基于矢量网络分析仪结构实现射频开关通断时间测量的方法、装置、处理器及其存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种基于矢量网络分析仪结构实现射频开关通断时间测量的方法，包括设置外部触发信号；矢量网络分析仪接收到外部触发信号，ADC模块开始采样时钟频率；将开关稳定时间或关闭时间分别与数字本振进行数字混频，得到I/Q两路信号；进行滤波处理，算幅度值。本发明专利技术还涉及一种基于矢量网络分析仪结构实现射频开关通断时间测量的装置、处理器及计算机可读存储介质。采用了本发明专利技术的基于矢量网络分析仪结构实现射频开关通断时间测量的方法、装置、处理器及其计算机可读存储介质，利用矢量网络分析仪大的动态范围可测出开关开启前或关闭后的隔离度以及插损等指标，方便又简洁，可以看到开关从缓冲到稳定的曲线，能够直观对比各型号开关的性能。型号开关的性能。型号开关的性能。

【技术实现步骤摘要】
基于矢量网络分析仪结构实现射频开关通断时间测量的方法、装置、处理器及其存储介质


[0001]本专利技术涉及测试测量
，尤其涉及矢量网络分析仪领域，具体是指一种基于矢量网络分析仪结构实现射频开关通断时间测量的方法、装置、处理器及其计算机可读存储介质。

技术介绍

[0002]由于开关的工作特性，开关在通电且打开后会经过一段时间的缓冲才能保持稳定，从打开到稳定所需的时间越短，表示开关速度越快，性能越好。因此，精确测量出开关通断延时时间就显得尤为重要。
[0003]现有技术测量开关通断延时时间的方法是，用示波器测量开关通断的波形，通过波形曲线来计算出开关的导通或关闭时间。这种传统的测量方法存在较多缺点，具体表现在：
[0004]结果不够精准：由于示波器的局限性，比如：
[0005]1、大部分示波器不能显示功率随时间的变化，因此这种测试方法误差较大，测试结果不够准确；
[0006]2、示波器没有射频源作为开关的输入信号；
[0007]3、测试高频开关时，需要外接本振和混频器等，这种方法外接设备繁琐容易出错。<本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于矢量网络分析仪结构实现射频开关通断时间测量的方法，其特征在于，所述的方法包括以下步骤：(1)设置外部触发信号，作为矢量网络分析仪的输入触发信号和被测开关的控制信号；(2)矢量网络分析仪接收到外部触发信号，ADC模块开始采样时钟频率，被测开关根据外部触发信号导通或关闭；(3)矢量网络分析仪接收采样数据，将开关稳定时间或关闭时间分别与数字本振进行数字混频，得到I/Q两路信号；(4)将所述的I/Q两路信号经过FIR低通滤波器进行滤波处理，传输至数字信号处理器，根据I/Q数据计算幅度值，上位机按照波形曲线的形式显示各采样点的数据。2.根据权利要求1所述的基于矢量网络分析仪结构实现射频开关通断时间测量的方法，其特征在于，所述的步骤(3)具体包括以下步骤：(3.1)将本振信号和射频信号进行混频，得到中频数据；(3.2)将中频数据通过抗混叠滤波器滤波，进行A/D采样，通过低压差分信号传输至FPGA；(3.3)经过数字下变频，将数字中频下变频到零中频，得到I/Q两路信号。3.根据权利要求1所述的基于矢量网络分析仪结构实现射频开关通断时间测量的方法，其特征在于，所述的步骤(4)具体包括以下步骤：(4.1)将I/Q两路信号通过FIR滤波器进行滤波处理；(4.2)经过FIR滤波器的数据，通过数字信号处理器进行读取，转换成表示幅度的功率值并传输至上位机；(4.3)上位机将数据以波形曲线的形式显示各采样点的数据。4.根据权利要求2所述的基于矢量网络分析仪结构实现射频开关通断时间测量的方法，其特征在于，所述的步骤(3.2)中进行A/D采样，具体为：根据以下公式得到A/D采样的采样速率：f

【专利技术属性】
技术研发人员：童杰，李栋，于磊，
申请(专利权)人：上海创远仪器技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：