检测显示面板不良的方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种检测显示面板不良的方法及装置，属于显示技术领域。其中，检测显示面板不良的方法包括：采集待检测显示面板的面板图像，所述显示面板的多个第一像素分别对应所述面板图像中的多个第二像素；将所述面板图像转换为二值图像；对所述二值图像中的每个亮点区域进行膨胀，使得相邻的所述亮点区域连通，在所述二值图像上形成至少一个封闭的连通域；根据所述至少一个封闭的连通域确定所述二值图像中的感兴趣区域掩膜图像；根据所述感兴趣区域掩膜图像和所述面板图像确定感兴趣区域；对所述感兴趣区域进行特征识别，确定所述显示面板的不良特征。通过本发明专利技术的技术方案，能够准确识别出显示面板不良。准确识别出显示面板不良。准确识别出显示面板不良。

【技术实现步骤摘要】
检测显示面板不良的方法及装置


[0001]本专利技术涉及显示
，特别是指一种检测显示面板不良的方法及装置。

技术介绍

[0002]OLED显示面板制造过程中，由于工艺影响会出现裂纹等不良，同时在OLED显示面板上贴合玻璃盖板时也会出现气泡、污渍等不良，这些不良严重影响了OLED显示面板的出货品质。如果采用人工的方式对显示面板不良进行检测，不但成本高效率低，并且由于多数细微的不良肉眼难以观测，还会造成漏检与过检。

技术实现思路

[0003]本专利技术要解决的技术问题是提供一种检测显示面板不良的方法及装置，能够准确识别出显示面板不良。
[0004]为解决上述技术问题，本专利技术的实施例提供技术方案如下：
[0005]一方面，提供一种检测显示面板不良的方法，包括：
[0006]采集待检测显示面板的面板图像，所述显示面板的多个第一像素分别对应所述面板图像中的多个第二像素；
[0007]将所述面板图像转换为二值图像；
[0008]对所述二值图像中的每个亮点区域进行膨胀，使得相邻的所述亮点区域连本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检测显示面板不良的方法，其特征在于，包括：采集待检测显示面板的面板图像，所述显示面板的多个第一像素分别对应所述面板图像中的多个第二像素；将所述面板图像转换为二值图像；对所述二值图像中的每个亮点区域进行膨胀，使得相邻的所述亮点区域连通，在所述二值图像上形成至少一个封闭的连通域；根据所述至少一个封闭的连通域确定所述二值图像中的感兴趣区域掩膜图像；根据所述感兴趣区域掩膜图像和所述面板图像确定感兴趣区域；对所述感兴趣区域进行特征识别，确定所述显示面板的不良特征。2.根据权利要求1所述的检测显示面板不良的方法，其特征在于，所述将所述面板图像转换为二值图像包括：将所述面板图像转换为第一灰阶图像；对所述第一灰阶图像进行压缩处理，得到第二灰阶图像；将所述第二灰阶图像转换为所述二值图像。3.根据权利要求2所述的检测显示面板不良的方法，其特征在于，对所述第一灰阶图像进行压缩处理的行压缩倍率为2～6倍，对所述第一灰阶图像进行压缩处理的列压缩倍率为2～6倍。4.根据权利要求2所述的检测显示面板不良的方法，其特征在于，所述将所述第二灰阶图像转换为所述二值图像包括：计算所述第二灰阶图像的所有像素的灰阶平均值；将灰阶值大于等于所述灰阶平均值的像素设为白色，将灰阶值小于所述灰阶平均值的像素设为黑色，得到所述二值图像；或将灰阶值大于所述灰阶平均值的像素设为白色，将灰阶值小于等于所述灰阶平均值的像素设为黑色，得到所述二值图像。5.根据权利要求1所述的检测显示面板不良的方法，其特征在于，所述根据所述至少一个封闭的连通域确定所述二值图像中的感兴趣区域掩膜图像包括：通过计算每个所述连通域的周长确定最大的连通域，剪切出所述最大的连通域的图像；将所述最大的连通域的图像的设定边缘往内腐蚀设定值个第二像素，得到所述感兴趣区域掩膜图像。6.根据权利要求2-5中任一项所述的检测显示面板不良的方法，其特征在于，所述根据所述感兴趣区域掩膜图像和所述面板图像确定感兴趣区域包括：确定所述第二灰阶图像中与所述感兴趣区域掩膜图像对应的感兴趣过渡区域；将所述感兴趣过渡区域与所述感兴趣区域掩膜图像进行与操作，得到所述感兴趣区域。7.根据权利要求1所述的检测显示面板不良的方法，其特征在于，所述对所述感兴趣区域进行特征识别之前，所述方法还包括以下至少一项：对所述感兴趣区域进行伽马增强；对所述感兴趣区域进行滤波；对所述感兴趣区域进行不良边缘锐化；
对所述感兴趣区域进行去边缘处理。8.根据权利要求1所述的检测显示面板不良的方法，其特征在于，所述对所述感兴趣区域进行特征识别包括：...

【专利技术属性】
技术研发人员：唐浩，兰荣华，程久阳，周铄，黄忠，蒋国，王利，周丽佳，王志东，徐丽蓉，周全国，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：