一种瞬态耦合抗干扰测试装置制造方法及图纸

技术编号:32257242 阅读:8 留言:0更新日期:2022-02-09 18:05
本实用新型专利技术公开了一种瞬态耦合抗干扰测试装置,包括测试箱体,所述测试箱体的内侧顶面设置有干扰信号发射端,所述测试箱体的顶端设置有箱体顶部贯穿口,所述箱体顶部贯穿口的内侧活动设置有升降电容放置板,所述升降电容放置板的上表面设置有两个连接杆,两个所述连接杆的顶端贯穿测试箱体的壁体且端部设置有连接板,所述连接板的外侧设置有顶端电容放置阁。本实用新型专利技术通过设置有拉簧、连接板、连接杆、箱体顶部贯穿口和升降电容放置板可以在测试进行前和进行过程中始终保持装置的密封,使得内部不存在灰尘或其他杂质,保证除去干扰信号外不会存在其他的干扰源,保证测试结果的精确性。确性。确性。

【技术实现步骤摘要】
一种瞬态耦合抗干扰测试装置


[0001]本技术涉及耦合电路抗干扰测试
,具体为一种瞬态耦合抗干扰测试装置。

技术介绍

[0002]随着社会经济的快速发展,耦合的作用就是把某一电路的能量输送(或转换)到其他的电路中去,两个或两个以上的电路构成一个网络时,若其中某一电路中电流或电压发生变化,能影响到其他电路也发生类似的变化,这种网络叫做耦合电路,瞬态耦合抗干扰测试装置是指对耦合电路的抗干扰能力进行测试的装置。
[0003]但是,现有的对耦合电路进行测试的装置为开放式或半开放式,装置内部在进行测试时存在灰尘或其他杂质,会对测试结果造成较大的干扰,使得测试结果不精确;因此,不满足现有的需求,对此我们提出了一种瞬态耦合抗干扰测试装置。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种瞬态耦合抗干扰测试装置,以解决上述
技术介绍
中提出的现有的对耦合电路进行测试的装置为开放式或半开放式,装置内部在进行测试时存在灰尘或其他杂质,会对测试结果造成较大的干扰,使得测试结果不精确等问题。
[0005]为实现上述目的,本技术提供如下技术方案:一种瞬态耦合抗干扰测试装置,包括测试箱体,所述测试箱体的内侧顶面设置有干扰信号发射端,所述测试箱体的顶端设置有箱体顶部贯穿口,所述箱体顶部贯穿口的内侧活动设置有升降电容放置板,所述升降电容放置板的上表面设置有两个连接杆,两个所述连接杆的顶端贯穿测试箱体的壁体且端部设置有连接板,所述连接板的外侧设置有顶端电容放置阁,所述连接板的上表面与顶端电容放置阁的内侧顶面之间设置有拉簧,所述顶端电容放置阁的一侧表面活动设置有活动密封板,所述活动密封板的上下端面均设置有导向滑板。
[0006]优选的,所述密封连接条与顶端电容放置阁的中间设置有导向滑槽,所述导向滑槽的内侧设置有导向滑板,所述导向滑板的材质为橡胶。
[0007]优选的,所述连接板的底面设置有密封垫片,所述密封垫片的尺寸与箱体顶部贯穿口的内侧尺寸完全一致。
[0008]优选的,所述测试箱体的前表面设置有圆形开口,所述圆形开口内侧设置有密封环,所述密封环朝向测试箱体内壁的表面设置有无尘橡胶手套,所述无尘橡胶手套与密封环密封连接。
[0009]优选的,所述顶端电容放置阁的前方设置有观察窗,所述观察窗卡接在测试箱体的内壁中,所述测试箱体的材质为透明防爆玻璃。
[0010]优选的,所述顶端电容放置阁的底面与测试箱体的顶端表面完全贴合,所述顶端电容放置阁与测试箱体通过焊接固定。
[0011]与现有技术相比,本技术的有益效果是:
[0012]1、本技术通过将组成耦合电路的耦合电容放置在升降电容放置板的表面,在耦合电容放置完毕后快速的对活动密封板进行复位,使得顶端电容放置阁进行封闭,然后工作人员将手部插入无尘橡胶手套内部,对升降电容放置板向下拉动,使得升降电容放置板带动连接杆和连接板下移,同时拉簧被动拉伸,直至连接板的底面与测试箱体的表面贴合,此时位于升降电容放置板表面的耦合电容进入测试箱体内部,工作人员对耦合电容取下,取下后松开升降电容放置板,使得拉簧弹性复原,带动连接板和升降电容放置板复位,使得升降电容放置板再次进入箱体顶部贯穿口内侧,可以在测试进行过程中始终保持装置的密封,使得内部不存在灰尘或其他杂质,保证除去干扰信号外不会存在其他的干扰源,保证测试结果的精确性;
[0013]2、本技术通过在顶端电容放置阁的侧面设置有滑动的活动密封板,而活动密封板与顶端电容放置阁之间通过导向滑板和密封连接条连接,使得活动密封板可以自由滑动,且保证在装置不使用时,活动密封板可以对顶端电容放置阁进行封闭,外界的水分子和灰尘无法顺着顶端电容放置阁和活动密封板、导向滑板和顶端电容放置阁之间的缝隙进入测试箱体内部,保证装置内部的密封。
