本申请公开了一种光纤熔接点的质量检测方法及装置，方法包括：控制光源向检测熔接点所在光纤的输入端输入检测光，获取所述检测熔接点所在光纤的输出端的光功率；根据所述检测光的光功率和所述输出端的光功率计算功率损耗；若所述功率损耗小于或等于预设功率损耗，则确定所述检测熔接点质量合格；其中，不同的所述检测熔接点的环境温度和散热条件相同。本申请在环境温度和散热条件相同的条件下计算功率损耗来检测熔接点质量，降低熔接点质量检测的错误率，有效提高光纤及其相关产品的生产质量，能够广泛应用于光纤领域。能够广泛应用于光纤领域。能够广泛应用于光纤领域。
【技术实现步骤摘要】
一种光纤熔接点的质量检测方法及装置
[0001]本申请涉及光纤领域，尤其是一种光纤熔接点的质量检测方法及装置。
技术介绍
[0002]光纤在各大领域都有广泛的应用。在光纤激光器的生产中，经常需要利用熔纤机将两个光纤连接或将光纤和尾纤连接，把光缆中的裸纤和光纤尾纤熔合在一起变成一个整体，这种将光纤熔合为一个整体的处理被称为光纤熔接。然而，由于技术的限制，光纤熔接并不能完全做到无损熔接，在光纤熔接完成后会在熔接处留下熔接点。熔接点的质量决定了光通过光纤时的损耗程度，因此需要对熔接点的质量进行检测来去除质量较低的熔接点，提高光纤的整体质量。相关技术中，对熔接点的质量检测方法主要为：利用测试光通过带有检测熔接点的光纤来进行测试，若在接收端能够顺利得到光纤光则说明熔接点质量可靠。这种方法无法准确检测熔接点的质量情况，检测错误率较高，并且仅能够得到熔接点的是否能反射光，无法精细地对熔接点进行质量检测。
[0003]因此，相关技术存在的上述技术问题亟待解决。
技术实现思路
[0004]以下是对本文详细描述的主题的概述。本概述并非是为了限制权利要求的保护范围。
[0005]本申请实施例提供了一种光纤熔接点的质量检测方法及装置，能够对光纤熔接点质量进行较为准确的检测。
[0006]第一方面，本申请实施例提供一种光纤熔接点的质量检测方法，所述方法包括：
[0007]向检测熔接点所在光纤的输入端输入检测光；
[0008]获取所述检测熔接点所在光纤的输出端的光功率；
[0009]根据所述检测光的光功率和所述输出端的光功率计算功率损耗；
[0010]若所述功率损耗小于或等于预设功率损耗，则确定所述检测熔接点质量合格；
[0011]其中，不同的所述检测熔接点的散热条件相同。
[0012]在其中一个实施例中，若所述功率损耗大于预设功率损耗，所述方法还包括检测光源输入点和输出跳线之间熔接点的熔接质量：
[0013]按预设功率步进递增所述检测光的光功率以提高所述检测熔接点的温度；
[0014]每步进递增一次所述检测光的光功率，获取一次所述检测熔接点所在光纤的输出端的光功率和所述光纤上其他检测熔接点的温度；
[0015]若所述温度最高的检测熔接点为除检测光源输入点和输出跳线之间熔接点以外的其他检测熔接点，则判断为所述光纤熔接点熔接质量不合格。
[0016]在其中一个实施例中，若所述温度最高的检测熔接点为光源输入点和输出跳线之间的熔接点，则：
[0017]重新熔接光源输入点和输出跳线之间的熔接点；
[0018]根据所述检测光的光功率和所述输出端的光功率计算功率损耗；
[0019]若所述功率损耗小于或等于预设功率损耗，则确定所述检测熔接点质量合格；
[0020]若所述功率损耗大于预设功率损耗，则确定所述检测熔接点质量不合格。
[0021]在其中一个实施例中，所述方法还包括：
[0022]若所述检测熔接点的当前温度大于预设温度，则停止质量检测。
[0023]在其中一个实施例中，所述方法还包括：
[0024]吸收所述检测熔接点溢出的光纤光。
[0025]在其中一个实施例中，所述根据所述检测光的光功率和所述输出端的光功率计算功率损耗，具体包括：
[0026]计算所述检测光的光功率除以所述输出端的光功率的商；
[0027]对所述商进行对数运算，得到对数运算结果；
[0028]将对数运算结果和预设系数的乘积作为所述功率损耗。
[0029]在其中一个实施例中，所述方法还包括：
[0030]获取质量检测设备的功率损耗；
[0031]将所述预设功率损耗替换为所述预设功率损耗与所述质量检测设备的功率损耗相加之和。
[0032]第二方面，本申请实施例提供一种光纤熔接点的质量检测装置，所述装置包括：
[0033]输入输出模块，用于控制光源向检测熔接点所在光纤的输入端输入检测光，获取所述检测熔接点所在光纤的输出端的光功率；
[0034]功率损耗计算模块，用于根据所述检测光的光功率和所述输出端的光功率计算功率损耗；
[0035]第一判断模块，用于若所述功率损耗小于或等于预设功率损耗，则确定所述检测熔接点质量合格；
[0036]散热模块，用于控制不同的所述检测熔接点的散热条件相同。
[0037]在其中一个实施例中，所述装置包括：
