阵列基板、显示面板及其坏点修复方法技术

本发明专利技术提出一种阵列基板、显示面板及显示面板的坏点修复方法，阵列基板包括衬底基板和设于所述衬底基板上的多个数据线、多个扫描线以及多个阵列排布的子像素，多个所述数据线和多个所述扫描线绝缘交叉设置，每一所述子像素与一所述数据线和一所述扫描线对应设置；所述子像素包括多组像素结构，所述像素结构包括电性连接的像素电极和像素驱动电路，所述像素驱动电路分别与对应的所述数据线和所述扫描线电性连接，每一所述像素电极对应形成一发光区。本申请的技术方案，在子像素存在坏点时可进行修复，避免该子像素永远只显示一种颜色。避免该子像素永远只显示一种颜色。避免该子像素永远只显示一种颜色。

【技术实现步骤摘要】
阵列基板、显示面板及其坏点修复方法


[0001]本专利技术涉及显示
，特别涉及一种阵列基板、显示面板及显示面板的坏点修复方法。

技术介绍

[0002]坏点是显示面板常见的不良现象，当显示面板中的某一子像素存在坏点时，即整个子像素区域完全变暗不发光或只能发出一种颜色的光，使得该子像素区域永远是显示同一种颜色，影响显示面板的显示效果；示例性技术中，当子像素存在坏点时，对于完全变暗的情况无法进行处理修复，对于只发出一种颜色的光的情况，是采用将整个子像素暗化处理的方式将子像素变成暗点，以弱化坏点子像素的影响，但实际上暗点同样影响显示效果。

