精准定位到密封线所在的位置获得准确测量结果的问题，解决该问题的技术方案主要是通规包括第一检测环和第一支撑脚，第一检测环的内圈设有与待测锥体外周密封面的密封线形状适配的第一基准线，第一支撑脚在第一检测环上至少分布有三个，止规包括第二检测环和第二支撑脚，第二检测环的内圈设有与待测锥体外周密封面形状适配的第二基准线，第二支撑脚在第二检测环上至少分布有三个。本实用新型专利技术主要用于可以快速检测、判断密封面上的密封线的加工精度是否满足要求。的密封线的加工精度是否满足要求。的密封线的加工精度是否满足要求。

【技术实现步骤摘要】
锥体外周密封面检测工具


[0001]本技术涉及零件轮廓的计量领域，特别是一种锥体外周密封面检测工具。

技术介绍

[0002]在一些机械密封结构中，会使用锥体类零件与锥孔类零件相配合来实现，因此在锥体类零件的外周面设置密封面，而具体形成可靠密封关系的，是密封面上的密封线，锥体类零件外周密封面上的密封线会与锥孔类零件锥孔壁上的密封线相配合紧贴。因此对于密封线的加工精度要求比较高。由于锥体类零件的外周面的尺寸在不同的高度位上互不相等，想要检测密封线是否满足加工精度的要求时，难以直接将测量工具精准定位到密封线所在的位置，因此难以获得准确的测量结果。

