【技术实现步骤摘要】
温度控制方法、装置、设备及存储介质
[0001]本专利技术涉及电子设备控制
,尤其涉及一种温度控制方法、装置、设备及存储介质。
技术介绍
[0002]随着电子设备功能的多样化发展,电子设备的电源能耗也越来越大,电子设备能耗的增加会导致电子设备内部元件发热严重,导致内部元件因温度过高而损坏。因此需要对电子设备的内部温度进行实时监测和控制,避免电子设备因能耗增加导致发热严重,进而导致数据丢失和设备损坏。目前市面上的电子设备只能对瞬时温度进行反馈,当电子设备内部元件温度变化过快时无法及时采取预警和降温措施,电子设备的保护措施滞后导致内部元器件损坏和数据丢失。
[0003]上述内容仅用于辅助理解本专利技术的技术方案,并不代表承认上述内容是现有技术。
技术实现思路
[0004]本专利技术的主要目的在于提供一种温度控制方法、装置、设备及存储介质,旨在解决现有技术中电子器件的温度预警和温度控制措施滞后,导致电子器件损坏和数据丢失的技术问题。
[0005]为实现上述目的,本专利技术提供了一种温度控制方法 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种温度控制方法,其特征在于,所述温度控制方法包括:获取目标电子器件的当前工作温度,并判断所述当前工作温度是否超过预警温度;在所述当前工作温度未超过预警温度时,获取所述目标电子器件的温升参数;在所述温升参数满足预警条件时,获取所述目标电子器件的当前运行状态;根据所述当前运行状态确定对应的散热策略,并根据所述散热策略对所述目标电子器件进行散热。2.如权利要求1所述的温度控制方法,其特征在于,所述在所述当前工作温度未超过预警温度时,获取所述目标电子器件的温升参数之后,所述方法还包括:根据所述温升参数确定所述目标电子器件在预设采样周期内的温升幅值,并判断所述温升幅值是否超过预设幅值阈值;在所述温升幅值超过预设幅值阈值时,判定所述温升参数满足预警条件。3.如权利要求2所述的温度控制方法,其特征在于,所述根据所述温升参数确定所述目标电子器件在预设采样周期内的温升幅值,并判断所述温升幅值是否超过预设幅值阈值之后,所述方法还包括:在所述温升幅值未超过预设幅值阈值时,根据所述温升参数确定所述目标电子器件在所述预设采样周期内的当前温升加速度;判断所述当前温升加速度是否超过预设加速度阈值;在所述当前温升加速度超过预设加速度阈值时,判定所述温升参数满足预警条件。4.如权利要求3所述的温度控制方法,其特征在于,所述判断所述当前温升加速度是否超过预设加速度阈值之后,所述方法还包括:在所述当前温升加速度未超过预设加速度阈值时,获取上一采样周期的温升加速度,并判断所述当前温升加速度是否超过所述上一采样周期的温升加速度;在所述当前温升加速度超过所述上一采样周期的温升加速度时,检测所述目标电子器件在所述预设采样周期内是否存在工况模式切换;若未存在工况模式切换,则判定满足预警条件。5.如权利要...
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。