一种激发波长可调谐微区荧光光谱测量系统技术方案

本实用新型专利技术涉及样品光学检测领域，具体地说是一种激发波长可调谐微区荧光光谱探测系统，其中单色仪、快门、反射式物镜一、被测样品、反射式物镜二、可移动分束片一、高通滤波片、聚焦镜、可移动分束片二和传光光纤端头依次呈一线排列，显微成像时，白光经过可移动分束片一与反射式物镜二照亮被测样品，使被测样品在成像相机上成像，荧光探测时，可移动分束片一与可移动分束片二移出系统，氙灯经单色仪出射的激发光激发被测样品，被测样品出射的荧光经聚焦镜聚焦于传光光纤端头实现荧光采集。本实用新型专利技术通过单色仪来实现激发光源的波长调谐，通过显微成像来实现被测样品微区荧光测量，可以实现对固体样品特别是高压模块样品和低温样品的微区荧光探测。品的微区荧光探测。品的微区荧光探测。

【技术实现步骤摘要】
一种激发波长可调谐微区荧光光谱测量系统


[0001]本技术涉及样品光学检测领域，具体地说是激发波长可调谐微区荧光光谱测量系统。

技术介绍

[0002]荧光光谱测量系统是利用激发光源激发样品分子特征谱段后，收集齐辐射的荧光光强的过程，对荧光光谱的测量可以辅助分析材料的发光特性。
[0003]荧光光谱的测量方法为激发光源激发样品特征谱段，样品辐射荧光，利用光谱仪对荧光进行收集与光谱显示。
[0004]在荧光光谱测量过程中，激发光源可以为氙灯或激光光源，当利用氙灯进行激发时，由于氙灯不是完美的点光源，在聚焦时无法使焦点直径更小而无法对被测样品进行显微原位测量，从而无法应用于固体样品，当利用激光光源进行激发时，由于激光光源波长的单一性而无法测量荧光光强与激发波长的依赖性。
[0005]对于高压样品或低温样品，由于其样品分布无法实现完全均匀，在重复试验中希望可以对被测样品进行原位测量，即多次测量过程中可以获得样品相同位置的荧光光谱，同时，又希望可以改变激发波长从而获得荧光光强与激发波长之间的相关性，在目前的报道成果中还没有能同时满本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种激发波长可调谐微区荧光光谱测量系统，其特征在于：包括氙灯(1)、单色仪(2)、快门(3)、反射式物镜一(4)、反射式物镜二(6)、可移动分束片一(7)、高通滤波片(8)、聚焦镜一(9)、可移动分束片二(10)、光谱采集系统和显微成像系统；其中，单色仪(2)、快门(3)、反射式物镜一(4)、被测样品(5)、反射式物镜二(6)、可移动分束片一(7)、高通滤波片(8)、聚焦镜一(9)、可移动分束片二(10)依次呈线性排列；所述氙灯(1)设于单色仪(2)入口处；所述反射式物镜一(4)、反射式物镜二(6)之间设有用于放置被测样品(5)的空间；所述可移动分束片二(10)的透射光路上设有光谱采集系统，反射光路上设有显微成像系统；所述可移动分束片一(7)的入射光路上依次设有白光光源(20)和聚焦镜二(19)，所述可移动分束片一(7)的反射光路与线性排列方向相反。2.根据权利要求1所述的一种激发波长可调谐微区荧光光谱测量系统，其特征在于：对被测样品进行显微成像时，可移动分束片一(7)位于反射式物镜一(4)和高通滤波片(8)之间，可移动分束片二(10)位于聚焦镜一(9)和光谱采集系统的传光光纤端头(11)之间；白光光源(20)发出的白光依次经过聚焦镜二(19)、可移动分束片一(7)和反射式物镜二(6)照亮被测样品(5)，使被测样品(5)依次经过反射式物镜二(6)、可移动分束片一(7)、高通滤波片(8)以及聚焦镜一(9)后在显微成像系统中成像。3.根据权利要求1所述的一种激发波长可调谐微区荧光光谱测量系统，其特征在于：对被测样品进行荧光光谱测量时，可移动分束片一(7)与可移动分束片二(10)移出线性排列，氙灯(1)发出的激发光经单色仪(2)分光后的光束作为激发光，经反射式物镜一(4)聚焦于被测样品(5)上，使被测样品(5)受激发后辐射荧光，依次...

【专利技术属性】
技术研发人员：张雨桐，隋来志，牛光明，蒋举涛，袁开军，
申请(专利权)人：中国科学院大连化学物理研究所，
类型：新型
国别省市：