一种介质滤波器调试工装制造技术

本实用新型专利技术提供的介质滤波器调试工装，包括底板、支撑组件、用于将介质滤波器压紧在支撑组件支撑板上的压紧组件、具有可前后左右上下移动打磨笔的打磨组件，通过使介质滤波器上待打磨孔的轴心线垂直于底板，并在压紧板上开设有用于露出待打磨孔的贯通槽，使打磨笔底部连接的下端部呈圆柱状的打磨杆的轴心线垂直于底板，在打磨笔移动时，能够带动打磨杆穿过贯通槽伸入待打磨孔进行打磨，能够避免触碰孔口，打磨面光滑毛刺少，能够适应小型化介质滤波器的调试、调试难度小、良品率高。良品率高。良品率高。

【技术实现步骤摘要】
一种介质滤波器调试工装


[0001]本申请涉及介质滤波器加工制造领域，具体涉及一种介质滤波器调试工装。

技术介绍

[0002]现有的介质滤波器大多包括介质块和金属导电层，其中，介质块大多由陶瓷材料制成，为便于调频，介质块上设有谐振孔，为便于耦合，介质块上大多还设有耦合孔，金属导电层涂覆在介质块表面、谐振孔及耦合孔的内壁表面。
[0003]受限于加工工艺，现有介质滤波器不能做到完全免调试，出厂前，需要对介质滤波器上的谐振孔、耦合孔等孔洞进行人工打磨，以便将介质滤波器的电气性能调整到要求范围内。
[0004]为适应小型化的要求，介质滤波器的体积越来越小，导致介质滤波器上孔洞的内径越来越小，为满足调频及耦合等特性，这些孔洞也越来越深，在手持打磨笔进行打磨调试时，如图1所示，打磨笔非常容易倾斜，使得打磨笔上的打磨杆触碰到这些孔洞的孔口部（如图1中A处所示），导致孔口部银层缺失，打磨这些孔洞的底壁时（如图1中B处所示），难以使底壁保持平整，也容易残留毛刺，会影响介质滤波器的电气性能及使用寿命，严重的，还会导致介质滤波器的报废。

