成像组件的测试装置及测试方法制造方法及图纸

本公开涉及电子设备技术领域，具体是关于一种成像组件的测试装置及测试方法，所述成像组件的测试装置包括：光学组件和测试夹具，光学组件包括光源件、分束器、色散透镜和光谱传感器，所述光源件用于发射探测光，所述分束器设于所述光源件的出光侧，所述色散透镜设于所述分束器远离所述光源的一侧，所述分束器被配置为能够透过靠近所述光源件一侧的光线，并且反射靠近所述色散透镜一侧的光线；测试夹具设于所述色散透镜远离所述分束器的一侧，所述成像组件具有反射面，所述反射面能够将聚焦于所述反射面的探测光反射形成第一反射光，所述第一反射光照射至所述分束器，所述分束器反射所述第一反射光形成第二反射光。述第一反射光形成第二反射光。述第一反射光形成第二反射光。

【技术实现步骤摘要】
成像组件的测试装置及测试方法


[0001]本公开涉及测试
，具体而言，涉及一种成像组件的测试装置及测试方法。

技术介绍

[0002]随着技术的发展和进步，人们对电子设备的成像功能要求越来越高。为了适应这一要求电子设备的成像模组中通常会设置马达，通过马达驱动摄像头实现改善成像质量的目的，比如，可以在成像模组中设置自动对焦马达，通过自动对焦马达推动摄像头进行对焦。由于成像时对于对焦精度要求比较高，因此需要一种对成像组件的马达进行测试的装置。
[0003]需要说明的是，在上述
技术介绍
部分公开的信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

技术实现思路

[0004]本公开的目的在于提供一种成像组件的测试装置及测试方法，进而实现对成像模组中的马达的测试。
[0005]根据本公开的一个方面，提供一种成像组件的测试装置，所述成像组件的测试装置包括：
[0006]光学组件，包括光源件、分束器、色散透镜和光谱传感器，所述光源件用于发射探测光，所述分束器设于所述光源件本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种成像组件的测试装置，其特征在于，所述成像组件的测试装置包括：光学组件，包括光源件、分束器、色散透镜和光谱传感器，所述光源件用于发射探测光，所述分束器设于所述光源件的出光侧，所述色散透镜设于所述分束器远离所述光源的一侧，所述分束器被配置为能够透过靠近所述光源件一侧的光线，并且反射靠近所述色散透镜一侧的光线，所述色散透镜用于使所述探测光中不同波长的光聚焦于色散透镜远离所述分束器一侧的不同位置；测试夹具，设于所述色散透镜远离所述分束器的一侧，所述测试夹具用于夹持所述成像组件，所述成像组件具有反射面，所述反射面能够将聚焦于所述反射面的探测光反射形成第一反射光，所述第一反射光照射至所述分束器，所述分束器反射所述第一反射光形成第二反射光，所述光谱传感器用于接收第二反射光，所述光谱传感器用于检测所述第二反射光的光谱。2.如权利要求1所述的成像组件的测试装置，其特征在于，所述光源件为线光源件，所述线光源件发射的探测光为线型探测光。3.如权利要求2所述的成像组件的测试装置，其特征在于，所述光源件包括：点光源；第一准直透镜，所述第一准直透镜设于所述点光源的出光侧，所述第一准直透镜用于将所述点光源出射的光线转换为平行光线；第一汇聚透镜，所述第一汇聚透镜设于所述第一准直透镜远离所述点光源的一侧，所述第一汇聚透镜用于汇聚所述平行光线，以形成线型光；第一线型光阑，所述第一线型光阑设于所述第一汇聚透镜远离所述第一准直透镜的一侧，所述第一线型光阑用于滤除所述线型光中的杂光，并输出线型探测光。4.如权利要求2所述成像组件的测试装置，其特征在于，所述光源件包括：线光源；第二准直透镜，所述第二准直透镜设于所述线光源的出光侧，用于对线光源的光线进行准直，以输出平行光线；第二汇聚透镜，所述第二汇聚透镜设于所述第二准直透镜远离所述线光源的一侧，所述第二汇聚透镜用于汇聚所述平行光线，以形成线型光；第二线型光阑，所述第二线型光阑设于所述第二汇聚透镜远离所述第二准直透镜的一侧，所述第二线型光阑用于滤除所述线型光中的杂光，并输出线型探测光。5.如权利要求1所述的成像组件的测试装置，其特征在于，所述探测光的波长为400纳米到700纳米。6.如权利要求1所述的成像组件的测试装置，其特征在于，所述成像组件的测试装置还包括：支架；旋转臂，所述旋转臂连接于所述支架，所述旋转臂能够相对于所述支架旋转，并且所述光学组件和所述测试夹具设于所述旋转臂。7.如权利要求6所述的成像组件的测试装置，其特征在于，所述光学组件和所述旋转臂滑动连接。8.如权利要求7所述的成...

【专利技术属性】
技术研发人员：邵明天，
申请(专利权)人：OPPO广东移动通信有限公司，
类型：发明
国别省市：