一种放射性圆柱体样品测量用气动夹具制造技术

技术编号:32363070 阅读:23 留言:0更新日期:2022-02-20 03:33
针对反应堆内圆柱形辐照样品测量时,传统机械手和人工夹持存在夹持不稳、样品易脱落,且人工夹持易遭受γ射线辐射等缺点,本发明专利技术提出了一种放射性圆柱体样品测量用气动夹具,包括气动夹持装置、样品定位放置装置、气动操作手柄、空压机,样品定位放置装置包括形状对称且与气动夹持装置底座相匹配的C型底座和便于圆柱样品稳定的凹槽,以实现凹槽的快速定位和样品的快速放置;气动夹持装置包括形状为圆弧形开口且对称布置第一夹持板和第二夹持板,以实现稳固夹持。空压机通过气管线依次与气动操作手柄、气动夹持装置相连,实现装置的夹持功能。该发明专利技术组装简单且能够快速实现圆柱样品的装夹,同时夹持板较薄,测量空间大易实现多点位测量。位测量。位测量。

【技术实现步骤摘要】
一种放射性圆柱体样品测量用气动夹具


[0001]本专利技术属于测量用气动夹具领域,特别涉及一种放射性圆柱体样品测量用气动夹具。

技术介绍

[0002]随着反应堆内材料辐照效应研究的不断深入,涉及材料辐照后检测与分析的样品逐渐增多,对辐照后样品微小尺寸的精确测量需求已越来越迫切。
[0003]目前,放射性圆柱样品尺寸(高度和直径)微米量级的精确测量,主要采取用机械手或人工方式握住长夹具夹持,配合三坐标扫描针逐级扫描样品位置点的方式来完成。但在测量圆柱放射样品尤其是小的放射性样品尺寸时,机械手或人工夹持要么夹持不稳、样品易脱落,要么夹持过度样品存在一定的变形,不利于样品尺寸的精确测量,实验测量结果误差大。同时实验人员长时间夹持,需要承受较高γ射线辐射剂量,严重危害实验人员的身体健康。
[0004]因此,亟需设计一种夹持稳固、方便装夹圆柱放射样品的夹具,以配合三坐标扫描探针实现放射性圆柱样品微米量级尺寸变化的精确测量。

