一种光学伪装涂料漆膜扩散重叠区域宽度的测量方法技术

技术编号:32225220 阅读:16 留言:0更新日期:2022-02-09 17:30
本发明专利技术涉及一种光学伪装涂料漆膜扩散重叠区域宽度的测量方法,其特征是:该测量方法具体步骤如下:标准白色光源发射白光,发射白光按均匀速度垂直扫描光学伪装涂料漆膜的A色块和B的交界区域,测量发射白光依次扫描A色块和B色块时,反射光的波长出现两个拐点的时间t1和t2,通过公式扫描长度L=t

【技术实现步骤摘要】
一种光学伪装涂料漆膜扩散重叠区域宽度的测量方法


[0001]本专利技术属于测量
,具体涉及一种光学伪装涂料漆膜扩散重叠区域宽度的测量方法。

技术介绍

[0002]现有光学伪装涂料漆膜扩散重叠区域宽度的测量方法采用目视方法,仅能从感官上判断光学伪装涂料漆膜扩散重叠区域宽度,不同的人观察差异性显著。光学伪装涂料漆膜颜色的测量方法一般采用GB/T3979规定的方法,光谱光度测色法和色度计法。
[0003]现有测量方法的缺陷,目视方法判断光学伪装涂料漆膜扩散重叠区域宽度,具有人为的差异性和不能定量测量的缺陷。GB/T3979规定的方法,光谱光度测色法和色度计法能够测量物体颜色,不能确定光学伪装涂料漆膜扩散重叠区域宽度。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的是提供一种光学伪装涂料漆膜扩散重叠区域宽度的测量方法,实现了连续测量相邻光学伪装涂料漆膜色块的光学特征,克服目视方法和GB/T3979规定的方法存在差异性和不能定量测量的技术问题。
[0005]本专利技术的技术方案是,一种光学伪装涂料漆膜扩散重叠区域宽度的测量方法,具体步骤如下:
[0006]标准白色光源发射白光,发射白光按均匀速度垂直扫描光学伪装涂料漆膜的A色块和B的交界区域,测量发射白光依次扫描A色块和B色块时,反射光的波长出现两个拐点的时间t1和t2,通过公式扫描长度L=t
×ꢀ
v,v为发射白光的移动速度,计算出L1和L2,光学伪装涂料漆膜扩散重叠区域宽度

L计算如下:

L=L2

L1
[0007]式中:

L:漆膜扩散重叠区域宽度,单位为微米;
[0008]L1:光源离开A色块颜色出现拐点时距离起点的长度,单位为微米;
[0009]L2:光源进入B色块颜色出现拐点时距离起点的长度,单位为微米。
[0010]本专利技术的有益效果是,本专利技术采用标准白色光源从发射的光源扫描光学伪装涂料漆膜的A、B两个色块的交界区域,实现了光学伪装涂料漆膜扩散重叠区域的定量测量,克服了目视方法具有人为的差异性和不能定量测量的缺陷,具有精确、自动、可与喷涂施工同步进行等优点。
附图说明
[0011]图1为本专利技术中扫描长度L与波长λ的关系曲线,其中A色波长小于 B色块波长;
[0012]图2为本专利技术中扫描长度L与波长λ的关系曲线,其中A色波长大于 B色块波长。
具体实施方式
[0013]下面结合说明书附图对本专利技术的技术方案作进一步详细描述。
[0014]本专利技术一种光学伪装涂料漆膜扩散重叠区域宽度的测量方法,具体步骤如下:
[0015]通过标准白色光源从发射的光源,按均匀速度垂直扫描通过光学伪装涂料漆膜的A、B两个色块的交界区域。发射白光在A色块、B色块的两个色块区域内时,反射光的波长分别对应两个色块颜色的波长,发射白光在在A色块、B色块两种光学伪装涂料漆膜扩散重叠区域扫描时,反射光波长发生不同于A色块、B色块两个色块颜色的波长变化,通过测量入射光扫描A、B两个色块颜色的波长变化出现拐点的时间t以及移动速度v,扫描长度L=t
×
v,据此可以计算出光学伪装涂料漆膜扩散重叠区域宽度。长度L的单位为微米,时间t的单位为秒,发射白光扫描速度v的单位为微米/秒。
[0016]如图1和如2所示,光学伪装涂料漆膜扩散重叠区域宽度计算如下:
[0017]△
L=L2

L1
[0018]式中:

L:漆膜扩散重叠区域宽度;
[0019]L1:光源离开A色块颜色出现拐点时距离起点的长度,单位为微米;
[0020]L2:光源进入B色块颜色出现拐点时距离起点的长度,单位为微米;
[0021]本专利技术的工作原理是,通过可产生白光的照明体(如标准白色光源) 发射白光,发射光经过聚焦系统(如光学组件)形成有效测量直径的光斑,并白光以一定的入射角照射在光学伪装涂料漆膜(2种颜色对接区域)上,在反射角的位置上放置反射光接收测量装置(如分光光度计、电积分仪),标准白色光源按固定速率垂直于光学伪装涂料漆膜扩散重叠区域移动,依据测量的反射光的波长、强度变化和移动速率耦合计算出光学伪装涂料漆膜扩散重叠区域宽度。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光学伪装涂料漆膜扩散重叠区域宽度的测量方法,其特征是:该测量方法具体步骤如下:标准白色光源发射白光,发射白光按均匀速度垂直扫描光学伪装涂料漆膜的A色块和B的交界区域,测量发射白光依次扫描A色块和B色块时,反射光的波长出现两个拐点的时间t1和t2,通过公式扫描长度L=t
×
v,v为发射白光的移动速度,计算出L1和L2,光...

【专利技术属性】
技术研发人员:孙宣杰赵文军孙悦茗孟庆力周嘉维闫静廖钧张维杨志浩谭冲维高玉英
申请(专利权)人:内蒙古第一机械集团股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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