一种机械硬盘测试方法、系统、设备以及介质技术方案

本发明专利技术公开了一种机械硬盘测试方法，包括以下步骤：获取机械硬盘的逻辑磁道信息；根据机械硬盘的逻辑磁道信息确定与主轴距离最近的近端磁道、与主轴距离最远的远端磁道以及中间磁道；将机械硬盘的磁头在近端磁道、远端磁道以及中间磁道之间按照预设轨迹进行摆动。本发明专利技术还公开了一种系统、计算机设备以及可读存储介质。本发明专利技术提出的方案利用机械硬盘的磁头臂的摆动实现扰动硬盘内部气流并激起机械硬盘的盘片上颗粒，利用硬盘内部气流流动方向带动颗粒流动，使得颗粒能够被吸附在硬盘吸尘盒上。通过测试后就大大减少了由于硬盘的盘面上的颗粒粘附在硬盘磁头上导致硬盘的读写性能、读写准确性的降低，规避了颗粒对硬盘的盘面的损伤。损伤。损伤。

【技术实现步骤摘要】
一种机械硬盘测试方法、系统、设备以及介质


[0001]本专利技术涉及硬盘测试领域，具体涉及一种机械硬盘测试方法、系统、设备以及存储介质。

技术介绍

[0002]硬盘压力测试主要是对硬盘进行顺序读、顺序写、随机读和随机写以及混合读写的测试，测试硬盘在不同压力之下的稳定性以及性能的可靠性，稳定性主要表现在给硬盘进行满负荷读写测试时硬盘是否出现数据丢失、读写错误或者硬盘丢失。性能可靠性主要表现在硬盘在长时间的满负荷读写测试中硬盘的性能表现是否一致且达到设计标准。随着互联网的持续发展，以及人们生活信息化的需求，当前服务器中硬盘的重要性日渐突出。所以硬盘的稳定性越来越受到个服务器厂商和客户的重视。而且大容量硬盘的需求也越来越多。由于技术和制程工艺的限制大容量硬盘现在主要还是机械硬盘，而机械硬盘在生产制造过程中虽然有严格的无尘环境以及工艺手段防止在硬盘碟片上留下颗粒物质，但是在实际生产过程中还是无法完全避免有些细小颗粒的粘附。而硬盘碟面上的颗粒粘附在硬盘磁头上导致硬盘的读写性能、读写准确性的降低，现有硬盘的压力测试的常规测试已经无法完全覆盖硬盘的测试需求。

