用于经由单应重采样变换进行重投影和反投影的系统和方法技术方案

本发明专利技术题为“用于经由单应重采样变换进行重投影和反投影的系统和方法”。本发明专利技术提供了用于经由单应变换并且具体地一维单应变换重投影和反投影感兴趣的对象的系统和方法。在一个示例中，一种方法可包括：采集对应于多条发散X射线的成像数据，将单个函数形式指定给多条发散X射线，经由单应变换基于单个函数形式确定多个分布样本与多个X射线检测器区间之间的交互的权重，并且基于交互的权重重建图像。并且基于交互的权重重建图像。并且基于交互的权重重建图像。

【技术实现步骤摘要】
用于经由单应重采样变换进行重投影和反投影的系统和方法


[0001]本文所公开的主题的实施方案涉及医疗成像，并且更具体地涉及经由一维单应重采样变换对感兴趣的对象进行重投影和反投影。

技术介绍

[0002]计算机断层扫描(CT)可用作非侵入式医疗成像技术。具体地，CT成像数据采集可包括使X射线束穿过对象诸如患者，使得X射线束衰减，然后在X射线检测器阵列处收集衰减的X射线束。所采集的CT成像数据可以是对应于对象的衰减系数分布的一组线积分测量值。可经由分析或迭代重建算法中的反投影或反向投影步骤，由该组线积分测量值将分布重建为可视图像。就迭代重建算法而言，然后可经由重投影或前向投影步骤将重建的分布映射到一组更新的计算线积分上，之后可根据需要迭代反投影步骤和重投影步骤。
[0003]断层摄影算子或投影器可被选择为编码对应于CT成像数据的积分线的几何表示。对于反投影步骤，这可以代数方式表示为：
[0004][0005]其中p
i
为I线积分测量值的第i个线积分测量值，并且r
ij
为断层摄影算子的矩阵表示R的元本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种方法，包括：采集对应于多条发散X射线的成像数据；将单个函数形式指定给所述多条发散X射线；经由单应变换基于所述单个函数形式确定多个分布样本与多个X射线检测器区间之间的交互的权重；以及基于所述交互的权重重建图像。2.根据权利要求1所述的方法，还包括对所述单个函数形式采样以获得期望的精度水平。3.根据权利要求2所述的方法，其中对所述单个函数形式进行采样包括利用一组一维基函数扩展所述单个函数形式。4.根据权利要求3所述的方法，其中所述交互的权重中的每个权重与所述一组一维基函数中的相应一维基函数相关联。5.根据权利要求2所述的方法，其中对所述单个函数形式进行采样包括通过从所采集的成像数据内插已知点来确定对应于所述单个函数形式的未知点。6.根据权利要求1所述的方法，其中在基于平板检测器的锥形束断层摄影几何结构中对所述成像数据进行采样。7.根据权利要求1所述的方法，其中在采集所述成像数据之前定义所述单应变换。8.根据权利要求1所述的方法，其中重建所述图像包括用基于所述交互的权重确定的对称投影器/反投影器算子对迭代地重建所述图像。9.根据权利要求1所述的方法，其中所述交互的权重是并行确定的。10.根据权利要求1所述的方法，还包括基于所重建的图像诊断医疗问题。11.一种医疗成像系统，包括：X射线源；X射线检测器阵列，所述X射线检测器阵列被配置为检测由所述X射线源发射并被感兴趣对象衰减的X射线辐射；和控制器，所述控制器通信地耦接到所述X射线检测器阵列并将指令存储在非暂态存储器中，所述指令可执行以：采集在所述X射线检测器阵列的采样网格和区间上采样的采样成像数据；基于期望的精度水平为一组单应重采样变换选择一组基函数；并行地确定所述一组...

【专利技术属性】
技术研发人员：C，
申请(专利权)人：通用电气精准医疗有限责任公司，
类型：发明
国别省市：