一种太赫兹光谱仪的样品支架制造技术

技术编号:32336432 阅读:26 留言:0更新日期:2022-02-16 18:44
本实用新型专利技术涉及太赫兹检测设备领域,具体是一种太赫兹光谱仪的样品支架,用于片状样品,包括:固定座、样品装夹件和限位组件;所述固定座包括:底板和设置在底板上的背板;所述样品装夹件包括:插板,设置在插板一面的定位边框和封闭所述定位边框的封闭件;所述插板、定位边框和封闭件形成样品容腔;所述限位组件设于固定座上,用于限定固定座与样品装夹件之间的相对位置;所述背板上设有第一透过孔、所述插板上设有第二透过孔、所述封闭件上设有第三透过孔,所述第一、第二、第三透过孔形成检测通道。通过太赫兹能量的限制和片状样品的固定,使得太赫兹光谱仪对片状样品的检测过程中不稳定因素对检测造成的波动性和差异性影响小。小。小。

【技术实现步骤摘要】
一种太赫兹光谱仪的样品支架


[0001]本技术涉及太赫兹检测设备领域,更具体地,涉及一种太赫兹光谱仪的样品支架。

技术介绍

[0002]太赫兹检测光谱仪中,透射检测是常用的基本检测方式之一,通过发射太赫兹检测能量透过待测样品,然后采集透过待测样品后的能量进行分析,从而获取待测样品的固有特性。太赫兹的透射检测受能量束的限制,每次只能对待测样品上某一段能量束经过的区域进行检测,该区域内待测样品的厚薄和待测样品整体组份在该区域内的分布直接决定了检测结果的可靠性和准确性。太赫兹检测光谱仪属于敏感的精密仪器,为了消除待测样品带来的检测差异,现有技术通常将待测样品粉末化,经均匀处理后重组形成厚度均匀的片状样品,以消除待测样品形状不一,组份分布不均的问题。
[0003]一次常规的太赫兹透射检测过程中,为了准确确认多个组份,通常需要多个片状样品反复多次地进行检测。而为了提升准确性,这一系列的检测通常在一次实验环境下全部进行,这导致了一个片状样品可能要经历多次反复地装拆。片状样品多为粉末压制,在反复装拆下容易造成损坏或颗粒脱落,导致反复检测的过程中出现结果不稳定,数据波动大等问题;即使片状样品完好,每次拆装后所检测的区域也会发生一定变化,影响结果对比。现有缺乏一种维持片状样品在频繁装拆下的位置一致,并保护片状样品减少损坏,实现检测条件一致和检测结果稳定的技术。

