本发明专利技术公开了多波束组件自动测试装置及测试方法，所述装置包括输入射频分配模块和输出射频分配模块；所述输入射频分配模块和输出射频分配模块的外部包括连接测试仪器的射频接头和连接控制主机的控制接口，所述输入射频分配模块的内部包括将射频信号一分为多的射频信号分配电路，所述输出射频分配模块的内部包括将射频信号多合为一的射频信号合成电路，所述射频信号分配电路和所述射频信号合成电路的每一条支路均设置有控制开关。本发明专利技术提供的多波束组件自动测试装置成本低、体积小、易使用，可实现测试仪器、射频分配模块、被测组件的同步控制，一次安装，一键完成所有通道性能测试。测试。测试。
【技术实现步骤摘要】
多波束组件自动测试装置及测试方法
[0001]本专利技术属于微波组件测试
，尤其涉及一种多波束组件自动测试装置及测试方法。
技术介绍
[0002]多波束组件是多波束相控阵系统的核心单元，其具有多入多出的特点，每一路输入和输出的组合均是一个独立的通道，需要进行单独测试，因此单个组件含有的通道数量很多，通常单个组件包含的通道数量达到数十个甚至上百个。人工操作切换通道测试不仅效率低下而且容易出错，通过辅助的测试模块来实现一键式自动测试是提高测试效率的必然选择。
[0003]如公开号为CN107422199A的中国专利技术专利公开了一种多通道微波组件测试系统，该专利技术专利提到在被测组件两端设置射频输入输出模块，在输入输出模块之后还必须要依托开关矩阵才能实现一键式自动测试。这种测试方法需要使用射频电缆将射频输入输出模块的每个通道转接到开关矩阵，再将开关矩阵连接到矢网等仪器。整个系统体积庞大，对有相位一致性要求的组件来说，多条射频转接电缆之间的相位也难以校准，再加上开关矩阵价格昂贵，在实际使用中这样的系统很难普及。
技术实现思路
[0004]本专利技术的目的在于，为克服现有技术缺陷，提供了多波束组件自动测试装置及测试方法,该自动测试装置成本低、体积小、易使用，可实现测试仪器、射频分配模块、被测组件的同步控制，一次安装，一键完成所有通道性能测试。
[0005]本专利技术目的通过下述技术方案来实现：
[0006]一种多波束组件自动测试装置，所述装置包括输入射频分配模块和输出射频分配模块；所述输入射频分配模块和输出射频分配模块的外部包括连接测试仪器的射频接头和连接控制主机的控制接口，所述输入射频分配模块的内部包括将射频信号一分为多的射频信号分配电路，所述输出射频分配模块的内部包括将射频信号多合为一的射频信号合成电路，所述射频信号分配电路和所述射频信号合成电路的每一条支路均设置有控制开关。
[0007]进一步的，所述射频信号分配电路和所述射频信号合成电路的每个支路分叉口均设置有隔离电阻。
[0008]进一步的，所述输入射频分配模块的和所述输出射频分配模块背向被测组件一侧设置有U形固定槽，所述安装槽用于和固定件配合将所述输入射频分配模块和所述输出射频分配模块固定在支撑底座上，并能够使所述输入射频分配模块的和所述输出射频分配模块沿槽推动。
[0009]进一步的，所述射频信号分配电路和所述射频信号合成电路采用单层微波印制功分器电路片。
[0010]进一步的，所述射频分配模块外部与射频接头相反一面设置有用于与被测组件固
定连接的连接部。
[0011]进一步的，所述连接部为凹槽结构。
[0012]进一步的，所述输入射频分配模块和输出射频分配模块的射频接头与所述输入射频分配模块和输出射频分配模块可拆卸连接。
[0013]进一步的，所述控制开关为单刀单掷开关。
[0014]另一方面，本专利技术还提供了一种多波束组件自动测试方法，使用如前述任一种多波束组件自动测试装置，所述方法包括：
[0015]将输入射频分配模块和输出射频分配模块固定，所述输入射频分配模块和所述输出射频分配模块间距大于被测组件的宽度；
[0016]将被测组件放置在输入射频分配模块和输出射频分配模块之间，从两侧将输入射频分配模块和输出射频分配模块推入与被测组件完成对接；
[0017]将控制电缆分别连接输入射频分配模块、被测组件、输出射频分配模块和控制主机；
[0018]将所述输入射频分配模块和所述输出射频分配模块的合路端口与测试仪器连接，将控制主机与测试仪器连接；
[0019]运行控制主机的测试程序完成所有通道的测试。
[0020]进一步的，所述方法还包括：
[0021]当前测试件测试完毕后，将输入射频分配模块和输出射频分配模块与当前测试件分离，并更换下一个被测组件进行测试。
[0022]本专利技术的有益效果在于：
[0023](1)本专利技术提供的多波束组件自动测试装置极大地提高了多波束组件的测试效率，无需手动切换通道，只需通过控制主机即可一键完成所有通道测试。
[0024](2)本专利技术提供的多波束组件自动测试装置构造简单，成本低廉，材料主要涉及金属盒体、单层微波印制电路片以及一种单刀单掷开关，单套系统相比于传统方案需采用的开关矩阵动的成本，具有很大的成本优势。
[0025](3)本专利技术提供的多波束组件自动测试装置体积小、使用方便，相比于传统方案需要采用体积较大的开关矩阵，本专利技术提供的多波束组件自动测试装置可以放置在单个测试工位上运行。
