【技术实现步骤摘要】
超高精度的雷达物位计标定装置
[0001]本公开涉及一种超高精度的雷达物位计标定装置。
技术介绍
[0002]在现有技术中，雷达物位计的标定通常采用的方式是，雷达物位计向一个可移动的目标板发射雷达信号，并且接收该目标板的反射信号，从而根据雷达物位计与目标板之间的距离来得到标定距离。目标板与雷达物位计之间的距离采用测量装置得到。但是当雷达物位计的量程较大时，例如达到70米的距离，这时如果采用测量装置来测量该距离，可能对该距离很难实现非常精确的测量。而且当雷达物位计的量程很大时，移动目标板的机械移动装置也需要很大，例如对于70米量程的标定，标定装置的尺寸将会超过70米。在雷达物位计的标定过程中，至少需要5～10个点的标定，这样目标板需要进行移动，但是在每次移动的过程中将会很难保证精度。
[0003]此外，在量程很大的情况下，目标板在移动和运行过程中，很难保证垂直度，例如垂直度误差与量程进行叠加，将会造成很大的测量误差，从而造成反射信号的主波瓣与雷达物位计不能对正，从而造成雷达物位计的测量误差。
技术实现思路
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种超高精度的雷达物位计标定装置，其特征在于，包括：第一反射板，所述第一反射板能够接收雷达物位计发出的雷达波并且能够对所述雷达波进行反射以形成第一飞行方向的第一反射波作为雷达波；以及第二反射板，所述第二反射板能够接收来自所述第一反射板反射形成的雷达波且进行反射以形成第二飞行方向的第二反射波作为雷达波，并且所述第一反射板能够接收来自所述第二反射板反射形成的雷达波且进行反射来再次形成第一飞行方向的第一反射波作为雷达波，其中所述第一飞行方向与所述雷达物位计发出的雷达波的方向相反，所述第二飞行方向与所述雷达物位计发出的雷达波的方向相同，其中，所述雷达物位计发出的雷达波经由所述第一反射板和所述第二反射板进行反射，并且所述雷达物位计接收所述第一反射板反射形成的雷达波，至少基于所述雷达物位计所接收的经所述第一反射板反射形成的雷达波的反射次数和所述第一反射板与所述第二反射板之间的间距来得到距离测量值，并且通过所述距离测量值与距离标准值来进行所述雷达物位计的标定。2.如权利要求1所述的雷达物位计标定装置，其特征在于，所述第一反射板位于雷达物位计的对侧，所述第二反射板位于所述雷达物位计的同侧，其中，所述雷达物位计相对于所述第二反射板固定设置并且所述第二反射板具有通过空间，经由所述通过空间，所述雷达物位计发出的雷达波能够到达所述第一反射板并且所述雷达物位计能够接收经所述第一反射板反射形成的雷达波。3.如权利要求2所述的雷达物位计标定装置，其特征在于，所述第一反射板和第二反射板之间的封闭空间构成微波飞行通道，所述微波飞行通道的四周包围有吸波材料或者不设置有任何微波反射物体。4.如权利要求3所述的雷达物位计标定装置，其特征在于，所述吸波材料包括锥形吸波海绵。5.如权利要求3所述的雷达物位计标定装置，其特征在于，所述第一反射板和第二反射板的形状为矩形或圆形，并且所述微波飞行通道为长方体或圆柱体。6.如权利要求1所述的雷达物位计标定装置，其特征在于，所述第一反射板与第二反射板的尺寸相同。7.如权利要求1所述的雷达物位计标定装置，其特征在于，...
【专利技术属性】
技术研发人员：呼秀山，夏阳，
申请(专利权)人：北京锐达仪表有限公司，
类型：新型
国别省市：
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