一种电子秤称量测试设备制造技术

本发明专利技术公开了一种电子秤称量测试设备，包括机架、称量测试机构、测试转运机构和上料机构；称量测试机构、测试转运机构和上料机构安装在机架上，机架上对应称量测试机构的位置设置有用于放置电子秤的测试位；上料机构用于运输待标定的电子秤，测试转运机构用于将上料机构上的电子秤运输至测试位，称量测试机构用于测试测试位处电子秤的称量是否准确。本发明专利技术的电子秤称量测试设备，测试转运机构将上料机构上的待测试的电子秤转运至测试位，并通过称量测试机构测试位处电子秤的称量是否准确。称量准确，当前电子秤则为合格产品，不准确则进行返工校正等，电子秤的称量测试操作方便，效率高。高。高。

【技术实现步骤摘要】
一种电子秤称量测试设备


[0001]本专利技术涉及电子秤生产加工
，尤其涉及电子秤称量测试设备。

技术介绍

[0002]电子秤是人们日常称量重量最经常使用的设备。电子秤采用了现代传感器技术，可以满足并解决现实生活的称量要求，同时有效地消除人为误差，使之更符合法制计量管理和工业生产过程控制的应用要求。
[0003]电子秤组装加工完成后，需要对电子秤进行称量测试，以检验电子秤称量是否准确。目前电子秤的称量测试操作麻烦，效率不高。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的是提供一种电子秤称量测试设备，电子秤的称量测试操作方便，效率高。
[0005]本专利技术公开了一种电子秤称量测试设备，包括机架、称量测试机构、测试转运机构和上料机构；称量测试机构、测试转运机构和上料机构安装在机架上，机架上对应称量测试机构的位置设置有用于放置电子秤的测试位；上料机构用于运输待标定的电子秤，测试转运机构用于将上料机构上的电子秤运输至测试位，称量测试机构用于测试测试位处电子秤的称量是否准确。
[0006]可选地，称量测试机构本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电子秤称量测试设备，其特征在于，包括机架、称量测试机构、测试转运机构和上料机构；所述称量测试机构、测试转运机构和上料机构安装在所述机架上，所述机架上对应称量测试机构的位置设置有用于放置电子秤的测试位；所述上料机构用于运输待标定的电子秤，所述测试转运机构用于将所述上料机构上的电子秤运输至所述测试位，所述称量测试机构用于测试所述测试位处电子秤的称量是否准确。2.如权利要求1所述的电子秤称量测试设备，其特征在于，所述称量测试机构包括第一驱动件、第一安装架和质量标准件；所述第一驱动件安装在所述机架上，所述第一安装架与所述第一驱动件连接，所述质量标准件安装在所述第一安装架中；所述第一驱动件驱动所述第一安装架移动，将所述质量标准件放置于所述测试位处电子秤上，以测试电子秤的称量是否准确。3.如权利要求2所述的电子秤称量测试设备，其特征在于，所述第一安装架上开设有活动孔，所述质量标准件对应所述活动孔位置设置有卡块；所述卡块卡在所述活动孔中的部分为卡接部，所述活动孔在Z轴方向上的开孔长度大于所述卡接部在Z轴方向上的长度，以使所述质量标准件放置于所述测试位处电子秤上时，所述活动孔能够相对于所述卡块向下移动。4.如权利要求3所述的电子秤称量测试设备，其特征在于，所述活动孔包括相互连通的上孔和下孔，所述上孔位于所述下孔上方；除所述上孔和所述下孔相接处外，所述上孔在X轴方向上的长度大于所述下孔在X轴方向上的长度。5.如权利要求4所述的电子秤称量测试设备，其特征在于，所述上孔呈矩形状，所述下孔呈梯形状；所述下孔的下底与所述上孔相接，上底在X轴方向上的长度与所述卡接部在X轴方向上的长度相同。6.如权利要求1至5...

【专利技术属性】
技术研发人员：于化云，颜金华，
申请(专利权)人：深圳市乐福衡器有限公司，
类型：发明
国别省市：