技术实现思路

[0005]为达此目的,提出了一种放射性圆柱体样品测量用气动夹具:
[0006]一种放射性圆柱体样品测量用气动夹具,包括气动夹持装置、样品定位放置装置、气动操作手柄、空压机;所述气动夹持装置包括形状对称的第一夹持部和第二夹持部以及气动装置、底座,所述第一夹持部和第二夹持部镜像对称布置并与所述气动装置相连接,所述气动装置固定安装在底座上,所述底座放置于或固定于测试台上,所述第一夹持部上设置有圆弧状开口的第一夹持板,所述第二夹持部上对称设置有圆弧状开口的第二夹持板,所述气动装置驱动第一夹持部、第二夹持部以实现第一夹持板、第二夹持板开合,从而完成对待测放射性圆柱样品的固定和松弛;所述样品定位放置装置包括形状对称的第一放置部、第二放置部;所述第一放置部包括形状为C形开口的第一C型底座、第一支架,所述第一支架安装在第一C型底座上,所述第一支架端部设置第一凹槽;所述第二放置部包括形状为C形开口的第二C型底座、第二支架,所述第二支架安装在第二C型底座上,所述第二支架也设置有第二凹槽;所述第一放置部、第二放置部对称放置后,使待测放射性圆柱样品的两端分别搭接在第一凹槽与第二凹槽内实现待测放射性圆柱样品的放置;所述空压机通过气管线依次与气动操作手柄、气动装置相连并为气动装置提供气源,所述气动操作手柄实现对气动装置进行控制。
[0007]优选的,所述第一C型底座和第二C型底座的C形开口宽度与底座外形相匹配,所述第一C型底座和第二C型底座与底座相匹配放置且第一夹持板和第二夹持板闭合后,第一凹槽、第二凹槽、第一夹持板圆弧状开口、第二夹持板圆弧状开口轴线相重合。
[0008]优选的,所述第一C型底座、第二C型底座的开口宽度和开口深度与底座完全贴合
匹配放置后,所述第一C型底座和第二C型底座之间存在间隙,所述第一凹槽、第二凹槽之间也留有间隙且不会与第一夹持板第二夹持板相接触。
[0009]优选的,第一夹持部和第二夹持部上至少设置一个防撞块,防止无待测放射性圆柱体样品且第一夹持板、第二夹持板闭合时发生碰撞损伤第一夹持板、第二夹持板。
[0010]优选的,所述第一夹持板和第二夹持板的圆弧状开口形状与待测放射性圆柱体样品外形相匹配,所述第一夹持板和第二夹持板的圆弧状开口的圆弧长度小于等于二分之一圆周且大于等于四分之一圆周。
[0011]优选的,所述第一凹槽、第二凹槽的形状为半圆形槽或楔形槽。
[0012]本专利技术的工作原理或工作过程:空压机通过气管线依次与气动操作手柄、气动装置相连并为气动装置提供气源,气动操作手柄控制气动装置从而使第一夹持部和第二夹持部实现开合。测试放射性圆柱样品时,先使形状对称的第一放置部、第二放置部与气动夹持装置组装起来,使第一C型底座和第二C型底座与底座完全贴合匹配,促使第一凹槽、第二凹槽形成待测样品放置空间。将待测的放射性圆柱样品的两端分别放置在第一凹槽、第二凹槽内。控制气动操作手柄控制气动装置动作,使第一夹持部和第二夹持部移动闭合,第一夹持板、第二夹持板完成待测的放射性圆柱样品的夹持。将第一放置部、第二放置部拆除,使用三坐标对待测的放射性圆柱样品进行测量。完成测量后,使用长夹具夹持放射性圆柱样品,控制气动操作手柄松开第一夹持板、第二夹持板,将射性圆柱样品放置到专用存放盒内。
[0013]本专利技术的有益效果:(1)该放射性圆柱体样品测量用气动夹具使用形状对称的样品定位放置装置,同时优化第一C型底座、第二C型底座与气动夹持装置的底座形状,使其二者外形相匹配,从而实现了待测放射性圆柱样品的精准放置和快速定位,配合气动夹持装置后可以快速实现待测样品的装夹。
[0014](2)气动夹持装置上的第一夹持板、第二夹持板采用圆弧形的形状配合固定、松弛样品,可提高放射性样品测量时的稳定性,同时第一夹持板、第二夹持板厚度较薄,最大限度增加样品直径和高度的测量空间,大大提升样品测量精度。
[0015](3)采用气动阀远距离操控,减少实验人员与待测放射性圆柱样品的接触时间,确保了实验人员的身体健康。
附图说明
[0016]图1放射性圆柱体样品测量用气动夹具;
[0017]图2样品定位放置装置;
[0018]图3气动夹持装置;
[0019]图4完成放射性圆柱体样品夹持;
[0020]图中:1、气动夹持装置,2、样品定位放置装置,3、气动操作手柄,4、空压机,5、放射性圆柱体样品,11、第一夹持部,12、第二夹持部,13、气动装置,14、底座,111、第一夹持板,121、第二夹持板,112、防撞块,21、第一放置部,22、第二放置部,211、第一C型底座,212、第一支架,2121、第一凹槽,2122、第一支架横梁2122,221、第二C型底座,222、第二支架,2221、第二凹槽,2222、第二支架横梁。
具体实施方式
[0021]为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。下面结合附图对本专利技术做详细说明。
[0022]为了使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚明白,下面结合具体实施方式和附图,对本专利技术做进一步详细说明。
[0023]实施例一
[0024]一种放射性圆柱体样品测量用气动夹具,包括气动夹持装置1、样品定位放置装置2、气动操作手柄3、空压机4;气动夹持装置1主要由形状镜像对称的第一夹持部11和第二夹持部12以及气动装置13、底座14组成,其中第一夹持部11和第二夹持部12镜像对称布置并与气动装置13相连接,气动装置13固定安装在底座14上,底座固定或者直接放置在测试台上。所述第一夹持部11上设置有圆弧状开口的第一夹持板111,所述第二夹持部12上对称设置有圆弧状开口的第二夹持板121,此处第一夹持板111、第二夹持板121的厚度较薄,以保证三坐标探针有足够的空间进本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种放射性圆柱体样品测量用气动夹具,其特征在于,包括气动夹持装置(1)、样品定位放置装置(2)、气动操作手柄(3)、空压机(4);所述气动夹持装置(1)包括形状对称的第一夹持部(11)和第二夹持部(12)、气动装置(13)、底座(14),所述第一夹持部(11)和第二夹持部(12)镜像对称布置并与所述气动装置(13)相连接,所述气动装置(13)固定安装在底座(14)上,所述第一夹持部(11)上设置有圆弧状开口的第一夹持板(111),所述第二夹持部(12)上对称设置有圆弧状开口的第二夹持板(121),所述气动装置(13)驱动第一夹持部(11)、第二夹持部(12)以实现第一夹持板(111)、第二夹持板(121)闭合与张开,从而完成对待测放射性圆柱样品的固定和松弛;所述样品定位放置装置(2)包括形状对称的第一放置部(21)、第二放置部(22);所述第一放置部(21)包括形状为C形开口的第一C型底座(211)、第一支架(212),所述第一支架(212)安装在第一C型底座(211)上,所述第一支架(212)端部设置有第一凹槽(2121);所述第二放置部(22)包括形状为C形开口的第二C型底座(221)、第二支架(222),所述第二支架(222)安装在第二C型底座(221)上,所述第二支架(222)也对称设置有第二凹槽(2221);所述第一放置部(21)、第二放置部(22)对称放置后,使待测放射性圆柱样品的两端分别搭接在第一凹槽(2121)与第二凹槽(2221)内以实现待测放射性圆柱样品的放置;所述空压机(4)通过气管线依次与气动操作手柄(3)、气动装置(13)相连并为气动装置(13)提供气源,所述气动操作手柄(3)实现对气...

【专利技术属性】
技术研发人员:张新荣刘显坤冯丹芳张松宝刘晓蒋干李江波唐彬师菁亮司开拓罗正华
申请(专利权)人:中国工程物理研究院电子工程研究所
类型:发明
国别省市:

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