一种长光程气室光程检测方法及装置制造方法及图纸

本申请提供一种长光程气室光程检测方法及装置，该方法中，标准长光程气室和待测长光程气室内部压力稳定在相同的数值，测试环境也完全相同，无需考虑非设计光程的杂光的影响，测试条件简单并且容易获得，测试成本较低，耗时较少，根据测试结果也可以快速判断长光程气室是否符合标准，适合于工厂批量生产长光程气室过程中光程的快速及批量检测。室过程中光程的快速及批量检测。室过程中光程的快速及批量检测。

【技术实现步骤摘要】
(λ)；
[0016]根据所述第一光谱数据I
01
(λ)和所述第二光谱数据I1(λ)，计算所述标准吸收光谱A1(λ)＝ln[I
01
(λ)/I1(λ)]。
[0017]在本申请一些实施例中，在所述获取标准吸收光谱步骤和所述获取待测吸收光谱步骤中，所采用的光源为发光稳定的宽光谱光源，并且所述宽光谱光源的波长范围与所述第二气体的特征吸收范围相对应。
[0018]在本申请一些实施例中，所述判断待测长光程气室光程步骤具体为：
[0019]比较所述待测吸收光谱与所述标准吸收光谱的差异，若所述待测吸收光谱与所述标准吸收光谱一致，则所述待测长光程气室的光程与所述标准长光程气室的光程一致；
[0020]若所述待测吸收光谱强度小于所述标准吸收光谱的强度，则所述待测长光程气室的光程与所述标准长光程气室的光程不一致。
[0021]本申请第二种实施方式提供一种长光程气室光程检测装置，用于实施如前文所述的方法，包括：
[0022]光具座，所述光具座上依次安装有光源、气室安装部和光谱仪；所述气室安装部用于安装标准气室或待测气室；
[0023]所述光源的发光点位置与所述标准气室或所述待测气室入光口的焦点重合，所述标准气室或所述待测气室的出光口与所述光谱仪的入光口重合。
[0024]在本申请一些实施例中，所述光谱仪为光纤光谱仪，所述标准气室或所述待测气室与所述光纤光谱仪采用光纤连接，并且所述光源、所述标准气室或所述待测气室的光轴以及所述光纤入光口在同一高度并且在同一轴线上，所述光纤入光口在所述标准气室或所述待测气室的出光口焦点位置。
[0025]与现有技术相比，本申请的有益效果为：
[0026]本申请提供的长光程气室光程检测方法，在获取标准吸收光谱步骤和获取待测吸收光谱步骤中，标准长光程气室和待测长光程气室内部压力稳定在相同的数值，测试环境也完全相同，无需考虑非设计光程的杂光的影响，测试条件简单并且容易获得，测试成本较低，耗时较少，根据测试结果也可以快速判断长光程气室是否符合标准，适合于工厂批量生产长光程气室过程中光程的快速及批量检测。
附图说明
[0027]图1是本申请一种实施方式的长光程气室光程检测装置的结构示意图；
[0028]图2是应用本申请一种实施方式的长光程气室光程检测方法的测试结果图；
[0029]图中编号：1、光具座；2、光源；21、光源发光点；30、气室安装部；31、气室入光口；32、气室出光口；4、光谱仪；41、光谱仪入光口；5、光纤。
具体实施方式
[0030]以下结合具体实施方式对本申请的技术方案进行详实的阐述，然而应当理解，在没有进一步叙述的情况下，一个实施方式中的元件、结构和特征也可以有益地结合到其他实施方式中。
[0031]在本申请的描述中，需要理解的是，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能
理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。
[0032]在本申请的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。
[0033]值得理解的是，本文中使用的术语“系统”、“单元”、“模块”是一种用于区分不同级别的不同组件、元件、零件、部分或组件的方法。但是，如果这些术语可以被其他能达到相同目的的表达方式取代。
[0034]值得理解的是，当单元、模块或块被称为“连接至”或“耦合至”另一单元、模块或块时，其可以与其他单元、模块或块直接连接、耦合、通信，除非上下文另有明确说明，否则两者之间可能存在中间单元、模块或块。
[0035]所述的实施方式仅仅是对本申请的优选实施方式进行描述，并非对本申请的范围进行限定，在不脱离本申请设计精神的前提下，本领域普通技术人员对本申请的技术方案作出的各种变形和改进，均应落入本申请权利要求书确定的保护范围内。
[0036]如图1所示，为本申请第一种实施方式提供的一种长光程气室光程检测装置，包括：
