一种SDH数据质量分析方法及系统技术方案

技术编号:32225331 阅读:16 留言:0更新日期:2022-02-09 17:30
本发明专利技术公开了一种SDH数据质量分析方法及系统,该方法包括分别对SDH数据进行传输层和应用层的数据分析;传输层的数据分析包括:从SDH输入数据里提取单帧数据,提取各类与校验相关的开销字节并计算、对比每帧的校验和,如果当前帧数据计算校验和与上一帧开销校验和一致则认为数据正确,如果不一致则认为出现一次误码;应用层的数据分析包括:S1:从SDH输入数据里提取单帧、复帧数据,对开销字节进行解析,得到复用结构、承载业务类型和净负荷数据;S2:根据S1中的承载业务类型对C

【技术实现步骤摘要】
一种SDH数据质量分析方法及系统


[0001]本专利技术涉及数据分析
,特别涉及一种SDH数据质量分析方法及系统。

技术介绍

[0002]当前SDH数据质量分析方法,大部分采取传输层开销字段计算方案,即通过原始数据计算、与开销字节对比的方法,其处理框架如图1所示,其中,上一帧校验和是通过上一帧原始数据计算得到上一帧校验和SUM1。当前帧开销字段是通过B1、B2、B3、V5等开销字段得到上一帧校验和SUM2。误码统计是对比SUM1与SUM2得到误码情况。一般的分析方法只有传输层误码统计,不支持应用层数据误码统计,无法获知应用层的实际可用情况。
[0003]因此,现有技术存在缺陷,需要改进。

技术实现思路

[0004]本专利技术的主要目的是提出一种SDH数据质量分析方法及系统,旨在对SDH数据在传输层和应用层进行全面分析。
[0005]为实现上述目的,本专利技术提出的一种SDH数据质量分析方法,包括分别对SDH数据进行传输层和应用层的数据分析;
[0006]传输层的数据分析包括:从SDH输入数据里提取单帧数据,提取各类与校验相关的开销字节并计算、对比每帧的校验和,如果当前帧数据计算校验和与上一帧开销校验和一致则认为数据正确,如果不一致则认为出现一次误码;
[0007]应用层的数据分析包括:
[0008]S1:从SDH输入数据里提取单帧、复帧数据,对开销字节进行解析,得到复用结构、承载业务类型和净负荷数据;
[0009]S2:根据S1中的承载业务类型对C
‑4‑
Xc或C

4、C

3、C

2、C

12、C

11的净负荷数据和时隙TS数据进行质量检查。
[0010]优选地,传输层的数据分析具体包括:
[0011]步骤1:提取当前帧RSOH再生段开销的B1字节,同时将上一帧扰码后的STM

N帧所有字节进行XOR运算,得到上一帧BIP

N*8校验和为B1

,检查B1与B1

是否一致;
[0012]步骤2:提取当前帧MSOH复用段开销的B2B2B2字节,同时将上一帧扰码后的STM

N帧所有字节N*3个字节一组进行XOR运算得到上一帧BIP

N*24校验和为B2

B2

B2

,检查B2B2B2与B2

B2

B2

是否一致;
[0013]步骤3:提取当前VC
‑4‑
Xc、VC

4和VC3帧的B3字节,同时将上一帧VC
‑4‑
Xc、VC

4和VC3的所有字节进行XOR运算得到上一帧BIP

N*8校验和为B3

,检查B3与B3

是否一致;
[0014]步骤4:VC

2、VC

12、VC

11均采用V5存储BIP

2校验和,提取当前帧的V5字节,包括b1b2,同时将上一帧所有字节的1、3、5、7比特进行XOR运算得到b1

,2、4、6、8比特进行XOR运算得到b2

,检查b1b2与b1

b2

是否一致。
[0015]优选地,应用层数据分析中的S1具体包括:
[0016]根据AU

4指针的H1、H2信息得到VC
‑4‑
Xc的分组信息和级联数量,每个分组的级联数量X取值范围为4、16、64;
[0017]根据高阶通道开销HPOH的信号标记字节C2得到每个VC
‑4‑
Xc或VC

4的净负荷类型,包括TUG、HDLC、GFP、EOS、ATM,并提取C
‑4‑
Xc或C

4净负荷数据;对于VC

4的GFP净负荷类型,还需要根据HPOH的TU位置指示字节H4来判断是否属于虚级联类型。
[0018]优选地,对于C2为HDLC的净负荷类型,根据C
‑4‑
Xc或C

4净负荷数据判断其加扰模式和CRC方式;
[0019]对于C2为TUG的净负荷类型,根据HPOH的H4字节和TU

3指针的H1字节综合判断是TUG3或DS3结构;
[0020]对于DS3结构,根据C2字节判断是否属于GFP或ATM或HDLC净负荷类型,根据H4字节判断是否属于虚级联类型,并提取C