[0038]功率递增模块，用于按预设功率步进递增所述检测光的光功率以提高所述检测熔接点的温度；
[0039]温度获取模块，用于每步进递增一次所述检测光的光功率，获取一次所述检测熔接点所在光纤的输出端的光功率和所述光纤上其他检测熔接点的温度；
[0040]第二判断模块，用于若所述温度最高的检测熔接点为光源输入点和输出跳线之间的熔接点，则判断为光源输入点和输出跳线之间的熔接点熔接质量差；若所述温度最高的检测熔接点为其他检测熔接点，则判断为所述光纤熔接点熔接质量不合格。
[0041]在其中一个实施例中，所述装置包括：
[0042]检测熔接点保护模块，用于吸收所述检测熔接点溢出的光纤光；
[0043]误差补偿模块，用于获取质量检测设备的功率损耗，将所述预设功率损耗替换为所述预设功率损耗与所述质量检测设备的功率损耗相加之和。
[0044]本申请实施例至少包括以下有益效果：控制光源向检测熔接点所在光纤的输入端输入检测光，获取所述检测熔接点所在光纤的输出端的光功率；根据所述检测光的光功率和所述输出端的光功率计算功率损耗；若所述功率损耗小于或等于预设功率损耗，则确定
所述检测熔接点质量合格；其中，不同的所述检测熔接点的环境温度和散热条件相同。本申请在保持环境温度和散热条件相同的情况下计算检测光通过光纤前后的功率损耗来检测熔接点质量，能够及时排除熔接质量差的熔接点，降低了光纤熔接点质量检测的错误率，有效提高光纤及其相关产品的生产质量，生产效率，提高了良品率。
[0045]本申请的其他特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本申请而了解。本申请的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
附图说明
[0046]附图用来提供对本申请技术方案的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本申请的实施例一起用于解释本申请的技术方案，并不构成对本申请技术方案的限制。
[0047]图1为本申请实施例提供的光纤熔接点质量检测方法原理图；
[0048]图2为本申请实施例提供的光纤熔接点质量检测方法流程图；
[0049]图3为本申请实施例提供的光纤熔接点质量检测方法的检测光步进递增流程图；
[0050]图4为本申请实施例提供的光纤熔接点质量检测方法的温度检测流程图；
[0051]图5为本申请实施例提供的光纤熔接点质量检测方法的熔接点损耗功率计算本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种光纤熔接点的质量检测方法，其特征在于，所述方法包括：向检测熔接点所在光纤的输入端输入检测光；获取所述检测熔接点所在光纤的输出端的光功率；根据所述检测光的光功率和所述输出端的光功率计算功率损耗；若所述功率损耗小于或等于预设功率损耗，则确定所述检测熔接点质量合格；其中，不同的所述检测熔接点的散热条件相同。2.根据权利要求1所述的一种光纤熔接点的质量检测方法，其特征在于，若所述功率损耗大于预设功率损耗，所述方法还包括检测光源输入点和输出跳线之间熔接点的熔接质量：按预设功率步进递增所述检测光的光功率以提高所述检测熔接点的温度；每步进递增一次所述检测光的光功率，获取一次所述检测熔接点所在光纤的输出端的光功率和所述光纤上其他检测熔接点的温度；若所述温度最高的检测熔接点为除检测光源输入点和输出跳线之间熔接点以外的其他检测熔接点，则判断为所述光纤熔接点熔接质量不合格。3.根据权利要求2所述的一种光纤熔接点的质量检测方法，其特征在于，若所述温度最高的检测熔接点为光源输入点和输出跳线之间的熔接点，则：重新熔接光源输入点和输出跳线之间的熔接点；根据所述检测光的光功率和所述输出端的光功率计算功率损耗；若所述功率损耗小于或等于预设功率损耗，则确定所述检测熔接点质量合格；若所述功率损耗大于预设功率损耗，则确定所述检测熔接点质量不合格。4.根据权利要求1所述的一种光纤熔接点的质量检测方法，其特征在于，所述方法还包括：若所述检测熔接点的当前温度大于预设温度，则停止质量检测。5.根据权利要求1所述的一种光纤熔接点的质量检测方法，其特征在于，所述方法还包括：吸收所述检测熔接点溢出的光纤光。6.根据权利要求1
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3任一项所述的一种光纤熔接点的质量检测方法，其特征在于，所述根据所述检测光的光功率和所述输出端的光功率...
【专利技术属性】
技术研发人员：ꢀ七四专利代理机构，
申请(专利权)人：广东利元亨智能装备股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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