量子芯片测试方法、装置及系统制造方法及图纸

本申请提供一种量子芯片测试方法、装置及系统，通过将测试流程参数以预设程序解析文件的形式上传到服务器的目标数据库中，通过服务器转化为脉冲信号指令并发送给量子测控装置，由此量子测控装置可以根据脉冲信号指令生成脉冲测试信号从而加载到待测量子芯片上进行测试，并自动获取测试数据后将测试数据实时更新到目标数据库中，计算机设备加载测试数据并对测试数据进行数据处理后，生成测试结果。如此，通过将传统技术中的人工测试过程以程序形式自动生成对应的脉冲测试信号，完成整个芯片测试的流程，进而有效提高测试效率，并且便于适配复杂测试情况，能够避免在复杂测试情况下由于手动误操作产生错误的测试结果。由于手动误操作产生错误的测试结果。由于手动误操作产生错误的测试结果。

【技术实现步骤摘要】
量子芯片测试方法、装置及系统


[0001]本申请涉及量子测控
，具体而言，涉及一种量子芯片测试方法、装置及系统。

技术介绍

[0002]在量子芯片的参数测试过程中，通常是由测试人员手动配置好测试参数后进行测试的。测试人员通常需要手动频繁设置量子测控仪器的各类测试参数后人工进行测量，并频繁收集每个测试流程的测量数据后，分析测试结果。此种方式不仅费时费力，影响测试效率，并且在复杂测试情况还可能会由于手动误操作产生错误的测试结果。