[0026](4)本专利技术提供的多波束组件自动测试装置无需使用射频电缆，最大程度保证多波束组件自动测试装置各通道之间的幅度和相位一致性。
附图说明
[0027]图1是本专利技术实施例提供的多波束组件自动测试装置结构示意图；
[0028]图2是本专利技术实施例提供的多波束组件自动测试装置的输入射频分配模块结构示意图；
[0029]图3是本专利技术实施例提供的多波束组件自动测试方法流程示意图。
[0030]附图标记：1
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输入射频分配模块，2
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被测组件，3
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输出射频分配模块，4
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支撑底座，5
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U形固定槽，6
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射频接头，7
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控制接口，8
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单层微波印制功分器电路片，9
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匹配式单刀单掷开关，10
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凹槽结构，11
‑
隔离电阻。
具体实施方式
[0031]以下通过特定的具体实例说明本专利技术的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本专利技术的其他优点与功效。本专利技术还可以通过另外不同的具体实施方式加以实施或应用，本说明书中的各项细节也可以基于不同观点与应用，在没有背离本专利技术的精神下进行各种修饰或改变。需说明的是，在不冲突的情况下，以下实施例及实施例中的特征可以相互组合。
[0032]基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0033]实施例1
[0034]传统的多通道微波组件测试在被测组件两端设置射频输入输出模块，在输入输出模块之后还必须要依托开关矩阵才能实现一键式自动测试。这种测试方法需要使用射频电缆将射频输入输出模块的每个通道转接到开关矩阵，再将开关矩阵连接到矢网等仪器。整个系统体积庞大，对有相位一致性要求的组件来说，多条射频转接电缆之间的相位也难以校准，再加上开关矩阵价格昂贵，在实际使用中这样的系统很难普及。
[0035]为了解决上述技术问题，提出了多通道微波组件测试装置的下述各个实施例。
[0036]参照图1，如图1所示是本实施例提供的多波束组件自动测试装置结构示意图。该自动测试装置具体包括输入射频分配模块1和输出射频分配模块3，本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种多波束组件自动测试装置，其特征在于，所述装置包括输入射频分配模块和输出射频分配模块；所述输入射频分配模块和输出射频分配模块的外部包括连接测试仪器的射频接头和连接控制主机的控制接口，所述输入射频分配模块的内部包括将射频信号一分为多的射频信号分配电路，所述输出射频分配模块的内部包括将射频信号多合为一的射频信号合成电路，所述射频信号分配电路和所述射频信号合成电路的每一条支路均设置有控制开关。2.如权利要求1所述的多波束组件自动测试装置，其特征在于，所述射频信号分配电路和所述射频信号合成电路的每个支路分叉口均设置有隔离电阻。3.如权利要求1所述的多波束组件自动测试装置，其特征在于，所述输入射频分配模块的和所述输出射频分配模块背向被测组件一侧设置有滑动固定配合件，所述滑动固定配合件用于和固定件配合将所述输入射频分配模块和所述输出射频分配模块固定在支撑底座上，并能够使所述输入射频分配模块和所述输出射频分配模块在支撑底座上水平推动。4.如权利要求1所述的多波束组件自动测试装置，其特征在于，所述射频信号分配电路和所述射频信号合成电路采用单层微波印制功分器电路片。5.如权利要求1所述的多波束组件自动测试装置，其特征在于，所述射频分配模块外部与射频接头相反一面设置有用于与被测组件固定连接的连接部。...
【专利技术属性】
技术研发人员：曾超，周丽，揭海，丁义超，杜立新，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司第二十九研究所，
类型：发明
国别省市：
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