对电子束敏感晶体的三维电子衍射数据采集方法及系统技术方案

技术编号:32194027 阅读:29 留言:0更新日期:2022-02-08 15:59
本发明专利技术实施例提供的对电子束敏感晶体的三维电子衍射数据采集方法及系统,首先按照在对电子束敏感晶体的三维电子衍射数据采集过程中获得的匹配采集干扰因素的环境干扰活动信息,提取具有时空域联系的多个环境干扰时空域分布,然后确定所述环境干扰时空域分布对应的时空域映射特征,假设所述时空域映射特征匹配预设状态条件,确定与所述具有时空域联系的多个环境干扰时空域分布对应的测试环境干扰事件,最后按照所述测试环境干扰事件以及所述三维电子衍射数据采集过程的环境干扰活动信息,对所述时空域映射特征进行干扰去噪。如此,可针对环境干扰活动进行智能决策分析,并由此进行干扰去噪处理,提高采集可靠性和稳定性。提高采集可靠性和稳定性。提高采集可靠性和稳定性。

【技术实现步骤摘要】
对电子束敏感晶体的三维电子衍射数据采集方法及系统


[0001]本专利技术涉及数据采集
,具体而言,涉及一种对电子束敏感晶体的三维电子衍射数据采集方法及系统。

技术介绍

[0002]如何针对环境干扰活动进行智能决策分析,并由此进行干扰去噪处理,是亟待解决的技术问题。

技术实现思路

[0003]按照上述问题,本专利技术实施例提供一种对电子束敏感晶体的三维电子衍射数据采集方法,包括:按照在对电子束敏感晶体的三维电子衍射数据采集过程中获得的匹配采集干扰因素的环境干扰活动信息,提取具有时空域联系的多个环境干扰时空域分布;按照所述具有时空域联系的多个环境干扰时空域分布,确定所述环境干扰时空域分布对应的时空域映射特征,所述时空域映射特征表征所述采集干扰因素与多个预设干扰原因之间的联系向量;假设所述时空域映射特征匹配预设状态条件,确定与所述具有时空域联系的多个环境干扰时空域分布对应的测试环境干扰事件; 按照所述测试环境干扰事件以及所述三维电子衍射数据采集过程的环境干扰活动信息,执行对应于所述测试环境干扰事件以及所述采集干扰因素的干扰去噪规则簇,并通过所述三维电子衍射数据采集过程对应的干扰去噪规则对所述时空域映射特征进行干扰去噪。
[0004]其中,所述按照所述具有时空域联系的多个环境干扰时空域分布,确定所述环境干扰时空域分布对应的时空域映射特征,包括:将所述环境干扰时空域分布输入至神经网络单元中,通过所述神经网络单元决策与所述环境干扰时空域分布对应的时空域映射特征。
[0005]其中,假设所述时空域映射特征匹配预设状态条件,确定与所述具有时空域联系的多个环境干扰时空域分布对应的测试环境干扰事件,包括:假设所述时空域映射特征匹配预设状态条件,确定所述时空域映射特征对应的时空域映射特征分量图谱;按照所述时空域映射特征分量图谱,从预设干扰事件特征库中匹配与所述时空域映射特征分量图谱对应的测试环境干扰事件。
[0006]其中,按照所述时空域映射特征分量图谱,从预设干扰事件特征库中匹配与所述时空域映射特征分量图谱对应的测试环境干扰事件,包括:按照所述时空域映射特征分量图谱,从所述预设干扰事件特征库中确定与所述时空域映射特征分量图谱对应的多个干扰事件特征分量;将所述多个干扰事件特征分量通过所述干扰追踪服务系统对所述时空域映射特
征进行确认;按照干扰追踪服务系统针对所述多个干扰事件特征分量的确认指示信息,确定目标测试环境干扰事件。
[0007]其中,所述方法还包括:按照所述干扰去噪规则簇,生成与所述干扰去噪规则簇对应的干扰去噪实例事件,并将所述干扰去噪实例事件与所述干扰去噪规则簇进行激活执行。
[0008]本专利技术还提供一种对电子束敏感晶体的三维电子衍射数据采集系统,包括:提取模块,用于按照在对电子束敏感晶体的三维电子衍射数据采集过程中获得的匹配采集干扰因素的环境干扰活动信息,提取具有时空域联系的多个环境干扰时空域分布;确定模块,用于按照所述具有时空域联系的多个环境干扰时空域分布,确定所述环境干扰时空域分布对应的时空域映射特征,所述时空域映射特征表征所述采集干扰因素与多个预设干扰原因之间的联系向量;干扰去噪模块,用于假设所述时空域映射特征匹配预设状态条件,确定与所述具有时空域联系的多个环境干扰时空域分布对应的测试环境干扰事件; 按照所述测试环境干扰事件以及所述三维电子衍射数据采集过程的环境干扰活动信息,执行对应于所述测试环境干扰事件以及所述采集干扰因素的干扰去噪规则簇,并通过所述三维电子衍射数据采集过程对应的干扰去噪规则对所述时空域映射特征进行干扰去噪。
[0009]其中,所述确定模块,具体用于:将所述环境干扰时空域分布输入至神经网络单元中,通过所述神经网络单元决策与所述环境干扰时空域分布对应的时空域映射特征。
[0010]其中,所述干扰去噪模块具体用于:假设所述时空域映射特征匹配预设状态条件,确定所述时空域映射特征对应的时空域映射特征分量图谱; 按照所述时空域映射特征分量图谱,从预设干扰事件特征库中匹配与所述时空域映射特征分量图谱对应的测试环境干扰事件。
[0011]其中,所述干扰去噪模块具体还用于:按照所述时空域映射特征分量图谱,从所述预设干扰事件特征库中确定与所述时空域映射特征分量图谱对应的多个干扰事件特征分量;将所述多个干扰事件特征分量通过所述干扰追踪服务系统对所述时空域映射特征进行确认;按照干扰追踪服务系统针对所述多个干扰事件特征分量的确认指示信息,确定目标测试环境干扰事件。
[0012]所述系统还包括:执行模块,用于按照所述干扰去噪规则簇,生成与所述干扰去噪规则簇对应的干扰去噪实例事件,并将所述干扰去噪实例事件与所述干扰去噪规则簇进行激活执行。