技术实现思路

[0003]基于现有设计的不足，本申请提供一种量子芯片测试方法、装置及系统，通过将传统技术中的人工测试过程以程序形式自动生成对应的脉冲测试信号，完成整个芯片测试的流程，进而有效提高测试效率，并且便于适配复杂测试情况，能够避免在复杂测试情况下由于手动误操作产生错误的测试结果。
[0004]根据本申请的第一方面，提供一种量子芯片测试方法，应用于量子芯片测试系统，所述量子芯片测试系统包括计算机设备、服务器以及量子测控装置，所述量子测控装置与待测量子芯片连接，所述服务器分别与所述量子测控装置和所述计算机设备通信连接，所述方法包括：
[0005]所述计算机设备将配置的测试流程参数以预设程序解析文件的形式上传到所述服务器的目标数据库中；
[0006]所述服务器将所述预设程序解析文件转化为脉冲信号指令，并将所述脉冲信号指令发送给所述量子测控装置；
[0007]所述量子测控装置在接收到所述脉冲信号指令后，根据所述脉冲信号指令生成脉冲测试信号，将所述脉冲测试信号加载到待测量子芯片上进行测试，并获取所述量子芯片执行测试后的测试数据，将所述测试数据实时更新到所述目标数据库中；
[0008]所述计算机设备在检测到所述目标数据库中更新的测试数据时，加载所述测试数据并对所述测试数据进行数据处理后，生成测试结果。
[0009]在第一方面的一种可能的实施方式中，所述计算机设备预先安装有流程测试工具包，在所述计算机设备将配置的测试流程参数以预设程序解析文件的形式上传到所述服务器的目标数据库中的步骤之前，所述方法还包括：
[0010]所述计算机设备运行所述流程测试工具包的测试程序，生成待配置的量子芯片测试选项；
[0011]响应对所述量子芯片测试选项的配置操作，获得测试配置数据，并根据所述测试配置数据生成对应的测试流程参数。
[0012]在第一方面的一种可能的实施方式中，所述测试配置数据包括不同测试流程之间
的流程控制顺序以及每个测试流程对应的参数配置选项的选项配置信息；
[0013]所述响应对所述量子芯片测试选项的配置操作，获得测试配置数据的步骤，包括：
[0014]响应对所述量子芯片测试选项的第一配置操作指令，生成至少一个测试流程，并配置每个测试流程之间的流程控制顺序；
[0015]响应对每个测试流程的第二配置操作指令，配置每个测试流程对应的参数配置选项，并获得每个测试流程对应的参数配置选项的选项配置信息。
[0016]在第一方面的一种可能的实施方式中，每个测试流程分别对应于至少一个待测试目标对象；所述待测试目标对象包括下列之一：
[0017]量子比特传导性测试、读取装置传导性测试、传输线传导性测试、所述量子芯片中各个量子比特的频率参数测试、弛豫时间参数测试、退相干时间参数测试。
[0018]在第一方面的一种可能的实施方式中，所述量子测控装置在接收到所述脉冲信号指令后，根据所述脉冲信号指令生成脉冲测试信号，将所述脉冲测试信号加载到待测量子芯片上进行测试，并获取所述量子芯片执行测试后的测试数据，将所述测试数据实时更新到所述目标数据库中的步骤，包括：
[0019]所述量子测控装置从所述脉冲信号指令中获得每个测试流程的脉冲配置参数以及所述测试流程的流程控制顺序，所述脉冲配置参数包括以下配置参数中的至少一种：偏置脉冲参数、微波脉冲发射参数、脉冲采集参数以及波形参数；
[0020]根据每个测试流程的脉冲配置参数，分别将所述脉冲配置参数对应的脉冲测试信号按照所述测试流程的流程控制顺序，依次加载到待测量子芯片上执行每个测试流程的测试；
[0021]获得所述量子芯片基于所述脉冲测试信号执行每个测试流程的测试并返回的测试数据，将所述测试数据实时更新到所述目标数据库中，并根据测试反馈数据执行下一个测试流程的测试，直到所有测试流程均测试结束。
[0022]在第一方面的一种可能的实施方式中，所述测试流程包括能谱实验测试流程、Rabi实验测试流程、T1实验测试流程以及Ramsey实验测试流程；
[0023]所述根据每个测试流程的脉冲配置参数，分别将所述脉冲测试信号按照所述测试流程的流程控制顺序，依次加载到待测量子芯片上执行每个测试流程的测试，以及获得所述量子芯片基于所述脉冲测试信号执行每个测试流程的测试并返回的测试数据，并将所述测试数据实时更新到所述目标数据库中的步骤，包括：
[0024]根据所述能谱实验测试流程的脉冲配置参数，将所述脉冲测试信号加载到待测量子芯片上执行能谱实验，获得所述量子芯片中各个量子比特的频率参数；
[0025]将所述频率参数作为所述Rabi实验测试流程的输入参数，继续根据所述Rabi实验测试流程的脉冲配置参数执行Rabi实验，获得π脉冲波形参数和幅值参数；
[0026]将所述π脉冲波形参数和所述幅值参数分别作为所述T1实验测试流程以及所述Ramsey实验测试流程的输入参数，继续根据所述T1实验测试流程以及Ramsey实验测试流程的脉冲配置参数分别执行完成T1实验和Ramsey实验，分别获得弛豫时间参数和退相干时间参数；
[0027]将所述频率参数、所述π脉冲波形参数和幅值参数、所述弛豫时间参数、退相干时间参数之一或者组合作为测试数据实时更新到所述目标数据库中。
