一种零反向间隙的微粒强度测量仪器制造技术

本实用新型专利技术公开了一种零反向间隙的微粒强度测量仪器，包括底座，底座上设置有镜头支撑架、样品支撑架、传感器安装架，样品支撑架用于支撑样品，镜头支撑架上支撑有用于观察样品的显微装置，传感器安装架上滑动设置有传动器移动架，传感器移动架上安装有力传感器，力传感器上安装有施力部件，施力部件位于样品上方且用于对样品施加竖直方向上的力；传感器安装架上设有驱动传感器移动架竖向移动的驱动机构，传感器安装架上悬吊设置有弹性部件，弹性部件位于传感器移动架的上方，且弹性部件底部与传感器移动架顶部连接，通过弹性部件给传感器移动架提供弹性拉力。本实用新型专利技术相比现有技术具有以下优点：实现了对微粒强度的准确测量。量。量。

【技术实现步骤摘要】
一种零反向间隙的微粒强度测量仪器


[0001]本技术涉及一种测量装置，尤其涉及的是一种零反向间隙的微粒强度测量仪器。

技术介绍

[0002]随着纳米材料科学的发展，以微米级颗粒状呈现的各类材料和产品不断涌现，如缓释药物、新型洗衣剂及柔顺剂、缓释香水等。微粒的材料性能对生产工艺过程及使用效果等有着重要的影响，因此，通过相关技术手段可以直接或者间接测量相关产品中微粒的材料性能显得极其重要。传统的微粒强度测量仪器，通过驱动机构驱动施力部件上下移动，在施力部件给样品施压过程中，当施加给样品一定的载荷后，驱动机构要带动施力部件反向移动，在此过程中，驱动机构会产生一个反向间隙，施力部件在自身重力作用下会继续向下移动一个小的位移，直接导致测量数据存在波动，测量数据不准确。

技术实现思路

[0003]本技术的目的在于克服现有技术的不足，提供了一种零反向间隙的微粒强度测量仪器，以实现微粒强度的准确测量。
[0004]本技术是通过以下技术方案实现的：
[0005]一种零反向间隙的微粒强度测量仪器，包括底座，所述底座上设置有镜头支撑架、样本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种零反向间隙的微粒强度测量仪器，包括底座(1)，其特征在于：所述底座(1)上设置有镜头支撑架(2)、样品支撑架(3)、传感器安装架(4)，样品支撑架(3)用于支撑样品，镜头支撑架(2)上支撑有用于观察样品的显微装置(25)，传感器安装架(4)上滑动设置有传动器移动架(43)，传感器移动架仅能沿着传感器安装架(4)的竖直方向移动，传感器移动架上安装有力传感器(44)，力传感器(44)上安装有施力部件，施力部件位于样品上方且用于对样品施加竖直方向上的力；传感器安装架(4)上设有驱动传感器移动架竖向移动的驱动机构，传感器安装架(4)上悬吊设置有弹性部件，弹性部件位于传感器移动架的上方，且弹性部件底部与传感器移动架顶部连接，通过弹性部件给传感器移动架提供弹性拉力。2.如权利要求1所述的一种零反向间隙的微粒强度测量仪器，其特征在于：所述驱动机构包括电机(48)、丝杆(49)、螺母(410)，电机(48)安装在传感器安装架(4)顶部，丝杆(49)呈竖向延伸的转动支撑在传感器安装架(4)上，电机(48)的输出轴竖直向下延伸并与丝杆(49)顶部固定，螺母(410)与丝杆(49)螺纹配合，且螺母(410)与传感器移动架固定连接。3.如权利要求2所述的一种零反向间隙的微粒强度测量仪器，其特征在于：所述传感器移动架一侧固定有滑块(415)，传感器安装架(4)上固定有竖向的导轨(416)，滑块(415)与导轨(416)滑动配合。4.如权利要求1所述的一种零反向间隙的微粒强度测量仪器，其特征在于：所述弹性部件为若干平行设置的拉簧(47)，拉簧(47)上下两端分别固定在传感器安装架(4)和传感器移动架上。5.如权利要求1所述的一种零反向间隙的微粒强度测量仪器，其特征在于：所述传感器移动架包括依次连接的基座(412)、悬臂(413)和安装板(414)，传感器移动架通过基座(412)与传感器安装架(4)滑动连接，安装板(414)上安装力传感器(44)，通过悬臂(413)将安装板(414)从传感器安装架(4)上向外延伸出来，使得安装板(414)上的力传感器(44)位于样品支撑架...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙鹏，汪志焕，孔令成，卢青，顾潇宇，杨文凤，张志华，刘东，
申请(专利权)人：常州先进制造技术研究所，
类型：新型
国别省市：