技术实现思路

[0003]有鉴于此，为了克服上述问题的至少一个方面，本专利技术实施例提出一种机械硬盘测试方法，包括以下步骤：
[0004]获取机械硬盘的逻辑磁道信息；
[0005]根据所述机械硬盘的逻辑磁道信息确定与主轴距离最近的近端磁道、与主轴距离最远的远端磁道以及中间磁道；
[0006]将所述机械硬盘的磁头在所述近端磁道、所述远端磁道以及中间磁道之间按照预设轨迹进行摆动。
[0007]在一些实施例中，将所述机械硬盘的磁头在所述近端磁道、所述远端磁道以及中间磁道之间按照预设轨迹进行摆动，进一步包括：
[0008]将所述磁头在所述近端磁道和所述远端磁道之间进行循环摆动，且每一次摆动的步频依次减小，直到所述磁头摆动到所述中间磁道。
[0009]在一些实施例中，将所述机械硬盘的磁头在所述近端磁道、所述远端磁道以及中间磁道之间按照预设轨迹进行摆动，进一步包括：
[0010]将所述磁头从所述中间磁道开始依次向所述远端磁道和所述近端磁道摆动，且每一次摆动的步频依次增大，直到所述磁头摆动到所述近端磁道或所述远端磁道。
[0011]在一些实施例中，还包括：
[0012]对所述机械硬盘的健康状态以及系统日志进行检查。
[0013]基于同一专利技术构思，根据本专利技术的另一个方面，本专利技术的实施例还提供了一种机
械硬盘测试系统，包括：
[0014]获取模块，配置为获取机械硬盘的逻辑磁道信息；
[0015]确定模块，配置为根据所述机械硬盘的逻辑磁道信息确定与主轴距离最近的近端磁道、与主轴距离最远的远端磁道以及中间磁道；
[0016]控制模块，配置为将所述机械硬盘的磁头在所述近端磁道、所述远端磁道以及中间磁道之间按照预设轨迹进行摆动。
[0017]在一些实施例中，控制模块还配置为：
[0018]将所述磁头在所述近端磁道和所述远端磁道之间进行循环摆动，且每一次摆动的步频依次减小，直到所述磁头摆动到所述中间磁道。
[0019]在一些实施例中，控制模块还配置为：
[0020]将所述磁头从所述中间磁道开始依次向所述远端磁道和所述近端磁道摆动，且每一次摆动的步频依次增大，直到所述磁头摆动到所述近端磁道或所述远端磁道。
[0021]在一些实施例中，还包括检查模块，配置为：
[0022]对所述机械硬盘的健康状态以及系统日志进行检查。
[0023]基于同一专利技术构思，根据本专利技术的另一个方面，本专利技术的实施例还提供了一种计算机设备，包括：
[0024]至少一个处理器；以及
[0025]存储器，所述存储器存储有可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时执行以下步骤：
[0026]获取机械硬盘的逻辑磁道信息；
[0027]根据所述机械硬盘的逻辑磁道信息确定与主轴距离最近的近端磁道、与主轴距离最远的远端磁道以及中间磁道；
[0028]将所述机械硬盘的磁头在所述近端磁道、所述远端磁道以及中间磁道之间按照预设轨迹进行摆动。
[0029]在一些实施例中，将所述机械硬盘的磁头在所述近端磁道、所述远端磁道以及中间磁道之间按照预设轨迹进行摆动，进一步包括：
[0030]将所述磁头在所述近端磁道和所述远端磁道之间进行循环摆动，且每一次摆动的步频依次减小，直到所述磁头摆动到所述中间磁道。
[0031]在一些实施例中，将所述机械硬盘的磁头在所述近端磁道、所述远端磁道以及中间磁道之间按照预设轨迹进行摆动，进一步包括：
[0032]将所述磁头从所述中间磁道开始依次向所述远端磁道和所述近端磁道摆动，且每一次摆动的步频依次增大，直到所述磁头摆动到所述近端磁道或所述远端磁道。
[0033]在一些实施例中，还包括：
[0034]对所述机械硬盘的健康状态以及系统日志进行检查。
[0035]基于同一专利技术构思，根据本专利技术的另一个方面，本专利技术的实施例还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时执行以下步骤：
[0036]获取机械硬盘的逻辑磁道信息；
[0037]根据所述机械硬盘的逻辑磁道信息确定与主轴距离最近的近端磁道、与主轴距离
最远的远端磁道以及中间磁道；
[0038]将所述机械硬盘的磁头在所述近端磁道、所述远端磁道以及中间磁道之间按照预设轨迹进行摆动。
[0039]在一些实施例中，将所述机械硬盘的磁头在所述近端磁道、所述远端磁道以及中间磁道之间按照预设轨迹进行摆动，进一步包括：
[0040]将所述磁头在所述近端磁道和所述远端磁道之间进行循环摆动，且每一次摆动的步频依次减小，直到所述磁头摆动到所述中间磁道。
[0041]在一些实施例中，将所述机械硬盘的磁头在所述近端磁道、所述远端磁道以及中间磁道之间按照预设轨迹进行摆动，进一步包括：
[0042]将所述磁头从所述中间磁道开始依次向所述远端磁道和所述近端磁道摆动，且每一次摆动的步频依次增大，直到所述磁头摆动到所述近端磁道或所述远端磁道。
[0043]在一些实施例中，还包括：
[0044]对所述机械硬盘的健康状态以及系统日志进行检查。
[0045]本专利技术具有以下有益技术效果之一：本专利技术提出的方案利用机械硬盘的磁头臂的摆动实现扰动硬盘内部气流并激起机械硬盘的盘片上颗粒，利用硬盘内部气流流动方向带动颗粒流动，使得颗粒能够被吸附在硬盘吸尘盒上。通过测试后就大大减少了由于硬盘的盘面上的颗粒粘附在硬盘磁头上导致硬盘的读写性能、读写准确性的降低，规避了颗粒对硬盘的盘面的损伤，也提高了硬盘的使用寿命。
附图说明
[0046]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种机械硬盘测试方法，其特征在于，包括以下步骤：获取机械硬盘的逻辑磁道信息；根据所述机械硬盘的逻辑磁道信息确定与主轴距离最近的近端磁道、与主轴距离最远的远端磁道以及中间磁道；将所述机械硬盘的磁头在所述近端磁道、所述远端磁道以及中间磁道之间按照预设轨迹进行摆动。2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，将所述机械硬盘的磁头在所述近端磁道、所述远端磁道以及中间磁道之间按照预设轨迹进行摆动，进一步包括：将所述磁头在所述近端磁道和所述远端磁道之间进行循环摆动，且每一次摆动的步频依次减小，直到所述磁头摆动到所述中间磁道。3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，将所述机械硬盘的磁头在所述近端磁道、所述远端磁道以及中间磁道之间按照预设轨迹进行摆动，进一步包括：将所述磁头从所述中间磁道开始依次向所述远端磁道和所述近端磁道摆动，且每一次摆动的步频依次增大，直到所述磁头摆动到所述近端磁道或所述远端磁道。4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：对所述机械硬盘的健康状态以及系统日志进行检查。5.一种机械硬盘测试系统，其特征在于，包括：获取模块，配置为获取机械硬盘的逻辑磁道信息；确定模块，配置为根据所述机械硬盘的逻辑磁道信息确定与主轴距离最近的...

【专利技术属性】
技术研发人员：路勤良，
申请(专利权)人：苏州浪潮智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：