[0028]在第一方面的一种可能的实施方式中，所述对所述测试数据进行数据处理后，生成测试结果的步骤，包括：
[0029]将所述测试数据中的每个测试采集项目的数值与对应的预设数值范围进行比对，获得每个测试采集项目的比对结果；
[0030]根据所述每个测试采集项目的比对结果，判断所述待测量子芯片的性能是否合格。
[0031]根据本申请的第二方面，提供一种量子芯片测试方法，应用于量子测控装置，所述量子测控装置与待测量子芯片和服务器分别通信连接，所述服务器与计算机设备通信连接，所述方法包括：
[0032]接收所述服务器发送的脉冲信号指令，其中，所述脉冲信号指令由所述服务器通过转化所述计算机设备上传到所述服务器的目标数据库中的预设程序解析文件获得，所述预设程序解析文件基于所述计算机设备配置的测试流程参数得到；
[0033]根据所述脉冲信号指令生成脉冲测试信号，将所述脉冲测试信号加载到待测量子芯片上进行测试，并获取所述量子芯片执行测试后的测试数据，将所述测试数据实时更新到所述目标数据库中，以使得所述计算机设备在检测到所述目标数据库中更新本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种量子芯片测试方法，其特征在于，应用于量子芯片测试系统，所述量子芯片测试系统包括计算机设备、服务器以及量子测控装置，所述量子测控装置与待测量子芯片连接，所述服务器分别与所述量子测控装置和所述计算机设备通信连接，所述方法包括：所述计算机设备将配置的测试流程参数以预设程序解析文件的形式上传到所述服务器的目标数据库中；所述服务器将所述预设程序解析文件转化为脉冲信号指令，并将所述脉冲信号指令发送给所述量子测控装置；所述量子测控装置在接收到所述脉冲信号指令后，根据所述脉冲信号指令生成脉冲测试信号，将所述脉冲测试信号加载到待测量子芯片上进行测试，并获取所述量子芯片执行测试后的测试数据，将所述测试数据实时更新到所述目标数据库中；所述计算机设备在检测到所述目标数据库中更新的测试数据时，加载所述测试数据并对所述测试数据进行数据处理后，生成测试结果。2.根据权利要求1所述的量子芯片测试方法，其特征在于，所述计算机设备预先安装有流程测试工具包，在所述计算机设备将配置的测试流程参数以预设程序解析文件的形式上传到所述服务器的目标数据库中的步骤之前，所述方法还包括：所述计算机设备运行所述流程测试工具包的测试程序，生成待配置的量子芯片测试选项；响应对所述量子芯片测试选项的配置操作，获得测试配置数据，并根据所述测试配置数据生成对应的测试流程参数。3.根据权利要求2所述的量子芯片测试方法，其特征在于，所述测试配置数据包括不同测试流程之间的流程控制顺序以及每个测试流程对应的参数配置选项的选项配置信息；所述响应对所述量子芯片测试选项的配置操作，获得测试配置数据的步骤，包括：响应对所述量子芯片测试选项的第一配置操作指令，生成至少一个测试流程，并配置每个测试流程之间的流程控制顺序；响应对每个测试流程的第二配置操作指令，配置每个测试流程对应的参数配置选项，并获得每个测试流程对应的参数配置选项的选项配置信息。4.根据权利要求3所述的量子芯片测试方法，其特征在于，每个测试流程分别对应于至少一个待测试目标对象；所述待测试目标对象包括下列之一：量子比特传导性测试、读取装置传导性测试、传输线传导性测试、所述量子芯片中各个量子比特的频率参数测试、弛豫时间参数测试、退相干时间参数测试。5.根据权利要求1所述的量子芯片测试方法，其特征在于，所述量子测控装置在接收到所述脉冲信号指令后，根据所述脉冲信号指令生成脉冲测试信号，将所述脉冲测试信号加载到待测量子芯片上进行测试，并获取所述量子芯片执行测试后的测试数据，将所述测试数据实时更新到所述目标数据库中的步骤，包括：所述量子测控装置从所述脉冲信号指令中获得每个测试流程的脉冲配置参数以及所述测试流程的流程控制顺序，所述脉冲配置参数包括以下配置参数中的至少一种：偏置脉冲参数、微波脉冲发射参数、脉冲采集参数以及波形参数；根据每个测试流程的脉冲配置参数，分别将所述脉冲配置参数对应的脉冲测试信号按照所述测试流程的流程控制顺序，依次加载到待测量子芯片上执行每个测试流程的测试；
获得所述量子芯片基于所述脉冲测试信号执行每个测试流程的测试并返回的测试数据，将所述测试数据实时更新到所述目标数据库中，并根据测试反馈数据执行下一个测试流程的测试，直到所有测试流程均测试结束。6.根据权利要求5所述的量子芯片测试方法，其特征在于，所述测试流程包括能谱实验测试流程、Rabi实验测试流程、T1实验测试流程以及Ramsey实验测试流程；所述根据每个测试流程的脉冲配置参数，分别将所述脉冲测试信号按照所述测试流程的流程控制顺序，依次加载到待测量子芯片上执行每个测试流程的测试，以及获得所述量子芯片基于所述脉冲测试信号执行每个测试流程的测试并返回的测试数据，将所述测试数据实时更新到所述目标数据库中，并根据...

【专利技术属性】
技术研发人员：石汉卿，张昂，孔伟成，
申请(专利权)人：合肥本源量子计算科技有限责任公司，
类型：发明
国别省市：