温度冲击试验箱及其夹具制造技术

本实用新型专利技术提供了一种用于测试传感器的温度冲击试验箱，包括第一腔室、第二腔室和提篮，该提篮设置有支撑架和保温箱，其中，所述支撑架支撑所述多个传感器的本体并且允许各个本体均暴露于各个腔室中，所述保温箱具有用于容纳所述多个传感器的探头的内腔，该内腔在检测过程中具有恒定的温度。本实用新型专利技术还提供一种用于温度冲击试验箱的夹具。本实用新型专利技术保证每个样件都能充分得到验证，并且能够在提供阶梯温度的同时保护探头不会受到强烈的温度冲击而炸裂。击而炸裂。击而炸裂。

【技术实现步骤摘要】
温度冲击试验箱及其夹具


[0001]本技术涉及检测领域，具体涉及用于温度冲击试验的试验箱及其夹具装置。

技术介绍

[0002]传感器，如氮氧化物传感器等，具有包括陶瓷敏感单元的探头、包括容纳于塑料壳体内的众多电子器件的本体和将探头与本体内的电子器件电连接的导线。
[0003]由于氮氧化物传感器等需要在急剧变化的温度环境下工作，并且传感器的工作生命周期内会有很多慢速的温度变化，所以需要对传感器进行温度冲击测试试验。温度冲击试验箱通常被设计为包括密封的上腔室和下腔室，上腔室具有比如超过100℃的高温，下腔室具有比如零下40℃的低温。试验箱还设有提篮，该提篮能够在所述高温的上腔室和低温的下腔室之间移动。传感器布置于提篮中并随着提篮快速地在上腔室与下腔室之间运动。之后，将传感器从提篮中取出，检测传感器是否存在物理结果和性能作用等方面的缺陷，以判断传感器是否能够经受预定的温度冲击。
[0004]例如，CN210199002U公开了一种包括高温上腔室和低温下腔室的高低温冲击试验箱，其中在高温上腔室与低温下腔室之间的连接颈内设有提篮，该提篮借本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于测试传感器的温度冲击试验箱，包括：第一腔室(10)，其具有第一温度；第二腔室(20)，其具有低于第一温度的第二温度；和提篮(30)，其携带多个传感器至少在第一腔室(10)和第二腔室(20)之间移动；其特征在于，所述提篮(30)设置有：支撑架(40)，其支撑所述多个传感器的本体并且允许各个本体均暴露于所述第一腔室和第二腔室中；和保温箱(50)，其具有用于容纳所述多个传感器的探头的内腔，该内腔在检测过程中具有恒定的温度。2.根据权利要求1所述的温度冲击试验箱，其特征在于，所述提篮(30)还包括收纳结构，其包括设置于所述支撑架和保温箱上的多根横杆(60)，所述多个传感器的线束固定至所述横杆以防在实验过程中发生移位及跌落。3.根据权利要求1所述的温度冲击试验箱，其特征在于，所述支撑架(40)包括多个网状支架(41)，该多个网状支架可拆卸地固定安装成层架结构。4.根据权利要求1所述的温度冲击试验箱，其特征在于，所述保温箱(50)的至少一个侧壁设置有与其内腔连通的多个通孔(52)，每个通孔被设置为以密封的方式固定一个探头。5.根据权利要求4所述的温度冲击试验箱，其特征在于，所述保温箱(50)的内腔连通离心风机(70)以获得保温气流。6.根据权利要求5所述的温度冲击试...

【专利技术属性】
技术研发人员：张小雪，张明宇，
申请(专利权)人：纬湃汽车电子长春有限公司，
类型：新型
国别省市：