3净负荷数据;
[0021]对于TUG3和DS3结构,根据V1的SS比特判断其下是TU2或TU12或TU11结构;
[0022]对于TU2结构,根据C

2净负荷数据判断是否属于HDLC净负荷类型;
[0023]对于TU12结构,根据K4判断是否属于GFP或ATM或HDLC净负荷类型,以及是否属于虚级联类型;提取C

12净负荷数据,判断是否属于E1类型;提取C

11净负荷数据,判断是否属于T1类型;
[0024]对于E1类型和T1类型,提取时隙数据,通过同起同落规律、最大相似原则、协议分布特征综合判断是否属于ATM或HDLC净负荷类型。
[0025]优选地,应用层数据分析中的S2具体包括:
[0026]对于POS或EOS或GFP或HDLC数据,统计包总数、超长包、超短包、包长分布、包流量,以及通过CRC16或32校验统计CRC正确与错误的数量;
[0027]对于ATM数据,统计信元总数、信元头部CRC16校验的正确与错误次数;净负荷做X43+1解扰后,对于HDLC类型的承载数据统计包总数、超长包、超短包、包长分布、包流量,以及通过CRC16或32校验统计CRC正确与错误的数量;
[0028]对于E1或T1数据,统计同步正确与错误次数。
[0029]优选地,还包括一种SDH数据质量分析系统,该系统包括用于对SDH数据进行传输层数据分析的开销处理单元、用于对SDH数据进行应用层数据分析的负荷提取单元和应用处理单元;
[0030]所述开销处理单元用于从SDH输入数据里提取单帧数据,提取各类与校验相关的开销字节并计算、对比每帧的校验和,如果当前帧数据计算校验和与上一帧开销校验和一致则认为数据正确,如果不一致则认为出现一次误码;
[0031]所述负荷提取单元用于从SDH输入数据里提取单帧、复帧数据,对开销字节进行解析,得到复用结构、承载业务类型和净负荷数据,并发送至应用处理单元;
[0032]所述应用处理单本文档来自技高网
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种SDH数据质量分析方法,其特征在于,包括分别对SDH数据进行传输层和应用层的数据分析;传输层的数据分析包括:从SDH输入数据里提取单帧数据,提取各类与校验相关的开销字节并计算、对比每帧的校验和,如果当前帧数据计算校验和与上一帧开销校验和一致则认为数据正确,如果不一致则认为出现一次误码;应用层的数据分析包括:S1:从SDH输入数据里提取单帧、复帧数据,对开销字节进行解析,得到复用结构、承载业务类型和净负荷数据;S2:根据S1中的承载业务类型对C
‑4‑
Xc或C

4、C

3、C

2、C

12、C

11的净负荷数据和时隙TS数据进行质量检查。2.如权利要求1所述的SDH数据质量分析方法,其特征在于,传输层的数据分析具体包括:步骤1:提取当前帧RSOH再生段开销的B1字节,同时将上一帧扰码后的STM

N帧所有字节进行XOR运算,得到上一帧BIP

N*8校验和为B1

,检查B1与B1

是否一致;步骤2:提取当前帧MSOH复用段开销的B2B2B2字节,同时将上一帧扰码后的STM

N帧所有字节N*3个字节一组进行XOR运算得到上一帧BIP

N*24校验和为B2

B2

B2

,检查B2B2B2与B2

B2

B2

是否一致;步骤3:提取当前VC
‑4‑
Xc、VC

4和VC3帧的B3字节,同时将上一帧VC
‑4‑
Xc、VC

4和VC3的所有字节进行XOR运算得到上一帧BIP

N*8校验和为B3

,检查B3与B3

是否一致;步骤4:VC

2、VC

12、VC

11均采用V5存储BIP

2校验和,提取当前帧的V5字节,包括b1b2,同时将上一帧所有字节的1、3、5、7比特进行XOR运算得到b1

,2、4、6、8比特进行XOR运算得到b2

,检查b1b2与b1

b2

是否一致。3.如权利要求1所述的SDH数据质量分析方法,其特征在于,应用层数据分析中的S1具体包括:根据AU

4指针的H1、H2信息得到VC
‑4‑
Xc的分组信息和级联数量,每个分组的级联数量X取值范围为4、16、64;根据高阶通道开销HPOH的信号标记字节C2得到每个VC
‑4‑
Xc或VC

【专利技术属性】
技术研发人员:陈泽华张杰冯子滕
申请(专利权)人:深圳市东晟数据有限公司
类型:发明
国别省市:

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