一种多路恒温晶振组件检测平台制造技术

本实用新型专利技术属于设备检修技术领域，具体涉及一种多路恒温晶振组件检测平台，包括电源控制单元和检测单元，电源控制单元输出端通过线路与多路恒温晶振组件的电源端口连接向多路恒温晶振组件供电并控制输入电压，检测单元包括电压表、频谱分析仪和频率计，电压表、频谱分析仪和频率计分别通过线路与多路恒温晶振组件的输出端连接，电压表用于测量多路恒温晶振组件的输出电压，频率计用于测试不同恒温晶振的输出频率和输出功率，频谱分析仪用于测量在不同晶振控制状态下多路恒温晶振组件的谐波抑制度和杂波抑制度，操作简单、高效，可靠性高，性能稳定，能够直观的反映多路恒温晶振组件工作特性，解决了进口多路恒温晶振组件无法测试修复的问题。测试修复的问题。测试修复的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种多路恒温晶振组件检测平台


[0001]本技术属于设备检修
，具体涉及一种多路恒温晶振组件检测平台。

技术介绍

[0002]多路恒温晶振组件是某型武器装备重要组件，进口多路恒温晶振组件设计年代早，如附图1所示，由五部高稳定恒温晶体振荡器、五选一控制电路、放大滤波电路和电源电路组成，在维修使用过程中，出现故障后，由于国内尚无针对此产品的检测方法及检测装置，所以进口多路恒温晶振组件无法测试并完成修复。

