一种长光程气室光程检测方法及装置制造方法及图纸

本申请提供一种长光程气室光程检测方法及装置，该方法中，标准长光程气室和待测长光程气室内部压力稳定在相同的数值，测试环境也完全相同，无需考虑非设计光程的杂光的影响，测试条件简单并且容易获得，测试成本较低，耗时较少，根据测试结果也可以快速判断长光程气室是否符合标准，适合于工厂批量生产长光程气室过程中光程的快速及批量检测。室过程中光程的快速及批量检测。室过程中光程的快速及批量检测。

【技术实现步骤摘要】
(λ)；
[0016]根据所述第一光谱数据I
01
(λ)和所述第二光谱数据I1(λ)，计算所述标准吸收光谱A1(λ)＝ln[I
01
(λ)/I1(λ)]。
[0017]在本申请一些实施例中，在所述获取标准吸收光谱步骤和所述获取待测吸收光谱步骤中，所采用的光源为发光稳定的宽光谱光源，并且所述宽光谱光源的波长范围与所述第二气体的特征吸收范围相对应。
[0018]在本申请一些实施例中，所述判断待测长光程气室光程步骤具体为：
[0019]比较所述待测吸收光谱与所述标准吸收光谱的差异，若所述待测吸收光谱与所述标准吸收光谱一致，则所述待测长光程气室的光程与所述标准长光程气室的光程一致；
[0020]若所述待测吸收光谱强度小于所述标准吸收光谱的强度，则所述待测长光程气室的光程与所述标准长光程气室的光程不一致。
[0021]本申请第二种实施方式提供一种长光程气室光程检测装置，用于实施如前文所述的方法，包括：
[0022]光具座，所述光具座上依次安装有光源、气室安装部和光谱仪；所述气室安装部用于安装标准气室或待测本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种长光程气室光程检测方法，其特征在于，包括：获取标准吸收光谱步骤，采用标准长光程气室作为气室，测量标准长光程气室的标准吸收光谱；获取待测吸收光谱步骤，采用待测长光程气室作为气室，测量待测长光程气室的待测吸收光谱；判断待测长光程气室光程步骤，比较所述待测吸收光谱与所述标准吸收光谱的差异，根据比较结果，判断待测长光程气室的光程是否与标准长光程气室的光程一致。2.根据权利要求1所述的长光程气室光程检测方法，其特征在于，所述获取标准吸收光谱步骤具体为：向所述标准长光程气室通入第一气体，直至所述标准长光程气室压力稳定在设定值，采用光谱仪采集通过所述标准长光程气室的第一光谱数据I0(λ)；向所述标准长光程气室通入第一浓度的第二气体，直至所述标准长光程气室压力稳定在所述设定值，采用光谱仪采集通过所述标准长光程气室的第二光谱数据I(λ)；根据所述第一光谱数据I0(λ)和所述第二光谱数据I(λ)，计算所述标准吸收光谱A0(λ)＝ln[I0(λ)/I(λ)]；其中，所述第二气体在所述标准长光程气室的检测波长范围内具有特征吸收。3.根据权利要求2所述的长光程气室光程检测方法，其特征在于，所述获取待测吸收光谱步骤具体为：向所述待测长光程气室通入所述第一气体，直至所述待测长光程气室压力稳定在所述设定值，采用光谱仪采集通过所述待测长光程气室的第三光谱数据I
01
(λ)；向所述待测长光程气室通入所述第一浓度的所述第二气体，直至所述待测长光程气室压力稳定在所述设定值，采用光谱仪采集通过所述待测长光程气室的第四光谱数据I1(λ)；根据所述第一光谱数据I
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【专利技术属性】
技术研发人员：武婧，王新全，崔俊宏，
申请(专利权)人：青岛崂应海纳光电环保集团有限公司，
类型：发明
国别省市：