[0037]光具座1，所述光具座1上依次安装有光源2、气室安装部30和光谱仪4；所述气室安装部30用于安装标准气室或待测气室；
[0038]所述光源的发光点21位置与所述标准气室或所述待测气室入光口31的焦点重合，所述标准气室或所述待测气室的出光口32的焦点与所述光谱仪的入光口41重合。
[0039]在一些实施例中，所述光谱仪为光纤光谱仪，所述标准气室或所述待测气室与所述光纤光谱仪采用光纤5连接，并且所述光源、所述标准气室或所述待测气室的光轴以及所述光纤入光口在同一高度并且在同一轴线上，所述标准气室或所述待测气室的出光口焦点位置与所述光纤入光口重合。
[0040]以紫外光谱仪所采用的长光程气室为例，当该装置用于检测紫外光谱仪的所采用的长光程气室时，光源选择脉冲氙灯，在240～330nm之间有连续光谱能量输出，光纤光谱仪的光谱响应范围覆盖240～330nm，光纤为两端带SMA905标准接头的石英光纤。
[0041]本申请第二种实施方式还提供一种长光程气室光程检测方法，应用上述长光程气室光程检测装置，包括如下步骤：
[0042]S1：获取标准吸收光谱步骤，采用标准长光程气室作为气室，测量标准长光程气室的标准吸收光谱；
[0043]S2：获取待测吸收光谱步骤，采用待测长光程气室作为气室，测量待测长光程气室的待测吸收光谱；
[0044]S3：判断待测长光程气室光程步骤，比较所述待测吸收光谱与所述标准吸收光谱的差异，根据比较结果，判断待测长光程气室的光程是否与标准长光程气室的光程一致。
[0045]本申请提供的长光程气室光程检测方法，在所述获取标准吸收光谱步骤和所述获取待测吸收光谱步骤中，标准长光程气室和待测长光程气室内部压力稳定在相同的数值，测试环境也完全相同。因此，采用本实施方式的方法检测待测长光程气室的光程是否与标
准长光程气室一致时，无需考虑非设计光程的杂光的影响，测试条件简单并且容易获得，适合于工厂批量生产长光程气室过程中光程的快速及批量检测。
[0046]具体地，所述获取标准吸收光谱步骤具体为：
[0047]向所述标准长光程气室通入第一气体，直至所述标准长光程气室压力稳定在设定值，采用光谱仪采集通过所述标准长光程气室的第一光谱数据I0(λ)；
[0048]向所述标准长光程气室通入第一浓度的第二气体，直至所述标准长光程气室压力稳定在所述设定值，采用光谱仪采集通过所述标准长光程气室的第二光谱数据I(λ)；
[0049]根据所述第一光谱数据I0(λ)和所述第二光谱数据I(λ)，计算所述标准吸收光谱A0(λ)＝ln[I本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种长光程气室光程检测方法，其特征在于，包括：获取标准吸收光谱步骤，采用标准长光程气室作为气室，测量标准长光程气室的标准吸收光谱；获取待测吸收光谱步骤，采用待测长光程气室作为气室，测量待测长光程气室的待测吸收光谱；判断待测长光程气室光程步骤，比较所述待测吸收光谱与所述标准吸收光谱的差异，根据比较结果，判断待测长光程气室的光程是否与标准长光程气室的光程一致。2.根据权利要求1所述的长光程气室光程检测方法，其特征在于，所述获取标准吸收光谱步骤具体为：向所述标准长光程气室通入第一气体，直至所述标准长光程气室压力稳定在设定值，采用光谱仪采集通过所述标准长光程气室的第一光谱数据I0(λ)；向所述标准长光程气室通入第一浓度的第二气体，直至所述标准长光程气室压力稳定在所述设定值，采用光谱仪采集通过所述标准长光程气室的第二光谱数据I(λ)；根据所述第一光谱数据I0(λ)和所述第二光谱数据I(λ)，计算所述标准吸收光谱A0(λ)＝ln[I0(λ)/I(λ)]；其中，所述第二气体在所述标准长光程气室的检测波长范围内具有特征吸收。3.根据权利要求2所述的长光程气室光程检测方法，其特征在于，所述获取待测吸收光谱步骤具体为：向所述待测长光程气室通入所述第一气体，直至所述待测长光程气室压力稳定在所述设定值，采用光谱仪采集通过所述待测长光程气室的第三光谱数据I
01
(λ)；向所述待测长光程气室通入所述第一浓度的所述第二气体，直至所述待测长光程气室压力稳定在所述设定值，采用光谱仪采集通过所述待测长光程气室的第四光谱数据I1(λ)；根据所述第一光谱数据I
...

【专利技术属性】
技术研发人员：武婧，王新全，崔俊宏，
申请(专利权)人：青岛崂应海纳光电环保集团有限公司，
类型：发明
国别省市：