测量激光器相对强度噪声的装置及测量方法制造方法及图纸

本申请公开了一种测量激光器相对强度噪声的装置及测量方法，其中，测量激光器相对强度噪声的装置包括载物台，载物台的侧面设置有第一光学支架和第二光学支架；所述第一光学支架上设置有探针，探针的接触端位于所述载物台之上，所述探针连接有电流源；所述第二光学支架上连接有耦合光纤，所述耦合光纤的一端正对所述载物台，另一端连接光电探测器，所述光电探测器的电信号输出端连接频谱仪。上述方案，可以将未经切割与封装的激光器阵列固定在载物台，电流源通过探针来对目标激光器提供驱动电流，光电探测器根据耦合光纤耦合进来的激光器所发出的激光，产生光电流，通过该光电流进行相对强度噪声计算，以获得对应激光器的相对强度噪声。强度噪声。强度噪声。

【技术实现步骤摘要】
测量激光器相对强度噪声的装置及测量方法


[0001]本专利技术一般涉及激光器噪声测量
，具体涉及一种测量激光器相对强度噪声的装置及测量方法。

技术介绍

[0002]半导体激光器，尤其是垂直腔表面发射激光器(Vertical
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Cavity Surface Emitting Laser；VCSEL)，在目前激光通信，数据中心光网络，高性能计算，光传感技术比如激光雷达等诸多领域有着重要的地位。而器件的特性对于其所构成的系统有着直接的影响，因此，在设计系统之前，准确地量测器件的特性变得非常重要。半导体激光二极管是通过受激辐射发光，但在此过程中，激光器增益介质的自发辐射，谐振腔共振频率，环境的温度与震动变化所产生的微扰，均会对激光器有一定的影响，使得半导体激光器输出的光强与相位等产生微小的变化，这种对光强描述的微扰变化就是激光器的相对强度噪声(Relative Intensity Noise；RIN)。相对强度噪声能够通过一定的计算得到激光器的频率响应特性，而激光器的频响特性与其所构建成的通信系统有着非常紧密的联系。因此，如何便本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测量激光器相对强度噪声的装置，其特征在于，包括：载物台，所述载物台的侧面设置有第一光学支架和第二光学支架；所述第一光学支架上设置有探针，所述探针的接触端位于所述载物台之上，所述探针连接有电流源；所述第二光学支架上连接有耦合光纤，所述耦合光纤的一端正对所述载物台，另一端连接光电探测器，所述光电探测器的电信号输出端连接频谱仪。2.根据权利要求1所述的测量激光器相对强度噪声的装置，其特征在于，所述耦合光纤的另一端与所述光电探测器之间连接有隔离器。3.根据权利要求1所述的测量激光器相对强度噪声的装置，其特征在于，所述光电探测器的电信号输出端与所述频谱仪之间连接有信号放大器。4.根据权利要求1
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3任一项所述的测量激光器相对强度噪声的装置，其特征在于，所述探针为GS探针或GSG探针。5.根据权利要求1
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3任一项所述的测量激光器相对强度噪声的装置，其特征在于，所述耦合光纤正对所述载物台的端部设置有光汇聚光学元件。6.根据权利要求5所述的测量激光器相对强度噪声的装置，其特征在于，所述光汇聚光学元件包括凸透镜或汇聚光栅。7.一种采用权利要求1
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6任一项所述测量激光器相对强度噪声的装置的相对强度噪声测量方法，其特征在于，包括以下步骤：所述电流源通过所述探针向设置在所述载物台上的激光器提供预定电流，以使所述激光器发射激光；所述激光经...

【专利技术属性】
技术研发人员：胡华文，沈志强，
申请(专利权)人：深圳博升光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：