一种DDR4内存信号测试方法、装置及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种DDR4内存信号测试方法、装置及存储介质，方法包括以下步骤：S1，将服务器、DDR4内存和示波器置于正常工作状态，然后利用示波器采集DDR4内存中的相关信号并确定标志信号；S2，根据标志信号对示波器进行相关参数配置，利用示波器的触发功能将DDR4内存的读写信号进行信号分离；S3，利用示波器对分离后的读写信号进行测试。本发明专利技术的DDR4内存信号测试方法、装置及存储介质，实现了DDR4内存相关信号在正常工作状态下的信号测试，充分反映了相关信号在正常干工作状态下的波形，提高了DDR4内存相关信号的测试效率。DDR4内存相关信号的测试效率。DDR4内存相关信号的测试效率。

【技术实现步骤摘要】
一种DDR4内存信号测试方法、装置及存储介质


[0001]本专利技术涉及计算机测试
，尤其是指一种DDR4内存信号测试方法、装置及存储介质。

技术介绍

[0002]为保证服务器的平稳运行以及服务器DDR4内存的完好使用，测量服务器内存的信号完整性是否符合标准已经成了服务器研发过程中必不可少的重要流程。目前服务器主流都是适用DDR4内存，为了保证数据的安全性和可靠性，DDR4链路的测试对服务器存储性能评估有着至关重要的影响。
[0003]目前服务器DDR4信号的测试无法进行正常工作状态的读写分离，只能利用主控芯片进行读写命令来进行相应读或写的测试，效率较低且不能完全反映正常工作状态下的波形，在信号完整性测试上有比较大的风险。

技术实现思路

[0004]为了解决上述技术问题，本专利技术提供了一种DDR4内存信号测试方法、装置及存储介质，可以反映正常工作状态下的波形，可以提高测试效率。
[0005]为实现上述目的，本申请提出第一技术方案：
[0006]一种DDR4内存信号测试方法，所述方法包括以下步骤：<本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种DDR4内存信号测试方法，其特征在于：包括以下步骤：S1，将服务器、DDR4内存和示波器置于正常工作状态，然后利用示波器采集DDR4内存中的相关信号并确定标志信号；S2，根据标志信号对示波器进行相关参数配置，利用示波器的触发功能将DDR4内存的信号进行读写信号分离；S3，利用示波器对分离后的读写信号进行测试。2.根据权利要求1所述的DDR4内存信号测试方法，其特征在于：所述将服务器、DDR4内存和示波器置于正常工作状态，然后利用示波器采集DDR4内存中的相关信号并确定标志信号，具体包括：将示波器与DDR4内存的相关信号引脚进行信号连接；将服务器、DDR4内存和示波器置于正常工作状态；利用示波器对DDR4内存的相关信号进行采集并根据相关信号的波形确定标志信号。3.根据权利要求1所述的DDR4内存信号测试方法，其特征在于：所述相关信号包括DQS信号、CLK信号和DQ信号，所述标志信号为DQS信号。4.根据权利要求1所述的DDR4内存信号测试方法，其特征在于：所述根据标志信号对示波器进行相关参数配置，具体包括：利用示波器分别采集标志信号在数据读取和数据写入过程中的电平幅值；对标志信号在数据读取和数据写入过程中的电平幅值进行比较，确定标志信号的电平阈值；在示波器中配置标志信号的电平阈值。5....

【专利技术属性】
技术研发人员：周新浩，
申请(专利权)人：苏州浪潮智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：