测试技术系统并确定待测系统的测试的测试覆盖率的方法技术方案

本发明专利技术涉及一种用于确定待测系统的测试的充分性的计算机实现的方法（100），所述方法包括如下步骤：提供（110）测试集合的、尤其是成功实施的测试集合的测试参数（q）和测试结果；针对相应测试确定（120）参数集（p），其中参数集包括相应测试对其来说是指示性的测试参数（p）；基于相应测试的参数集（p），确定（130）相应测试的所述相应测试对其来说是指示性的测试空间（S）、尤其是n维测试空间；确定（140）测试的测试空间（S）的并集是否覆盖可预先给定的总测试空间（T）、尤其是n维总测试空间。尤其是n维总测试空间。尤其是n维总测试空间。

【技术实现步骤摘要】
测试技术系统并确定待测系统的测试的测试覆盖率的方法


[0001]本公开涉及一种用于测试技术系统的方法以及一种用于确定待测系统的测试的充分性的计算机实现的方法、设备和计算机程序。

技术介绍

[0002]待测技术系统、常常也称为被测系统（System under test）SUT，例如是嵌入式软件系统，该嵌入式软件系统尤其包括软件和/或硬件组件。
[0003]将对测试的实际做出的结论相对于理论上可能做出的结论或所希望的可做出的结论的集合的比例称为测试覆盖率。测试覆盖率作为用于质量保证并且用于提高质量的度量尤其是在硬件和/或软件测试方面发挥着重要作用。
[0004]在实践中，测试覆盖率受各种标准影响。测试覆盖率可以通过增加测量、样本和测试用例的数目来改善。然而，在实践中，测试覆盖率受到与每个测试相关联的成本的限制。
[0005]本公开的目标在于：提供一种可用来确定技术系统的测试的充分性的方法、设备和计算机程序。

技术实现思路

[0006]按照本公开，这通过按照实施方式的用于确定待测系统的测试的充分性的计算机实现本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于确定待测系统的测试的充分性的计算机实现的方法（100），所述方法包括如下步骤：提供（110）测试集合的、尤其是成功实施的测试集合的测试参数（q）和测试结果；针对相应测试确定（120）参数集（p），其中所述参数集包括所述相应测试对其来说是指示性的测试参数（p）；基于相应测试的参数集（p），确定（130）所述相应测试的所述相应测试对其来说是指示性的测试空间（S）、尤其是n维测试空间；确定（140）所述测试的测试空间（S）的并集是否覆盖可预先给定的总测试空间（T）、尤其是n维总测试空间。2.根据权利要求1所述的计算机实现的方法（100），其中对测试的相应的参数集（p）的确定包括：针对所述相应测试提供性能函数（f），其中所述性能函数（f）给相应的测试参数分配性能指标（r）。3.根据上述权利要求中至少任一项所述的计算机实现的方法（100），其中对相应的参数集（p）的确定还包括：提供所述性能函数（f）的、尤其是所述性能函数（f）的偏导数的极限（L、U）、尤其是上限和下限。4.根据上述权利要求中至少任一项所述的计算机实现的方法（100），其中所述方法（100）还包括：尤其是基于关于所述待测系统和/或其它技术系统的知识和/或测试数据和/或根据仿真数据，确定所述极限（L、U）。5.根据上述权利要求中至少任一项所述的计算机实现的方法（100），其中相应的测试参数（p、q）和/或相应的性能指标（r）和/或相应的极限被（L、U）表示成向量。6.根据上述权利要求中任一项所述的计算机实现的方法（100），其中对所述测试的测试空间（S）的并集是否覆盖可预先给定的总测试空间（T）、尤其是n维总测试空间的确定还包括：将所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：A，
申请(专利权)人：罗伯特，
类型：发明
国别省市：