技术实现思路

[0005]本技术的目的是为了克服现有技术的缺点，提供一种能够适应小型化介质滤波器调试、调试难度小、良品率高的介质滤波器调试工装，本技术还提供一种介质滤波器调试方法，该方法操作简单、调试效率高、调试结果的稳定性好。
[0006]为达到上述目的，本技术采用的技术方案中的产品是，介质滤波器调试工装，包括：
[0007]底板，所述底板平行于水平面；r/>[0008]支撑组件，所述支撑组件包括用于放置介质滤波器的支撑板和用于将所述支撑板支撑在所述底板上方的支撑杆，所述支撑板与所述支撑杆可拆卸地连接；
[0009]压紧组件，所述压紧组件包括可上下移动地设置在所述支撑板上方的压紧板、用于驱动所述压紧板上下移动的气缸；
[0010]打磨组件，所述打磨组件包括设置在所述底板上的三坐标工作台、连接在所述三坐标工作台上可前后、左右、上下移动的打磨笔；
[0011]在所述介质滤波器放置在所述支撑板上时，所述介质滤波器上待打磨孔的轴心线垂直于所述底板；
[0012]所述压紧板上开设有用于露出所述待打磨孔的贯通槽；
[0013]所述打磨笔包括连接在所述三坐标工作台上的笔套和可拆卸地连接在所述笔套底部的打磨杆，所述打磨杆的下端部呈圆柱状，所述打磨杆的轴心线垂直于所述底板；
[0014]在所述打磨笔前后、左右、上下移动时，所述打磨杆穿过所述贯通槽伸入所述待打
磨孔对所述待打磨孔的底壁和/或侧壁进行打磨，打磨后，所述底壁平行于所述底板，所述侧壁垂直于所述底板。
[0015]优选地，所述支撑板上设有用于固定所述介质滤波器的凹槽，所述凹槽的槽底的倾斜程度与所述待打磨孔的倾斜程度相匹配，使所述介质滤波器放置在所述支撑板上时，所述待打磨孔的轴心线能够垂直于所述底板。
[0016]优选地，所述支撑板和/或所述压紧板上设有用于连接所述介质滤波器与测试设备的测试电缆，在所述压紧板将所述介质滤波器压紧在所述支撑板上时，所述介质滤波器与所述测试设备电连接。
[0017]优选地，所述三坐标工作台上还连接有用于清除所述待打磨孔内碎屑的吸尘管和用于检测所述待打磨孔打磨情况的视觉检测装置。
[0018]进一步优选地，所述吸尘管和所述视觉检测装置分别位于所述打磨笔的两侧，所述吸尘管和所述视觉检测装置均能够相对于所述三坐标工作台上下移动。
[0019]优选地，所述三坐标工作台上还设置有用于将所述笔套夹紧的夹紧块。
[0020]优选地，所述三坐标工作台上连接有便于握持的推杆，所述推杆沿平行于所述底板的方向延伸，所述推杆用于带动所述打磨笔前后、左右、上下移动。
[0021]进一步优选地，所述推杆的端部连接有塑胶球头。
[0022]为达到上述目的，本技术采用的技术方案中的方法是，介质滤波器调试方法，采用上述介质滤波器调试工装进行调试，所述调试方法包括以下步骤：
[0023]A移动压紧板将介质滤波器压紧在支撑板上，使介质滤波器上的待打磨孔从压紧板上的贯通槽中露出；
[0024]B移动打磨笔，使打磨杆的下端部穿过贯通槽并伸入待打磨孔内；
[0025]C启动打磨笔，使打磨杆沿自身轴线转动；
[0026]D移动打磨笔，利用打磨杆对待打磨孔的底壁和/或侧壁进行打磨；
[0027]E打磨完成后，将打磨杆从待打磨孔内移出；
[0028]F清理待打磨孔内的碎屑；
[0029]G检测待打磨孔的底壁及侧壁上的毛刺情况，若符合要求，进行下一步，若不符合要求，返回步骤A；
[0030]H将介质滤波器与测试设备电连接，通过测试设备检测介质滤波器的电气性能，若符合要求，调试结束，拆下介质滤波器，若不符合要求，返回步骤B；
[0031]进行步骤C时，使打磨杆的轴心线与待打磨孔的轴心线保持平行。
[0032]优选地，步骤E和步骤F之间还包括检测打磨杆底端面与打磨杆侧壁之间夹角的步骤，在该夹角超出90
°±
0.5
°
时，更换打磨杆。
[0033]由于上述技术方案的运用，本技术与现有技术相比具有下列优点：
[0034]本技术提供的介质滤波器调试工装，包括平行于水平面的底板、支撑组件、压紧组件和打磨组件，支撑组件包括用于放置介质滤波器的支撑板和用于将支撑板支撑在底板上方的支撑杆，支撑板与支撑杆可拆卸地连接，压紧组件包括可上下移动地设置在支撑板上方的压紧板、用于驱动压紧板上下移动的气缸，打磨组件包括设置在底板上的三坐标工作台、连接在三坐标工作台上可前后、左右、上下移动的打磨笔；通过使在介质滤波器放置在支撑板上时，介质滤波器上待打磨孔的轴心线垂直于底板；在压紧板上开设有用于露
出待打磨孔的贯通槽；使打磨笔包括连接在三坐标工作台上的笔套和可拆卸地连接在笔套底部的打磨杆，使打磨杆的下端部呈圆柱状，使打磨杆的轴心线垂直于底板；在打磨笔前后、左右、上下移动时，打磨杆穿过贯通槽伸入待打磨孔对待打磨孔的底壁和/或侧壁进行打磨时，不会触碰到待打磨孔的孔口部，打磨后表面光滑，毛刺少，能够适应小型化介质滤波器调试、调试难度小、良品率高；本技术还提供的介质滤波器调试方法，通过使打磨杆的轴心线与待打磨孔的轴心线保持平行，能够避免触碰待打磨孔的孔口部，打磨面光滑毛刺少，该方法操作简单、调试效率高、调试结果的稳定性好。
附图说明
[0035]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0036]图1是现有技术中打磨调试的剖视放大示意图。
[0037]图2是本技术中本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种介质滤波器调试工装，包括：底板，所述底板平行于水平面；支撑组件，所述支撑组件包括用于放置介质滤波器的支撑板和用于将所述支撑板支撑在所述底板上方的支撑杆，所述支撑板与所述支撑杆可拆卸地连接；压紧组件，所述压紧组件包括可上下移动地设置在所述支撑板上方的压紧板、用于驱动所述压紧板上下移动的气缸；打磨组件，所述打磨组件包括设置在所述底板上的三坐标工作台、连接在所述三坐标工作台上可前后、左右、上下移动的打磨笔；其特征在于：在所述介质滤波器放置在所述支撑板上时，所述介质滤波器上待打磨孔的轴心线垂直于所述底板；所述压紧板上开设有用于露出所述待打磨孔的贯通槽；所述打磨笔包括连接在所述三坐标工作台上的笔套和可拆卸地连接在所述笔套底部的打磨杆，所述打磨杆的下端部呈圆柱状，所述打磨杆的轴心线垂直于所述底板；在所述打磨笔前后、左右、上下移动时，所述打磨杆穿过所述贯通槽伸入所述待打磨孔对所述待打磨孔的底壁和/或侧壁进行打磨，打磨后，所述底壁平行于所述底板，所述侧壁垂直于所述底板。2.根据权利要求1所述的介质滤波器调试工装，其特征在于：所述支撑板上设有用于固定所述介质滤波器的凹槽，所述凹槽的槽底的倾斜程度与所述待打磨孔的倾斜程度相匹...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱琦，张颖，
申请(专利权)人：江苏灿勤科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：