一种用于RapidIO协议器件的测试系统及方法技术方案

本发明专利技术公开了一种用于RapidIO协议器件的测试系统及方法，包括测试板、混合信号测试系统UltraFlex及高速差分串行总线；测试板上设置有预设芯片及待测RapidIO协议器件，待测RapidIO协议器件与预设芯片相连；待测RapidIO协议器件通过高速差分串行总线连接混合信号测试系统UltraFlex；获取待测RapidIO协议器件输出的PRBS码，得到信号眼图；并根据信号眼图，得到测试结果；本发明专利技术能够满足RapidIO协议器件及混合信号测试系统UltraFlex的测试要求；无需人为进行数据处理，测试结果准确度高。测试结果准确度高。测试结果准确度高。

【技术实现步骤摘要】
一种用于RapidIO协议器件的测试系统及方法


[0001]本专利技术属于高速协议器件测试
，特别涉及一种用于RapidIO协议器件的测试系统及方法。

技术介绍

[0002]随着半导体技术发展，大多数处理芯片的内核速度(GHz)能达到每秒百万指令(MIPS)、每秒百万次乘累加(MMAC)以及每秒十亿浮点运算(GFLOP)的高性能能力；在处理器芯片内核速度越来越快的同时，需要更快更高速的控制器接口来传输内核与芯片外部之间的海量数据；传统的PCI接口、USB接口、UART接口、SPI接口及I2C接口等低速接口已经远远不能满足海量数据交换需求。
[0003]RapidIO技术是一种基于协议包格式的互联技术，为DSP微处理器之间提供一种高带宽、低延迟、低系统成本的通信，是系统互连的最佳选择之一；其在雷达、航空、航天、兵器、工业探测等领域有着越来越广泛的应用；RapidIO高速串行协议测试不同于低速数字测试，协议复杂性和信号完整性问题相互叠加对测试能力带来了巨大考验，现有的低速数字测试无法满足对RapidIO高速协议器件的测试要求；因此，对本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于RapidIO协议器件的测试系统，其特征在于，包括测试板、混合信号测试系统UltraFlex及高速差分串行总线；测试板上设置有预设芯片及待测RapidIO协议器件，待测RapidIO协议器件与预设芯片相连；待测RapidIO协议器件通过高速差分串行总线连接混合信号测试系统UltraFlex；预设芯片，用于保存测试条件的原始代码，以使待测RapidIO协议器件根据测试条件的原始代码，对输入的脉冲信号进行PRBS编码，并输出PRBS码；混合信号测试系统UltraFlex，用于通过高速差分串行总线，向待测RapidIO协议器件发送脉冲信号；获取待测RapidIO协议器件输出的PRBS码，得到信号眼图；并根据信号眼图，得到测试结果。2.根据权利要求1所述的一种用于RapidIO协议器件的测试系统，其特征在于，测试板采用PCB板。3.根据权利要求1所述的一种用于RapidIO协议器件的测试系统，其特征在于，预设芯片采用Flash S29GL064N11TAIV2芯片。4.根据权利要求1所述的一种用于RapidIO协议器件的测试系统，其特征在于，待测RapidIO协议器件为C6678处理器。5.根据权利要求1所述的一种用于RapidIO协议器件的测试系统，其特征在于，混合信号测试系统UltraFlex包括叠加模块及jitter分析工具；其中，叠加模块，用于将获取的PRBS码进行叠加处理，得到信号眼图；jitter分析工具，用于对信号眼图进行分析计算，得到测试结果。6.一种用于RapidIO协议器件的测试方法，其特征在于，利用权利要求1
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5任一项所述的一种用于RapidIO协议器件的测试系统，具体包括以下步骤：利用混合信号测...

【专利技术属性】
技术研发人员：杜勇，陈桐，高超，王佳，
申请(专利权)人：西安太乙电子有限公司，
类型：发明
国别省市：