一种用于土地勘测用土壤采样装置制造方法及图纸

技术编号:32410101 阅读:29 留言:0更新日期:2022-02-24 13:12
本实用新型专利技术公开了一种用于土地勘测用土壤采样装置,涉及土壤采样技术领域,包括框架,所述框架内部的顶端设置有调节组件,所述框架的内侧位于调节组件的底端设置有取样框,所述取样框的底端设置有取样刀。本实用新型专利技术通过设置的调节组件、刻度板、测位板,调节组件可以便于控制取样框的下移和上移,从而利于取样操作的进行,刻度板、测位板配合使用,可以精准的把握土壤的采样深度,进而方便工作人员准确把握不同深度土壤的状况;通过设置的限位组件,可以使取样框垂直的插入土壤中,从而避免对判定不同深度的土壤性质带来干扰;通过设置的推土组件,可以实现在取样后将取样框内的土取出的目的。目的。目的。

【技术实现步骤摘要】
一种用于土地勘测用土壤采样装置


[0001]本技术涉及土壤采样
,具体为一种用于土地勘测用土壤采样装置。

技术介绍

[0002]在土地勘测过程中,人们一般会使用土样采集装置,首先将土样采集装置的取土管插入土中,在达到足够深度后进行拔出操作,然后开始测量取土深度,以及划分出所需深度的土壤,现在的土地勘测用高精度土样采集装置基本满足人们需求,但是仍然存在一些问题。
[0003]现在的土地勘测用高精度土样采集装置,对土壤的采样深度无法精准把握,进而不方便人员准确把握不同深度土壤的状况,并且在采样时,采样器难以被垂直插入土壤中,这也为实验人员对判定不同深度土壤性质带来较大的干扰。

技术实现思路

[0004]基于此,本技术的目的是提供一种用于土地勘测用土壤采样装置,以解决现有的技术问题。
[0005]为实现上述目的,本技术提供如下技术方案:一种用于土地勘测用土壤采样装置,包括框架,所述框架内部的顶端设置有调节组件,所述框架的内侧位于调节组件的底端设置有取样框,所述取样框的底端设置有取样刀,所述取样框内部的顶端设置有推土组本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于土地勘测用土壤采样装置,包括框架(1),其特征在于:所述框架(1)内部的顶端设置有调节组件(2),所述框架(1)的内侧位于调节组件(2)的底端设置有取样框(3),所述取样框(3)的底端设置有取样刀(4),所述取样框(3)内部的顶端设置有推土组件(7),所述框架(1)与调节组件(2)之间设置有限位组件(6),所述框架(1)的底端设置有多组定位锥(5),所述框架(1)的一端设置有刻度板(11),所述取样框(3)的一端设置有测位板(10)。2.根据权利要求1所述的一种用于土地勘测用土壤采样装置,其特征在于:所述调节组件(2)包括螺纹孔(202),所述螺纹孔(202)的内部贯穿设置有螺杆(201),所述取样框(3)顶端的内部设置有轴承座(203),所述螺杆(201)与框架(1)、取样框(3)分别通过螺纹孔(202)、轴承座(203)转动连接。3.根据权利要求1所述的一种用于土地勘测用土壤采样装置,其...

【专利技术属性】
技术研发人员:曹益
申请(专利权)人:江西智达世通勘测设计有限公司
类型:新型
国别省市:

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