技术实现思路

[0004]本技术旨在克服上述现有技术的至少一种缺陷,提供一种太赫兹光谱仪的样品支架,用于解决频繁拆装下片状样品易损坏,检测条件易改变导致检测稳定性差,结果波动大的问题。
[0005]本技术采取的技术方案是,一种太赫兹光谱仪的样品支架,用于装夹片状样品,包括:固定座、样品装夹件和限位组件;所述固定座包括:底板和设置在底板上的背板;所述样品装夹件包括:插板,设置在插板一面的定位边框和封闭所述定位边框的封闭件;所述插板、定位边框和封闭件形成样品容腔;所述限位组件设于固定座上,用于限定固定座与样品装夹件之间的相对位置;所述背板上设有第一透过孔、所述插板上设有第二透过孔、所述封闭件上设有第三透过孔,所述第一透过孔、第二透过孔和第三透过孔形成贯穿所述样品支架两侧的检测通道。
[0006]本技术方案中,所述样品支架固定在太赫兹光谱仪的样品仓中,所述固定座与所述样品仓相连。所述样品装夹件用于安装和固定所述片状样品。所述底板用于所述样品支架与样品仓定位和连接。所述背板用于支撑和配合样品装夹件。所述插板用于方便样品装夹件与固定座之间的配合,形成插拔的连接方式,方便片状样品的快速装拆。所述定位边框用于固定片状样品在所述插板上的位置,当所述样品装夹件与所述固定座的相对位置一致
时,所述片状样品所处的位置不变;所述封闭件用于将片状样品封闭在定位边框内,使得所述片状样品不会脱离定位边框。
[0007]所述样品容腔用于容纳和固定片状样品,插板和封闭件分别从两侧挤压,定位边框从侧面限位,形成片状样品的整体固定。粉末制成的片状样品的检测相比原样品的检测要求更高,片状样品的尺寸、厚度、密度、均匀性等参数对测试结果都会有影响,通过样品容腔的限制,能避免检测过程中采用尺寸不一的片状样品,起一定防错作用。所述检测通道形成一条穿透片状样品的稳定的检测通道,所述检测通道在多个透过孔的限制下,每次穿过片状样品的太赫兹检测能量一致,位于边缘的波动变化大的不稳定能量被挡隔,仅核心区域的稳定能量进入所述检测通道,从而保证片状样品每次接受的太赫兹检测能量的一致性。
[0008]所述限位组件用于定位所述样品装夹件安装在所述固定座之后与固定座所形成的固定的相对位置。所述限位组件在竖直平面上形成三面定位,并能引导插板快速与固定座进行配合,使样品装夹件总能与固定座形成稳定且唯一的位置配合,进一步提高了太赫兹检测过程的一致性和稳定性。通过太赫兹能量的限制和片状样品的固定,使得太赫兹光谱仪对片状样品的检测环境的稳定性好,重复检测过程中条件控制的一致性高,周围不稳定因素对检测造成的波动性和差异性影响小。
[0009]作为优选,所述限位组件包括对称设置且相互平行的两侧限位槽和设置在两侧限位槽之间的底部限位凸起。本技术方案中,所述限位组件通过两侧限位槽和底部限位凸起形成竖直平面上的三面定位,两侧限位槽从两侧以及前端限制样品装夹件的移动路径,底部限位凸起从下部限制样品装夹件的位置,插板从背面限制样品装夹件的位置,使得样品装夹装置从水平面上形成三面固定,从整体结构上形成五面限制,只留出一个上方开口。在两侧定位槽和重力的作用下,插板能够快速地沿两侧定位槽下降,于底部凸起接触,从而形成与固定座的准确配合。该设计使频繁插拔拆装的过程中,样品装夹件总能与固定座形成稳定且唯一的位置配合,进一步提高了太赫兹检测过程的一致性和稳定性。
[0010]作为优选,所述限位组件还包括设有第四透过孔的限位板,所述两侧限位槽和底部限位凸起设置在限位板上,所述限位组件通过限位板与背板相连,所述检测通道穿过第四透过孔。本技术方案中,通过第四透过孔消除了限位板对检测通道的阻碍;所述限位板用于承载两侧限位槽和底部限位凸起,使所述限位组件与背板形成可拆卸连接,使固定座能通过更换限位组件实现与不同尺寸的样品装夹件进行配合,从而满足不同尺寸样品的需要,提升固定底座的适用性。
[0011]作为优选,所述定位边框纵向截面的尺寸与片状样品匹配,所述定位边框纵向截面中心与所述检测通道的中心线重合。本技术方案中,所述插片与固定底座配合后,连接定位边框的一面竖直向下且与背板平行,纵向截面指与插片平行的截面,该截面下,当片状样品平行于插片,片状样品与定位边框形成过度配合。定位边框准确限定了片状样品在竖直平面内的位置,使得片状样品的中心与检测通道的中线重合,从而使片状样品的中心高度与太赫兹检测能量的光斑的中心高度一致,实现检测位置精准定位的同时,保证太赫兹检测能量的利用。
[0012]作为优选,所述第二透过孔的尺寸小于片状样品,所述插板与封闭件从位置相对的两侧夹紧所述片状样品。本技术方案中,所述第二透过孔小于片状样品,使得片状样品一
面能与插板直接接触,而另一面能在封闭件的作用下,与插板形成对片状样品的夹紧,而不会导致片状样品通过第二透过孔脱离。第二透过孔的设计一方面避免了插板对太赫兹检测能量的阻挡,使得在插片另一侧的片状样品外露,另一方面起配合固定夹紧片状样品的作用。并收窄了太赫兹检测能量的能量束,使核心的有效且等量的太赫兹检测能量透过片状样品。
[0013]作为优选,所述封闭件包括操作部和顶压部,所述第三透过孔设置在操作部上,所述顶压部环绕第三透过孔而设且纵向截面尺寸与定位边框匹配。本技术方案中,所述操作部用于调节和控制封闭件进入定位边框内的深度;所述顶压部用于抵压片状样品;具体地,环绕第三透过孔而设的顶压部为一环形片,用于抵压片状样品的边缘,露出中心部分使透过片状样品的太赫兹检测能量通过,并在第三透过孔的作用下,再次把透过后边缘分散的太赫兹能量阻隔,从而获取核心检测信息,减少干扰和波动。操作部本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种太赫兹光谱仪的样品支架,用于装夹片状样品,其特征在于,包括:固定座、样品装夹件和限位组件;所述固定座包括:底板和设置在底板上的背板;所述样品装夹件包括:插板,设置在插板一面的定位边框和封闭所述定位边框的封闭件;所述插板、定位边框和封闭件形成样品容腔;所述限位组件设于固定座上,用于限定固定座与样品装夹件之间的相对位置;所述背板上设有第一透过孔、所述插板上设有第二透过孔、所述封闭件上设有第三透过孔,所述第一透过孔、第二透过孔和第三透过孔形成贯穿所述样品支架两侧的检测通道。2.根据权利要求1所述的一种太赫兹光谱仪的样品支架,其特征在于,所述限位组件包括对称设置且相互平行的两侧限位槽和设置在两侧限位槽之间的底部限位凸起。3.根据权利要求2所述的一种太赫兹光谱仪的样品支架,其特征在于,所述限位组件还包括设有第四透过孔的限位板,所述两侧限位槽和底部限位凸起设置在限位板上,所述限位组件通过限位板与背板相连,所述检测通道穿过第四透过孔。4.根据权利要求1

3任一项所述的一种太赫兹光谱仪的样品支架,其特征在于,所述定...

【专利技术属性】
技术研发人员:李茜梁一峰涂礼亚
申请(专利权)人:太赫兹科技应用广东有限公司
类型:新型
国别省市:

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