技术实现思路

[0003]本专利技术的主要目的是提供一种阵列基板、显示面板及显示面板的坏点修复方法，旨在提供一种可修复的阵列基板，以在子像素存在坏点时可进行修复，避免该子像素永远只显示一种颜色。
[0004]为实现上述目的，本专利技术提出的一种阵列基板，包括：
[0005]衬底基板；
[0006]多条扫描线，多条所述扫描线并排设置于所述衬底基板；以及
[0007]多个子像素，多个所述子像素阵列排布于所述衬底基板，每一所述子像素与一所述扫描线对应设置，所述子像素包括多组像素结构，所述像素结构包括电性连接的像素电极和像素驱动电路，所述像素驱动电路与对应的所述数据线和所述扫描线电性连接，每一所述像素电极对应形成一发光区。
[0008]在本申请的一实施例中，多个所述像素结构于所述衬底基板的正投影分布于对应的所述扫描线于所述衬底基板的正投影的两侧。
[0009]在本申请的一实施例中，所述阵列基板还包括平坦层，所述像素驱动电路、所述平坦层以及所述像素电极自下而上层叠设置于所述衬底基板，多个所述像素电极均设于所述平坦层的背离所述衬底基板的表面，所述平坦层设有多个过孔，每一所述像素电极穿过一所述过孔与对应的所述像素驱动电路接触。
[0010]在本申请的一实施例中，所述阵列基板还包括设于所述平坦层的背离所述像素驱动电路的一侧的像素界定层、发光层以及阴极，所述像素界定层覆盖于所述像素电极的外周，所述发光层和所述阴极依次层叠设置于所述像素电极和所述像素界定层上方，所述像素电极区域形成所述发光区。
[0011]在本申请的一实施例中，所述阵列基板为顶发射式阵列基板，所述像素驱动电路于所述像素界定层的正投影位于对应的所述发光区内。
[0012]在本申请的一实施例中，所述阵列基板还包括电源线，所述像素驱动电路包括：
[0013]驱动晶体管，每一所述驱动晶体管的源极与对应的所述像素电极连接，所述驱动
晶体管的漏极与所述电源线连接；
[0014]开关晶体管，所述开关晶体管的漏极与所述数据线连接，所述开关晶体管的栅极与所述扫描线连接；以及
[0015]存储电容，所述存储电容包括相对设置的第一电极和第二电极，所述驱动晶体管的栅极和所述开关晶体管的源极均与所述第一电极电连接，所述第二电极与所述电源线电连接。
[0016]在本申请的一实施例中，所述驱动晶体管的栅极与所述第一电极一体化设置，所述电源线与所述第二电极一体化设置，所述驱动晶体管与所述电源线于所述衬底基板上方部分层叠设置以形成所述存储电容。
[0017]在本申请的一实施例中，所述阵列基板包括：
[0018]有源层，所述有源层形成所述驱动晶体管的有源层图案以及所述开关晶体管的有源层图案；
[0019]栅绝缘层，所述栅绝缘层设于所述有源层的背离所述衬底基板的一侧；
[0020]第一金属层，所述第一金属层形成所述驱动晶体管的栅极、所述开关晶体管的栅极以及所述第一电极；
[0021]层间介电层，所述层间介电层覆盖于所述第一金属层上方；以及
[0022]第二金属层，所述第二金属层形成有所述驱动晶体管的源极和漏极、所述开关晶体管的源极和漏极、所述电源线以及所述第二电极；
[0023]其中，所述驱动晶体管的源极和漏极分别穿设于所述层间介电层与所述驱动晶体管的有源层图案接触，所述开关晶体管的源极和漏极分别穿设于所述层间介电层与所述开关晶体管的有源层图案接触。
[0024]本申请还提出一种显示面板，包括封装膜层、偏光片、盖板和如上述阵列基板，封装膜层、偏光片、盖板依次层叠设于所述阵列基板上。
[0025]本申请还提出一种显示面板的坏点修复方法，应用于如前述任一实施例中所述的阵列基板和显示面板，所述显示面板的坏点修复方法包括如下步骤：
[0026]确定坏点发光区的位置；
[0027]切断坏点发光区对应的像素电极与对应的像素驱动电路之间的连接；
[0028]和/或，切断坏点发光区对应的像素驱动电路与对应的扫描线之间的连接。
[0029]本申请提出的阵列基板中，每一子像素中包括多个像素结构以对应形成多个发光区，同时每一像素结构均设置有像素驱动电路，每个发光区对应的像素电极分别连接于对应的像素驱动电路，多个像素驱动电路连接于阵列基板中的同一扫描线。正常状态下，每一子像素中，各个像素结构的像素驱动电路接收数据线和扫描线相同的控制信号向各个像素电极输入电流，使得各个发光区亮度均衡颜色统一。当子像素中某一发光区存在坏点时，仅需切断该发光区对应的像素结构中像素电极与像素驱动电路之间的连接或者切断该发光区对应的像素结构中像素驱动电路与扫描线之间的连接，阻断像素驱动电路向像素电极输入电流或者阻断像素驱动电路接收扫描线的数据信号，使该发光区暗化，而此时同一子像素内的其他发光区仍能在对应的像素驱动电路的控制下发出不同颜色的光，避免该子像素区域永远显示同一种颜色，以此减弱暗化的发光区对显示效果的影响，实现对阵列基板的修复。
附图说明
[0030]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
[0031]图1为本专利技术阵列基板一实施例的结构图；
[0032]图2为图1中a
‑
a
’
的剖视图；
[0033]图3为本专利技术坏点修复方法一实施例的流程图；
[0034]图4为本专利技术坏点修复方法另一实施例的流程图。
[0035]附图标号说明：
[0036]标号名称标号名称100阵列基板41232第二电极10衬底基板4124有源层20数据线4125栅绝缘层30扫描线4126第一金属层40子像素4127第二金属层41像素结构4128层间介电层411像素电极413发光区412像素驱动电路414像素界定层4121驱动晶体管415发光层4122开关晶体管416阴极4123存储电容50平坦层41231第一电极60电源线
[0037]本专利技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种阵列基板，包括衬底基板和设于所述衬底基板上的多个数据线、多个扫描线以及多个阵列排布的子像素，多个所述数据线和多个所述扫描线绝缘交叉设置，每一所述子像素与一所述数据线和一所述扫描线对应设置，其特征在于，所述子像素包括多组像素结构，所述像素结构包括电性连接的像素电极和像素驱动电路，所述像素驱动电路分别与对应的所述数据线和所述扫描线电性连接，每一所述像素电极对应形成一发光区。2.如权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，多个所述像素结构于所述衬底基板的正投影分布于对应的所述扫描线于所述衬底基板的正投影的两侧。3.如权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述阵列基板还包括平坦层，所述像素驱动电路、所述平坦层以及所述像素电极自下而上层叠设置于所述衬底基板，多个所述像素电极均设于所述平坦层的背离所述衬底基板的表面，所述平坦层设有多个过孔，每一所述像素电极穿过一所述过孔与对应的所述像素驱动电路接触。4.如权利要求3所述的阵列基板，其特征在于，所述阵列基板还包括设于所述平坦层的背离所述像素驱动电路的一侧的像素界定层、发光层以及阴极，所述像素界定层覆盖于所述像素电极的外周，所述发光层和所述阴极依次层叠设置于所述像素电极和所述像素界定层上方，所述像素电极区域形成所述发光区。5.如权利要求4所述的阵列基板，其特征在于，所述阵列基板为顶发射式阵列基板，所述像素驱动电路于所述像素界定层的正投影位于对应的所述发光区内。6.如权利要求1至5任意一项中所述的阵列基板，其特征在于，所述阵列基板还包括电源线，所述像素驱动电路包括：驱动晶体管，每一所述驱动晶体管的源极与对应的所述像素电极连接，所述驱动晶体管的漏极与所述电源线连接；开关晶体管，所述开关晶体管的漏极与所述数据线连接，所述开关晶体管的栅极与...

【专利技术属性】
技术研发人员：李源规，崔昇圭，宋一男，金海源，唐波玲，金璐，郑浩旋，
申请(专利权)人：惠科股份有限公司，
类型：发明
国别省市：