一种基于双视场偏振结构检测小型成像系统的探测装置制造方法及图纸

技术编号:32362214 阅读:29 留言:0更新日期:2022-02-20 03:31
本发明专利技术公开了一种基于双视场偏振结构检测小型成像系统的探测装置,能够有效解决传统激光主动探测装置的视场角受限、探测设备难以小型化、像差难以抑制、激光能量利用率低,背景杂散光干扰严重等问题。本发明专利技术装置应用偏振分束结构,入射激光经偏振分束器反射和透射可分为两束线偏振光,能够在保证大视场探测的同时,兼顾装置小型化。激光回波能量利用率接近100%。偏振分束结构中的1/4波片可改变线偏振光的偏振状态,同时可隔离成像背景的杂散光,保证成像质量,可随时检测是否存在小型成像系统,保护人们的隐私安全,符合当前小型探测设备的发展需求。备的发展需求。备的发展需求。

【技术实现步骤摘要】
一种基于双视场偏振结构检测小型成像系统的探测装置


[0001]本专利技术属于光学成像和激光探测
,具体涉及一种基于双视场偏振结构检测小型成像系统的探测装置。

技术介绍

[0002]小型成像系统应用于市面上大部分隐蔽探测设备中,如针孔摄像头、激光测距机、微光夜视仪等。传统的探测小型成像系统的光学探测方法主要包括“猫眼效应”以及“猫眼效应”衍生的衍射环和光斑阵列的特征提取方法、单光子探测法,色差探测法等。目前,多数激光主动探测装置为单视场结构,存在光学成像系统的视场角受限、能量利用率低、背景杂散光干扰严重等问题。
[0003]为保证一定的视场角,需要提高系统传感面尺寸或减小光学成像系统焦距,且为保证设备的进光量,光学系统通光口径不宜过小,因此光学成像系统的相对孔径较大,导致产生系统设计困难、光学传感器难以满足小型化条件、像差难以抑制等问题。传统探测结构中的普通分束镜反射/透射激光,每经过一次分束镜就会产生50%光能量的损耗,导致系统能量损失率近50%,激光能量利用率较低,且其无法抑制背景杂散光对成像质量的影响。r/>
技术实现思路
<本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于双视场偏振结构检测小型成像系统的探测装置,其特征在于,包括激光器(1)、整形透镜(2)、反射镜1(3)、分束系统(4)、反射镜2(5)、成像透镜(6)、面阵光电传感器接收模块(7)、处理模块(8)、显示模块(9),对小型成像系统(10)进行探测;其中:所述小型成像系统位于目标探测区域,所述激光器与整形透镜共轴放置,所述激光器发射的激光经过所述整形透镜透射及反射镜1反射后,垂直入射至所述分束系统,所述分束系统将入射激光经反射和折射分为两束线偏振光,即s光和p光;调整系统装置角度,保证两视场均位于探测范围内;其中,反射的s偏振光经1/4波片后变为圆偏振光照射探测区域,被探测区域目标反射后不改变偏振方向,回波再次经过1/4波片转变为p偏振光经偏振分束器透射进入所述成像透镜;透射的p偏振光经1/4波片后变为圆偏振光,经反射镜2反射后照射探测区域,被探测区域目标反射后不改变偏振方向,回波再经过1/4波片转变为s偏振光经偏振分束器反射进入所述成像透镜;所述面阵光电传...

【专利技术属性】
技术研发人员:张海洋屈嘉惠汪林赵长明张子龙
申请(专利权)人:北京理工大学
类型:发明
国别省市:

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