附图说明
[0014]图1为本技术整体的结构示意图;
[0015]图2为本技术活动密封板的剖视图;
[0016]图3为本技术连接板的结构示意图。
[0017]图中:1、测试箱体;2、密封环;3、无尘橡胶手套;4、观察窗;5、顶端电容放置阁;6、活动密封板;7、导向滑板;8、密封连接条;9、拉簧;10、连接板;11、连接杆;12、箱体顶部贯穿口;13、升降电容放置板;14、干扰信号发射端。
具体实施方式
[0018]下面将结合本技术实施例中的附图,对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例,而不是全部的实施例。
[0019]请参阅图1至图3,本技术提供的一种实施例:一种瞬态耦合抗干扰测试装置,包括测试箱体1,测试箱体1的内侧顶面设置有干扰信号发射端14,测试箱体1的顶端设置有箱体顶部贯穿口12,箱体顶部贯穿口12的内侧活动设置有升降电容放置板13,升降电容放置板13的上表面设置有两个连接杆11,两个连接杆11的顶端贯穿测试箱体1的壁体且端部设置有连接板10,连接板10的外侧设置有顶端电容放置阁5,连接板10的上表面与顶端电容放置阁5的内侧顶面之间设置有拉簧9,顶端电容放置阁5的一侧表面活动设置有活动密封板6,活动密封板6的上下端面均设置有导向滑板7。
[0020]进一步,密封连接条8与顶端电容放置阁5的中间设置有导向滑槽,导向滑槽的内侧设置有导向滑板7,导向滑板7的材质为橡胶,导向滑板7可以将密封连接条8和顶端电容放置阁5之间的缝隙进行完全填充,避免水分子或灰尘进入缝隙内部。
[0021]进一步,连接板10的底面设置有密封垫片,密封垫片的尺寸与箱体顶部贯穿口12的内侧尺寸完全一致,可以保证在连接板10对着升降电容放置板13下移后且连接板10底面
与测试箱体1表面贴合后,对箱体顶部贯穿口12进行封闭,避免灰尘进入测试箱体1内部。
[0022]进一步,测试箱体1的前表面设置有圆形开口,圆形开口内侧设置有密封环2,密封环2朝向测试箱体1内壁的表面设置有无尘橡胶手套3,无尘橡胶手套3与密封环2密封连接,保证测试箱体1的密封性,同时便于工作人员将手部伸入测试箱体1内部进行耦合电路的安装。
[0023]进一步,顶端电容放置阁5的前方设置有观察窗4,观察窗4卡接在测试箱体1的内壁中,测试箱体1的材质为透明防爆玻璃,便于工作人员在进行操纵的同时观察测试箱体1内部组成耦合电路电容的变化,且具有足够的安全性。
[0024]进一步,顶端电容放置阁5的底面与测试箱体1的顶端表面完全贴合,顶端电容放置阁5与测试箱体1通过焊接固定,焊接固定使得顶端电容放置阁5和测试箱体1的连接处不会存在缝隙,避免灰尘或水分子顺着缝隙向测试箱体1内部渗透。
[0025]工作原理:使用时,首先将活动密封板6从顶端电容放置阁5的侧边抽处,使得顶端电容放置阁5内部与外界连通,此时将组成耦合电路的耦合电容放置在升降电容放置板13的表面,在耦合电容放置完毕后快速的对活动密封板6进行复位,使得顶端电容放置阁5进行封闭,然后工作人本文档来自技高网
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种瞬态耦合抗干扰测试装置,包括测试箱体(1),其特征在于:所述测试箱体(1)的内侧顶面设置有干扰信号发射端(14),所述测试箱体(1)的顶端设置有箱体顶部贯穿口(12),所述箱体顶部贯穿口(12)的内侧活动设置有升降电容放置板(13),所述升降电容放置板(13)的上表面设置有两个连接杆(11),两个所述连接杆(11)的顶端贯穿测试箱体(1)的壁体且端部设置有连接板(10),所述连接板(10)的外侧设置有顶端电容放置阁(5),所述连接板(10)的上表面与顶端电容放置阁(5)的内侧顶面之间设置有拉簧(9),所述顶端电容放置阁(5)的一侧表面活动设置有活动密封板(6),所述活动密封板(6)的上下端面均设置有导向滑板(7)。2.根据权利要求1所述的一种瞬态耦合抗干扰测试装置,其特征在于:所述密封连接条(8)与顶端电容放置阁(5)的中间设置有导向滑槽,所述导向滑槽的内侧设置有导向滑板(7),所述导向滑板(7)的材质为橡...

【专利技术属性】
技术研发人员:李明富
申请(专利权)人:广东恒永科技有限公司
类型:新型
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1