[0013]综上所述,本专利技术实施例提供的对电子束敏感晶体的三维电子衍射数据采集方法及系统内,首先按照在对电子束敏感晶体的三维电子衍射数据采集过程中获得的匹配采集干扰因素的环境干扰活动信息,提取具有时空域联系的多个环境干扰时空域分布,然后按照所述具有时空域联系的多个环境干扰时空域分布,确定所述环境干扰时空域分布对应的
时空域映射特征,所述时空域映射特征表征所述采集干扰因素与多个预设干扰原因之间的联系向量,接着假设所述时空域映射特征匹配预设状态条件,确定与所述具有时空域联系的多个环境干扰时空域分布对应的测试环境干扰事件,最后按照所述测试环境干扰事件以及所述三维电子衍射数据采集过程的环境干扰活动信息,执行对应于所述测试环境干扰事件以及所述采集干扰因素的干扰去噪规则簇,并通过所述三维电子衍射数据采集过程对应的干扰去噪规则对所述时空域映射特征进行干扰去噪。如此,通过针对采集干扰因素的智能决策分析,并由此进行干扰去噪处理,提高采集可靠性和稳定性。
[0014]为使本专利技术实施例的上述目的、特征和优点能更明显易懂,下面将结合实施例,并配合所附附图,作详细说明。
附图说明
[0015]为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,应当理解,以下附图仅是本专利技术的某些实施例,因此不应被看作是对范围的限定,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以按照这些附图获得其他相关的附图。
[0016]图1是本专利技术实施例所提供的对电子束敏感晶体的三维电子衍射数据采集方法的流程示意图;图2是本专利技术实施例所提供的对电子束敏感晶体的三维电子衍射数据采集系统的功能模块框图。
具体实施方式
[0017]为了使本
的学员更好地理解本专利技术方案,下面将结合本专利技术实施例中的附图,对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅是本专利技术一部分实施例,而不是全部的实施例。按照本专利技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本专利技术保护的范围。
[0018]图1是本专利技术实施例提供的对电子束敏感晶体的三维电子衍射数据采集方法的流程示意图,该异常行为干扰去噪方法可由用于提供三维电子衍射数据采集过程本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种对电子束敏感晶体的三维电子衍射数据采集方法,其特征在于,包括:按照在对电子束敏感晶体的三维电子衍射数据采集过程中获得的匹配采集干扰因素的环境干扰活动信息,提取具有时空域联系的多个环境干扰时空域分布;按照所述具有时空域联系的多个环境干扰时空域分布,确定所述环境干扰时空域分布对应的时空域映射特征,所述时空域映射特征表征所述采集干扰因素与多个预设干扰原因之间的联系向量;假设所述时空域映射特征匹配预设状态条件,确定与所述具有时空域联系的多个环境干扰时空域分布对应的测试环境干扰事件,按照所述测试环境干扰事件以及所述三维电子衍射数据采集过程的环境干扰活动信息,执行对应于所述测试环境干扰事件以及所述采集干扰因素的干扰去噪规则簇,并通过所述三维电子衍射数据采集过程对应的干扰去噪规则对所述时空域映射特征进行干扰去噪。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述按照所述具有时空域联系的多个环境干扰时空域分布,确定所述环境干扰时空域分布对应的时空域映射特征,包括:将所述环境干扰时空域分布输入至神经网络单元中,通过所述神经网络单元决策与所述环境干扰时空域分布对应的时空域映射特征。3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,假设所述时空域映射特征匹配预设状态条件,确定与所述具有时空域联系的多个环境干扰时空域分布对应的测试环境干扰事件,包括:假设所述时空域映射特征匹配预设状态条件,确定所述时空域映射特征对应的时空域映射特征分量图谱;按照所述时空域映射特征分量图谱,从预设干扰事件特征库中匹配与所述时空域映射特征分量图谱对应的测试环境干扰事件。4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,按照所述时空域映射特征分量图谱,从预设干扰事件特征库中匹配与所述时空域映射特征分量图谱对应的测试环境干扰事件,包括:按照所述时空域映射特征分量图谱,从所述预设干扰事件特征库中确定与所述时空域映射特征分量图谱对应的多个干扰事件特征分量;将所述多个干扰事件特征分量通过所述干扰追踪服务系统对所述时空域映射特征进行确认;按照干扰追踪服务系统针对所述多个干扰事件特征分量的确认指示信息,确定目标测试环境干扰事件。5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于, 所述方法还包括:按照所述干扰去噪规则簇,生成与所述干扰去噪规...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈柏桦刘磊峰
申请(专利权)人:苏州青云瑞晶生物科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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