技术实现思路

[0003]本技术所要达到的目的就是提供一种锥体外周密封面检测工具，可以快速检测、判断密封面上的密封线的加工精度是否满足要求。
[0004]为了达到上述目的，本技术采用如下技术方案：锥体外周密封面检测工具，包括通规和止规，待测锥体外周密封面的密封线到待测锥体的底面的高度为H，通规包括第一检测环和第一支撑脚，第一检测环的内圈设有与待测锥体外周密封面的密封线形状适配的第一基准线，第一支撑脚在第一检测环上至少分布有三个，所有第一支撑脚的底端到第一基准线的距离均为H，止规包括第二检测环和第二支撑脚，第二检测环的内圈设有与待测锥体外周密封面形状适配的第二基准线，第二支撑脚在第二检测环上至少分布有三个，所有第二支撑脚的底端到第二基准线的距离均为H，第一基准线的轮廓大于待测锥体外周密封面的密封线的设计轮廓且两者之间具有第一公差，第二基准线的轮廓小于待测锥体外周密封面的密封线的设计轮廓且两者之间具有第二公差。
[0005]作为优选的方案，所述待测锥体为圆锥体，待测锥体外周密封面的密封线、第一基准线和第二基准线均为圆形。
[0006]作为优选的方案，所述待测锥体为棱锥，待测锥体外周密封面的密封线、第一基准线和第二基准线均为多边形。
[0007]作为优选的方案，所述第一支撑脚的底端面为平面，所有第一支撑脚的底端面均位于第一平面上，第一基准线平行于第一平面。
[0008]作为优选的方案，所述第二支撑脚的底端面为平面，所有第二支撑脚的底端面均位于第二平面上，第二基准线平行于第二平面。
[0009]作为优选的方案，所述第一公差与第二公差的数值相等。
[0010]作为优选的方案，所述第一支撑脚活动连接于第一检测环，使第一支撑脚的底端可相对第一基准线调节高度；或者，所述第一支撑脚为伸缩结构，使第一支撑脚的底端可相对第一基准线调节高度。
[0011]作为优选的方案，所述第一支撑脚与第一检测环可拆卸连接，第一支撑脚具有多
个型号，不同型号的第一支撑脚的长度尺寸不同。
[0012]作为优选的方案，所述第二支撑脚活动连接于第二检测环使第二支撑脚的底端可相对第二基准线调节高度；或者，所述第二支撑脚为伸缩结构，使第二支撑脚的底端可相对第二基准线调节高度。
[0013]作为优选的方案，所述第二支撑脚与第二检测环可拆卸连接，第二支撑脚具有多个型号，不同型号的第二支撑脚的长度尺寸不同。
[0014]采用上述技术方案后，本技术具有如下优点：将待测锥体正置于测量平台上，将通规套在待测锥体上，鉴于待测锥体外周密封面的密封线到待测锥体的底面的高度为H，而所有第一支撑脚的底端到第一基准线的距离也均为H，因此第一基准线会与待测锥体外周密封面的密封线相配合。由于第一基准线的轮廓大于待测锥体外周密封面的密封线的轮廓且两者之间具有第一公差，相当于说第一基准线与待测锥体外周密封面的密封线之间形成了间隙配合，如果所有第一支撑脚的底端都落到测量平台上与测量平台接触，则说明待测锥体外周密封面的密封线的加工精度满足通规要求，如果至少有一个第一支撑脚的底端未落到测量平台上，即第一支撑脚的底端与测量平台之间有间隙，则说明待测锥体外周密封面的密封线的加工精度不满足通规要求，至此通规检测结束。再使用止规对密封线进行测量，将止规套在待测锥体上，由于所有第二支撑脚的底端到第二基准线的距离均为H，同时第二基准线的轮廓小于待测锥体外周密封面的密封线的轮廓且两者之间具有第二公差，相当于第二基准线与与待测锥体外周密封面的密封线之间形成了过盈配合，第二基准线受到密封线的支撑，如果至少有一个第二支撑脚的底端未落到测量平台上，即第二支撑脚的底端与测量平台之间有间隙，则说明待测锥体外周密封面的密封线的加工精度满足止规要求，如果所有第二支撑脚的底端都落到测量平台上与测量平台接触，则说明待测锥体外周密封面的密封线的加工精度不满足止规要求，至此止规检测结束。可见整个检测过程方便快捷，而且可以在检测过程中直接判断待测锥体外周密封面的密封线的加工精度是否满足要求，大大提高检测效率。
附图说明
[0015]下面结合附图对本技术作进一步说明：
[0016]图1为本技术锥体外周密封面检测工具中通规的结构示意图；
[0017]图2为本技术锥体外周密封面检测工具中止规的结构示意图；
[0018]图3为本技术锥体外周密封面检测工具的使用状态图；
[0019]图4为实施例一中通规的使用状态图；
[0020]图5为实施例一中止规的使用状态图；
[0021]图6为实施例二中通规的结构示意图（第一支撑脚通过螺纹与第一检测环连接）；
[0022]图7为实施例二中通规的结构示意图（第一支撑脚为伸缩结构）；
[0023]图8为实施例三中通规的结构示意图；
[0024]图中，1、通规；10、第一检测环；11、第一支撑脚；12、第一基准线；2、止规；20、第二检测环；21、第二支撑脚；22、第二基准线；3、待测锥体；4、测量平台。
具体实施方式
[0025]实施例一：
[0026]本技术提供一种锥体外周密封面检测工具，如图1至图5所示，包括通规1和止规2，待测锥体3外周密封面的密封线到待测锥体3的底面的高度为H，通规1包括第一检测环10和第一支撑脚11，第一检测环10的内圈设有与待测锥体3外周密封面的密封线形状适配的第一基准线12，第一支撑脚11在第一检测环10上分布有四个，所有第一支撑脚11的底端到第一基准线12的距离均为H，止规2包括第二检测环20和第二支撑脚21，第二检测环20的内圈设有与待测锥体3外周密封面形状适配的第二基准线22，第二支撑脚21在第二检测环20上分布有四个，所有第二支撑脚21的底端到第二基准线22的距离均为H，第一基准线12的轮廓大于待测锥体3外周密封面的密封线的设计轮廓且两者之间具有第一公差，第二基准线22的轮廓小于待测锥体3外周密封面的密封线的设计轮廓且两者之间具有第二公差。
[0027]在检测过程中，可以先使用通规1对待测锥体3外周密封面的密封线进行测量，将待测锥体3正置于测量平台4上，将通规1套在待测锥体上，鉴于待测锥体3外周密封面的密封线到待测锥体3的底面的高度为H，而所有第一支撑脚11的底端到第一基准线12的距离也均为H，因此第一基准本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.锥体外周密封面检测工具，包括通规和止规，待测锥体外周密封面的密封线到待测锥体的底面的高度为H，其特征在于，所述通规包括第一检测环和第一支撑脚，第一检测环的内圈设有与待测锥体外周密封面的密封线形状适配的第一基准线，第一支撑脚在第一检测环上至少分布有三个，所有第一支撑脚的底端到第一基准线的距离均为H，止规包括第二检测环和第二支撑脚，第二检测环的内圈设有与待测锥体外周密封面形状适配的第二基准线，第二支撑脚在第二检测环上至少分布有三个，所有第二支撑脚的底端到第二基准线的距离均为H，第一基准线的轮廓大于待测锥体外周密封面的密封线的设计轮廓且两者之间具有第一公差，第二基准线的轮廓小于待测锥体外周密封面的密封线的设计轮廓且两者之间具有第二公差。2.根据权利要求1所述的锥体外周密封面检测工具，其特征在于，所述待测锥体为圆锥体，待测锥体外周密封面的密封线、第一基准线和第二基准线均为圆形。3.根据权利要求1所述的锥体外周密封面检测工具，其特征在于，所述待测锥体为棱锥，待测锥体外周密封面的密封线、第一基准线和第二基准线均为多边形。4.根据权利要求1所述的锥体外周密封面检测工具，其特征在于，所述第一支撑脚的底端面为平面，所有第一支撑脚的底端面均位于第...

【专利技术属性】
技术研发人员：李战军，郑荣良，吴志钢，
申请(专利权)人：杭州松下家用电器有限公司，
类型：新型
国别省市：