【技术实现步骤摘要】
一种校准标块及检测箱
[0001]本技术涉及内窥镜校准
,尤其涉及一种校准标块及检测箱。
技术介绍
[0002]目前针对内窥镜的几何性能的校准,通常是通过将内窥镜的探头放入密闭黑暗的检测箱内,通过内窥镜自身的探照光照射到校准标块上以拍摄到校准标块上凸起的刻线,将所拍摄得到的图像和三维数据与刻线的真实数据进行对比,从而得到该内窥镜的几何性能。然而,一方面由于为了减少校准标块本身的反光性能以避免影响检测结果,现有的校准标块采用陶瓷制成,而陶瓷材料易碎,不易保存,另一方面,现有的刻线通常是相较于校准标块的表面凸出,不仅容易使探头与刻线接触损伤探头表面,而且内窥镜大都需探测凹陷划痕,导致校准检测结果与实际使用时所需的探测结果存在一定的误差。
技术实现思路
[0003]本技术的其中一个目的在于提出一种校准标块,该校准标块结构简单、使用方便,能便于保存的同时保证校准结果。
[0004]为达此目的,本技术采用以下技术方案:
[0005]一种校准标块,包括校准标块本体,所述校准标块本体由低反光的金属材料制成 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种校准标块,用以对内窥镜进行校准,其特征在于,包括校准标块本体(1),所述校准标块本体(1)由低反光的金属材料制成;所述校准标块本体(1)上开设有校准定位槽(2),校准定位槽(2)上设置有多种规格的刻线。2.如权利要求1所述的校准标块,其特征在于,所述校准标块本体(1)上开设有多个螺纹通孔(3)以使所述校准标块与检测箱可拆卸地连接。3.如权利要求2所述的校准标块,其特征在于,所述螺纹通孔(3)设置有两个,两个所述螺纹通孔(3)分别设置在所述校准标块本体(1)的两个对角上。4.如权利要求1所述的校准标块,其特征在于,所述校准标块本体(1...
【专利技术属性】
技术研发人员:赵子豪,邵琦,刘远洋,温愈,汪敏,
申请(专利权)人:上海飞机制造有限公司,
类型:新型
国别省市:
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