一种显示面板的检测方法及检测电路技术

本申请提供一种显示面板的检测方法及检测电路，所示显示面板包括基板以及位于基板上的若干信号线，所述检测方法包括：从所述信号线的始端发射信号；从所述信号线的末端接收信号；根据所接收的所述信号生成所述信号线的信号检测波形；判断所述检测信号的波形是否发生形变；若判断为是，则判断显示面板断路或短路。本申请采用电流或者电压信号在信号线中传输时生成的信号检测波形是否发生异常而判断信号线是否有断路或者短路的现象发生，进而通过断路或者短路的现象判断显示面板是否有破片的现象发生，克服现有技术中利用探头对显示面板进行探测时容易因异物掉落在显示面板上引起探测时损伤显示面板的情况。起探测时损伤显示面板的情况。起探测时损伤显示面板的情况。

【技术实现步骤摘要】
一种显示面板的检测方法及检测电路


[0001]本申请涉及显示
，尤其涉及一种显示面板的检测方法及检测电路。

技术介绍

[0002]在大尺寸TFT
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LCD及TFT
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OLED行业，栅极及源漏极信号线制程完成后，通常会增加内部信号线断路与短路(Open&Short)检测站点，检出栅极线路及源漏极线路的Open&short，以及时修复，提升产品良率。
[0003]但是对信号线进行断路/短路的检测通常使用OST(Open/Short Tester)装置，该装置在测试过程中探测器的探测头距离玻璃表面较近(100～200um)。当有微小异物掉落到玻璃表面时，极易发生玻璃刮伤或者破片。同时因为设备在生产过程中需要进行玻璃旋转，会对玻璃进行低真空吸附，也容易发生微小异物导致的玻璃吸附裂纹。
[0004]当破片未发生在探测器的探测头的扫描路径上时，可能会由于漏检而导致大批量破片异常的发生。且随着面板尺寸的增大，受限于探测器的探测头的扫描路径的设置，该异常发生的风险越高。<本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种显示面板的检测方法，所示显示面板包括基板、以及位于基板上的若干信号线，其特征在于，所述检测方法包括：从所述信号线的始端发射信号；从所述信号线的末端接收信号；根据所接收的所述信号生成所述信号线的信号检测波形；判断所述检测信号的波形是否发生形变；若判断为是，则判断显示面板断路或短路。2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，判断所述检测信号的波形是否发生形变包括：获取所述信号检测波形的第一特征参数；将所述第一特征参数和预设波形的第一特征参数进行比较，以判断所述检测信号的波形是否发生形变。3.根据权利要求2所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述第一特征参数包括所述信号检测波形的幅度、所述信号检测波形的上升沿时间、所述信号检测波形的下降沿时间、所述信号检测波形的脉宽以及所述信号检测波形的重复周期中的至少一种。4.根据权利要求1所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述信号检测波形包括多个正常的分信号波形，每个所述分信号波形与一个信号线对应，且第N个信号线对应的分信号波形的起始端与第N
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1个信号线对应的分信号波形的末端相连，第N个信号线对应的分信号波形的末端与第N+1个信号线对应的分信号波形的起始端相连。5.根据权利要求4所述的显示面板的检测方法，其特征在于，当判断显示面板短路或者短路时，还包括输出发生断路或者短路的信号线的位置并给出报警，其中，输出当前发生断路或者短路的所述信号线的位置的方法包括：统计当前所述信号检测波形包括的分信号波形的第二特征参数；以及根据所述第二特征参数与所述信号线的对应关系得出当前发生...

【专利技术属性】
技术研发人员：何伟，
申请(专利权)人：深圳市华星光电半导体显示技术有限公司，
类型：发明
国别省市：