技术实现思路

[0003]为了解决
技术介绍
中问题，本技术公开一种多路恒温晶振组件检测平台,包括电源控制单元和检测单元，测试输出频率、输出功率、谐波抑制度、杂波抑制度和+12V输出电压等参数，直观反映多路恒温晶振组件工作特性，解决进口多路恒温晶振组件无法测试修复的问题。
[0004]为实现上述专利技术目的，本技术采用下述技术方案：
[0005]一种多路恒温晶振组件检测平台，所述检测平台包括电源控制单元和检测单元，电源控制单元输出端通过线路与多路恒温晶振组件的电源端口连接向多路恒温晶振组件供电并控制输入电压，检测单元包括电压表、频谱分析仪和频率计，电压表、频谱分析仪和频率计分别通过线路与多路恒温晶振组件的输出端连接，电压表用于测量多路恒温晶振组件的输出电压，频率计用于测试不同恒温晶振的输出频率和输出功率，频谱分析仪用于测量在不同晶振控制状态下多路恒温晶振组件的谐波抑制度和杂波抑制度。
[0006]进一步地，电源控制单元包括直流电源和控制开关，直流电源的输出端通过线路与多路恒温晶振组件的电源端口连接，控制开关与多路恒温晶振组件的控制信号连接用于控制输入电压。
[0007]进一步地，频谱分析仪采用安捷伦公司的E4407B型号频谱分析仪。
[0008]进一步地，频率计采用安捷伦公司的53131A型号频率计。
[0009]与现有技术相比，本技术的有益效果是：
[0010]本技术多路恒温晶振组件检测平台，包括电源控制单元和检测单元，电源控制单元输出端通过线路与多路恒温晶振组件的电源端口连接向多路恒温晶振组件供电并控制输入电压，检测单元包括电压表、频谱分析仪和频率计，电压表、频谱分析仪和频率计分别通过线路与多路恒温晶振组件的输出端连接，电压表用于测量多路恒温晶振组件的输出电压，频率计用于测试不同恒温晶振的输出频率和输出功率，频谱分析仪用于测量在不同晶振控制状态下多路恒温晶振组件的谐波抑制度和杂波抑制度，操作简单、高效，可靠性高，性能稳定，能够直观的反映多路恒温晶振组件工作特性，解决了进口多路恒温晶振组件无法测试修复的问题，并能用于指导该型多路恒温晶振组件的国产化研制。
附图说明
[0011]图1是本技术中多路恒温晶振组件的原理框图；
[0012]图2是本技术多路恒温晶振组件检测平台的连接结构示意图；
[0013]图3是本技术中多路恒温晶振组件与测试平台的连接原理图；
[0014]上述图中：1
‑
控制单元；2
‑
检测单元；2.1
‑
电压表；2.2
‑
频谱分析仪；2.3
‑
频率计。
具体实施方式
[0015]为了更好地理解本技术，下面结合实施例进一步阐明本技术的内容，但本技术的内容不仅仅局限于下面的实施例。
[0016]结合附图2和附图3详细阐述本技术一种多路恒温晶振组件检测平台，所述多路恒温晶振组件，由五部高稳定恒温晶体振荡器、五选一控制电路、滤波放大电路和电源电路组成，其电原理框图如附图1所示，主要技术参数包含：输出频率、输出功率、谐波抑制度、杂波抑制度、+12V输出电压等，所述检测平台包括电源控制单元1和检测单元2，电源控制单元1用于供电控制和晶振控制，电源控制单元包括直流电源和控制开关，直流电源的输出端通过线路与多路恒温晶振组件的电源端口连接向多路恒温晶振组件供电，控制开关与多路恒温晶振组件的控制信号连接用于控制输入电压，检测单元2包括电压表2.1、频谱分析仪2.2和频率计2.3，电压表2.1、频谱分析仪2.2和频率计2.3分别通过线路与多路恒温晶振组件的输出端连接，形成多路恒温晶振组件工作回路，电压2.1表用于测量多路恒温晶振组件的输出电压，频率计2.3用于测试不同恒温晶振的输出频率和输出功率，频谱分析仪2.2用于测量在不同晶振控制状态下多路恒温晶振组件的谐波抑制度和杂波抑制度，此处需要说明的是，优选频谱分析仪采用安捷伦公司的E4407B型号频谱分析仪，频率计采用安捷伦公司的53131A型号频率计。
[0017]本技术工作过程如下：
[0018]根据图3，多路恒温晶振组件与测试平台的连接原理图分析，确定多路恒温晶振组件的几个考核指标：输出频率、输出功率、谐波抑制度、杂波抑制度和+12V输出电压等参数，然后对考核指标进行理论原理分析来制定各考核指标的测试方法，具体包括下述步骤：
[0019]第一，将多路恒温晶振组件与检测平台设备连接，即将直流电源的各路输出按照测试所需调整为+25V输出，并连接至多路恒温晶振组件的电源端口，然后将多路恒温晶振组件的控制信号和电源控制单元的控制开关进行连接，最后将多路恒温晶振组件输出端连接至检测单元的电压表、频谱分析仪和频率计，完成多路恒温晶振组件工作回路的搭建，如图3所示；
[0020]第二，输出电源测试，即接通电源控制单元开关，读取+12V输出电源；
[0021]第三，输出功率和输出频率的测试，即按照晶振控制关系，利用检测单元的频率计分别测量读取不同晶振的输出频率和输出功率；
[0022]第四，谐波抑制度和杂波抑制度测试，即使用频谱分析仪测量多路恒温晶振组件在不同晶振控制状态下的谐波抑制度、杂波抑制度；
[0023]能够直观的反映多路恒温晶振组件工作特性，操作简单、高效，解决进口多路恒温晶振组件无法测试修复的问题，并可用于指导该型多路恒温晶振组件的国产化研制。
[0024]以上说明仅为本技术的应用实施方式，但本技术的保护范围并不局限于
此，不能以此来限定本技术的权利范围，任何根据本技术的技术方案所做的等效变化，都应涵盖在本技术的保护范围之内。
本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种多路恒温晶振组件检测平台，其特征是：所述检测平台包括电源控制单元和检测单元，电源控制单元输出端通过线路与多路恒温晶振组件的电源端口连接向多路恒温晶振组件供电并控制输入电压，检测单元包括电压表、频谱分析仪和频率计，电压表、频谱分析仪和频率计分别通过线路与多路恒温晶振组件的输出端连接，电压表用于测量多路恒温晶振组件的输出电压，频率计用于测试不同恒温晶振的输出频率和输出功率，频谱分析仪用于测量在不同晶振控制状态下多路恒温晶振组件的谐波抑制度和杂波抑制度。...

【专利技术属性】
技术研发人员：高希辉，程远方，张传军，付强，李恒松，
申请(专利权)人：国营洛阳丹城无线电厂，
类型：新型
国别省市：